GB/T 17948.5-2016 旋转电机 绝缘结构功能性评定 成型绕组试验规程 热、电综合应力耐久性多因子评定

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  • 基准绝缘结构应在同一个试验室,采用相同的试验设备,采用与待评绝缘结构等同的试验规程进行 武验。应通过正常运行条件下的运行经验确定基准绝缘结构的性能。

    ,试验是周期性进行的,每个周期由老化、处理和诊

    评定标准老化分周期包括同时施加热应力和电应力。

    3.4.3处理和诊断分周期

    处理分周期包括机械和潮湿,处理分周期后酌情进行电压试验和其他诊断试验。当选择分周期使 用的参数值时,应以基准运行条件作为指导(见3.8),分周期按序进行,列于第6章。

    3.5加热方法和热应力水平的确定

    应在正常运行的典型速率下对样品进行加热,可以使用任何合适的加热方法,如: a)全部曝露于烘箱中; b)高电流的导体加热; c)使用主绝缘加热板。 方法c)是较好的,因为可以较好的控制试验长度内的样品温度和允许应力控制区域单独冷却(见 3.6),可能需要在高压老化期间去除气体(NO,和O.)

    在可行的情况下,热应力水平定义为槽部中心导体的平均温度。当不能精确估算此温度时,若导体 不是加热源则可采用槽部中段的主绝缘外表面温度 应采用相同的方法测量待评结构和基准结构的热应力水平。当采用烘箱加热时,烘箱的温度可提 共一个可接受的热应力值(但仅当通过3.5.3的规程验证其有效时)。 当采用电流加热法产生热应力时,如果采取预防措施使试样之间及其内部均保持偏差士5K的恒 定温度,则电阻测量获得的导体温度是一个可接受的热应力值

    3.5.3温度测量方法

    建议测量温度分两步进行: a)在仅施加热应力后达到均衡时; b)在另外施加电应力后达到均衡时。 记录两个温度值,以较高的温度值为热应力水平。 对于第二步温度测量,最安全的测量是在移除电应力后立即使用外推冷却曲线法或使用光纤传 蒸器。

    会出现局部高温(例如在应力梯度区域),这些温度可用红外探测器测量。若在这些点处系统地 失效,则对于应力梯度结构而言,所用的老化应力可能是太高了。可通过改善应力梯度结构来解决 问题。

    间,试验电压的有效值如表1所示。当应用在试品表面的传统应力梯度材料经受如表1所建议的高电 压和温度时,在试验长度末端位置应力梯度材料不能提供满意的电应力控制,会出现过热和火花。有必 要对试验线圈采用特殊应力梯度结构使失效只出现在主绝缘,如可以使用电容耦合应力梯度结构、增加 绝缘厚度和应力锥。有必要在应力梯度区域使用强制空冷,应采取补救措施以确保在整个试验期间提 供足够的电应力释放。 为了缩短试验持续时间,可使用高达10倍于工频的增高频率。然而,注意介质损耗不应使绝缘温 度升高太多以致影响结果。待评结构和基准结构应使用相同的频率。

    3.7老化分周期持续时间的确定

    化分周期是从开始施加老化因子至停止施加老化

    基准运行条件由绝缘结构设计的最严酷水平的所有老化因子 行条件。

    3.8.2基准老化因子

    假定热、电老化因子是最主要的老化因子,其值取决于绝缘结构的耐热等级和预期的最大额定 ,其值见5.2。

    3.8.3基准处理因子

    基准处理因子包括: a)最大机械应力,作用于试品模拟的绕组部分。例如,由于启动时瞬间电流引起的应力; h)运行中预期的最大曝露湿度。

    3.8.4基准诊断因子

    基准诊断因子以绝缘结构最大的额定电压(Un)为基础,可包括: a)主绝缘耐电压试验; b)匝间耐电压试验; c)非破坏性试验,如局部放电、介质损耗角。

    为运行期间绝缘的机械 配件(如中线圈边或线棒的固定方式或端部支撑结构)影响老化,应在 加以模拟。 线圈或线棒单独作为模型时,爬电距离和电压梯度(若有要求)应适合于试验期间所施的应力。 延伸至模型的整个槽部长度,环绕线圈截面一周。试验线棒或线圈应减少长度

    4.1.2试品匝数和股数的考虑

    当使用匝间脉冲电压诊断试验时,为了使匝间绝缘承受最高应力,线圈的匝数应为适合于绝缘结构 的最小值。 若需要在匝间施加工频电压,则最好以两根并行导体(双线)绕制线圈或线圈端部应切开。当使用 真空压力浸渍(VPI)线圈时,应在浸渍前将线圈端部导体切开

    了得到可靠的统计,在每个老化温度和电压下应有足够数量的试样进行老化试验。试样数量不 五个,IEC62539给出了详细说明。 若使用线棒或半线圈,至少需要五个线棒或半线圈。若使用完整线圈,至少需要五个完整线圈

    4.3初始质量保证试验

    制备试样的每个绝缘材料应测试以确定其满足技术要求,选择的质量试验应确保每个材料适 制造单个样品和试品装配工艺。每个试样在第一个老化分周期开始之前应承受质量试验,但质量 的选择应由制造商来确定。

    在选择老化分周期的电、热应力水平时,应注意这些分周期期间的老化机理与正常运行时没有什么 明显的不同,

    试验应力应与下述基准老化因子水平相关: a)Un——绝缘结构的最大额定电压; b)Tc—IEC60085中定义的耐热等级温度。 表1给出了应力水平选择导则

    表1应力水平选择导则

    5.3老化分周期的持续时间和数量

    每个组合应力的选择应使平均失效时间不少于20天。 250天。 每个分周期持续时间的选择应使一组试样在平均失效之前已通过大约10个分周期。因此,分周期 持续时间不应少于2天、多于30天。对于每个老化周期,选择增加时间可能是恰当的。

    .4完整多因子试验规程

    试验水平组合,应经过验证,例如应优先对比以前对不同的试验水平所用的热和电试验组合,

    如果绝缘结构有次要改变,允许进行单点试验,应采用下边的规程。 根据5.2选择一个适合的老化应力水平组合,同时施加两个老化应力。 应遵守第3章给出的总则,对于本规程,有必要在相同的试验室下采用相同的试验规程和试验设备 对基准结构和待评结构进行试验

    在每个老化分周期之后,每个试样应经受一系列处理和诊断试验,可包含下述部分或全部诊断试 验:如本章中描述的机械、潮湿、耐电压和其他诊断试验,按顺序进行。应在报告上写明采用的诊断试 验,如果去掉机械或者潮湿试验,应在报告上说明合理的解释。

    6.2.1一般机械试验

    施加的机应力 期的最高应力或应变一样。施加 机械应力的规程能随试品类型和 和不施加电压时进行。

    6.3. 1一般潮混试验

    每个试品应在绕组上产生可见凝露的环境中曝露至少48h。试品应放置在接近室温下,温度 为15℃~35℃。应记录实际试验温度。在此期间,试样不施加电压。 可由雾室或冷凝箱获得可见、连续的凝露。

    6.3.2浸水的潮湿试验

    本试验可适用于评定密封结构,包括连接件的完整试品浸入非蒸馏水中30min。 在浸水结束,试品仍浸在水中时,应按6.4规定的对试样施加电压。如果需要绝缘电阻测量可作为 附加试验以检查渗漏。 耐电压试验后,试品在重复老化分周期之前应进行于燥,最好干爆一个晚上

    若适合,可进行其他诊断试验。 这些诊断是在工频下对绝缘是非破坏性的测量,诊断试验应不能导致绝缘结构的老化绿色建筑标准规范范本,可以用来提 供试验终点,例如: a)局部放电起始电压; b)选择电压下的最大放电值; c)U下损耗角正切; d)tand,

    由以下任何一种情况均可确定试验终点: a)老化期间电击穿; b)潮湿试验后电击穿; c)6.5中的诊断因子值,其超过预期规定水平。 当分周期期间出现失效时,失效时间为在热和电应力下的累计老化时间。当在诊断试验时达到终 点准则,失效时间为最后两个老化分周期之间累计老化时间的中间值。

    对于每种选定的老化应力组合,应确定中值、对数平均值或其他特性失效时间,以及90%置信 应说明选用数据简化方法的理由。 结果可通过表明寿命对数与应力水平数目(如表1中1、2、3)的图示直观表示,而不适用回归曲经

    照明标准规范范本目与GB/T17948.7一2016中第5章有关的段落作

    在试验结束时,从待评和基准结构获得的失效数据确定鉴定结果。若待评结构的数据好于基准 的,则待评结构认为是合格的,即所用概率分布的90%置信区间高于基准结构的置信区间或在基 构的置信区间之内

    打印日期:2016年6月12日F009B

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