附录B （规范性附录） 杂质含量的测定方法

通过测定薄膜试 眼可见的杂质的多少

莫压机（应符合GB/T9352一2008中4.1规定的设备要求），压塑薄膜参数如下： 长度、宽度均为10.0cm±0.1cm； 厚度为0.1mm~0.3mm。

B.2.2肉眼检测装备

按GB/T9352和GB/T1845.2规定方法和 成型为B2，1中规定参数的薄膜 并裁成边长为（10.0cm土0.1cm）×（10.0cm土0.1cm）的正方形薄膜试样 用放大镜和玻璃测量尺（B.2.2）观察正方形薄膜试样，对正方形薄膜试样中粒径≥Φ，mm或 plmm≤粒径≤Φ2mm(2mm>Φ1mm≥0.1mm，精确到0.1mm）范围内的杂质数量进行统计。 每片薄膜试样应分别由两名人员进行杂质数量的统计，计数结果取平均值，结果保留至整数位（四 舍五人）。且两次计数结果的相对偏差应≤10%。 注：本方法可通过测量样品中杂质的尺寸级别，协助判断样品在熔融加工过程中经过的过滤网目数

按GB/T9352和GB/T1845.2规定方法利 型为B21中规定参数的薄膜 并裁成边长为（10.0cm0.1cm）X×（10.0cm0.1cm）的正方形薄膜试样 用放大镜和玻璃测量尺（B.2.2）观察正方形薄膜试样，对正方形薄膜试样中粒径≥Φmm或 6.mm≤粒径≤2mm(2mm>Φ，mm≥0.1mm，精确到0.1mm）范围内的杂质数量进行统计。 每片薄膜试样应分别由两名人员进行杂质数量的统计，计数结果取平均值，结果保留至整数位（四 舍五人）。且两次计数结果的相对偏差应≤10%。 注：本方法可通过测量样品中杂质的尺寸级别，协助判断样品在熔融加工过程中经过的过滤网目数

样品中杂质含量，以N（Φ1mm）或N（Φ，mm~Φ2mm）表示，单位为个/100cm； 其中： N（mm）——样品中粒径≥Φmm的杂质含量，个/100cm； N(pmm~Φ2mm) 样品中Φlmm≤粒径≤Φ2mm的杂质含量，N（.mm~2mm）， 个/100cm2 测定结果至少取3片薄膜试样测定值的平均值，结果保留至整数位（四舍五人）

检测报告中应包括以下内容：

GB/T391992020

iso标准a) 注明采用本标准； b) 样品测定的信息； 根据B.4表示的结果； d) 任何可能影响结果的情况说明； e) 测试日期

a）注明采用本标准； b）样品测定的信息； c）根据B.4表示的结果； d）任何可能影响结果的情况说明； e）测试日期

GB/T 391992020