DLT 1933.4-2018 塑料光纤信息传输技术实施规范 第4部分：塑料光缆

光纤儿何尺寸要求包括包层直径、芯直径、包层不圆度。光缆尺寸要求包括紧套层直径、纤芯/紧 套层同心度。光纤及光缆的儿何尺寸要求应符合表3规定。

表3光纤及光缆几何尺寸

光缆的光学和传输性能应包括衰减、模式带宽、数值孔径和宏弯损耗。光学和传输性能要求应

DL/T1933.4—2018合表4规定。当采用A4a.2类多模光纤传输520nm波长的信号时，其传输特性见附录A。表4塑料光缆的光学和传输性能指标项目单位A4a.1A4a.2A4bA4cA4dA4e采用满注入时dB/hm≤40在波长650nm的衰减系数采用注入数值孔径NA=0.3时在波长650nm的衰减系数≤18≤18采用均衡模分布注入时在波长650nm的衰减系数dB/hm≤30≤18≤30一采用均衡模分布注入时在波长520nm的衰减系数*≤10一一在波长650nm的模式带宽b≥10一≥10一一采用注入数值孔径NA=0.3时MHz · hm≥40在波长650nm的模式带宽b≥100≥200数值孔径NA0.50±0.150.485±0.0450.50±0.150.30±0.050.25±0.07在波长650nm的宏弯损耗dB≤0.5衰减系数宜在100m长度上测量，在其他长度上测量的值，允许线性转换为100m长度的值。当用均衡模分布注入法测试A4a、A4b、A4c和A4d光纤的衰减时，扰模器及要求应符合附录B的规定。模式带宽宜在100m到400m长度上测量，其测量值允许线性转换为100m长度的值。5.6光缆的机械性能5.6.1机械性能项目单芯光缆和双芯扁平光缆的机械性能包括拉伸、压扁、冲击、反复弯曲、扭转和卷绕等项目，并应通过6.8规定的试验方法和试验条件来检验。多芯光缆的机械性能待定。5.6.2拉伸性能单芯光缆及双芯扁平光缆的拉伸性能应符合表5的要求。表5单芯光缆及双芯扁平光缆的拉伸性能指标项目单位A4a.1A4a.2A4bA4cA4dA4e单芯光缆4%伸长率时的拉伸力N≥70≥70≥45≥20≥70≥45双芯扁平光缆4%伸长率时的拉伸力N≥140≥140≥90≥40≥140≥905.6.3允许压扁力光缆允许压扁力要求如下：a）单芯光缆的允许压扁力不应小于7N/mm：b）双芯扁平光缆的允许压扁力不应小于14N/mm。5.6.4允许最小弯曲半径单芯光缆和双芯扁平光缆允许的最小弯曲半径为30mm。双芯扁平光缆的弯曲方向与扁平方向垂直。5

TZZB标准规范范本DL/T1933.42018

DL/T1933.42018

5.6.5紧套层剥离性

5.7.1环境性能项目

光缆环境性能试验项目应包括温度循环、干热、湿热和湿热试验后的机械性能，并应通过6.9规定 的试验条件和试验方法来检验

5.7.2光缆适用温度范围

光缆的适用温度范围分为2个级别，A级：一40℃～十85℃；B级：一20℃～十70℃。 度级别时应根据光缆实际使用环境选择。

5.7.3光缆温度循环、干热、湿热试验的附加衰减

盾环、于热、湿热试验的附加衰减应符合表6的

表6光缆温度循环、干热、湿热试验的附加衰减

5.7.4湿热试验后的机械性能

湿热试验后单芯光缆及双芯扁平光缆4%伸长率时的拉伸力变化值不超过土25%。

湿热试验后单芯光缆及双芯扁平光缆4%伸长率时的拉伸力变化值不超过土25%。

5.8阻燃光缆的燃烧性能

单根光缆应通过GB/T18380.22一2008燃烧试验，试验后上支架下缘和碳化部分起始点 离应大于50mm。

6.1光缆品性试验总则

缆的各项品性试验方法应按表7规定的试验方法进行验证。

表7光缆各项品性试验项目和试验方法

应在距光纤端不少于10mm处用且视检查其完整

光缆标志试验要求如下： a）试验方法：GB/T7424.2—2008中6.2方法2； b）试验条件：负载20N，循环次数不少于10次； c）合格判据：试验后，目视仍可辨认护套上的标志。

光缆长度宜用生产线上的计米器测量。其长度计量误差应是在适当长度上用钢皮尺沿光缆量得的 长度减去用计米数字确定的长度对前者的相对差。

光缆衰减测量要求如下！

L/T1933.42018 a）试验方法：GB/T15972.40—2008； b）试验条件：扰模器参数应符合附录A的规定； C）合格判据：光缆衰减应符合表4的规定。

光缆模式带宽测量要求如下： a）试验方法：GB/T15972.41—2008； b）试验条件：光源波长的标称值为640nm～660nm，FWHM谱宽不应超过5nm； C）合格判据：模式带宽应符合表4的规定。

6.7光缆宏弯损耗测量

光缆宏弯损耗测试要求如下： a）试验方法：GB/T15972.47—2008； b）试验条件如下： 1）弯曲半径：25mm； 2）弯曲数目：10个（每个弯曲为1/4圆周）； C）合格判据：宏弯损耗应符合表4的规定。

6.8光缆的机械性能试验

6.8.1机械性能测试条件

机械性能试验中光纤衰减变化需要监测时，宜采用GB/T15972.46一2008规定的传输功率监测法， 在试验期间，监测系统的稳定性引起的监测结果的不确定性应优于0.05dB。试验中光纤衰减变化量的 绝对值不超过0.05dB时，可判为衰减无明显变化。允许衰减有某数值的变化时，应理解为该数值已包 括不确定性在内。下列机械性能试验应在GB/T2421一1999规定的标准试验条件下实施，即应符合如 下规定： a）环境温度：15℃~35℃； b）相对湿度：25%~75%; c) 大气压力: 86 kPa~106 kPa

6.8.2.1设备要求

拉伸性能测量设备通常是 以恒定伸长速率平稳移动。为了防 止光纤在夹持点断裂，宜采用适当措施

6.8.2.2试样要求

受试试样在两夹持装置之间的长度应为100mm～200mm。试验时，如果试样在夹持点断裂，则试 验应视为无效，应重新进行另一次试验。受试试样的数量应足以进行统计分析，通常不少于3。

6.8.2.3试验程序

以拉伸速度100mm/min测得拉伸力一伸长率曲线，并记录4%伸长率下的拉伸力。紧套光缆拉伸

，先测试其衰减值，当拉伸伸长率达到4%时，即刻释放张力，张力释放1min后，再次测记 值。

6.8.2.4合格判据

光缆压扁试验要求如下： a）试验方法：GB/T7424.2—2008中方法E3。 b）试验条件如下： 1）负载：单芯光缆负载为7N/mm，双芯光缆负载为14N/mm； 2）持续时间：3min； 3）压力方向：双芯扁平光缆时，压力应作用在光缆的扁平面上。 c）合格判据：试验结束1min后，试验期间试样附加衰减值应不超过0.2dB

光缆冲击试验要求如下： a）试验方法：GB/T7424.2—2008中方法E4。 b）试验条件如下： 1）撞击面半径：12.5mm; 2）冲击能量：0.2N·m； 3）冲击次数：至少3次，每个冲击点1次，每个冲击点至少相隔500mm； 4）冲击位置：双芯扁平光缆时，将两根光缆分开，冲击力作用在一根光缆上。 c）合格判断：紧套层应无目视可见开裂，试验结束1min后，试样附加衰减值应不超过0.2dB。

6.8.5光缆反复弯曲

光缆反复弯曲试验要求如下： a）试验方法：GB/T7424.2—2008中方法E6。 b）试验条件如下： 1）弯曲半径：15mm； 2）负载：5N； 3）循环次数：1000次； 4）弯曲方向：双芯扁平光缆的弯曲方向与光缆扁平方向垂直。 c）合格判据：紧套层应无目视可见开裂，试验结束1min后，试样附加衰减值应不超过0.2dB。 如果紧套层在夹持点发生开裂，试验结果视为无效，应重新取样试验

单芯光缆扭转试验要求如下： a）试验方法：GB/T7424.2—2008方法E7。 b）试验条件如下： 1）轴向张力：20N； 2）受扭长度：250mm：

1933.4 2010 3）扭转角度：±180°； 4）扭转次数：20次。 C 合格判据：紧套层应无目视可见开裂，试验结束后试样附加衰减值应不超过0.2dB。如果在夹 持点套层发生开裂，试验结果视为无效，应重新取样试验，

光缆卷绕试验要求如下： a）试验方法：GB/T7424.2一2008方法E11A。 b）试验条件如下： 1）心轴直径：50mm； 2）密绕圈数：每次循环6圈； 3）循环次数：10次； 4）弯曲方向：双芯扁平光缆的弯曲方向与光缆扁平方向垂直。 c）合格判据：紧套层应无目视可见开裂，试验结束后试样附加衰减值应不超过0.2dB。如果在夹 持点套层发生开裂，试验结果视为无效，应重新取样试验

6.8.8紧套层剥离性

紧套层剥离试验要求如下： a）试验方法：YD/T1258.2一2009中附录F。 b）试验条件如下： 1）拉伸速率：100mm/min； 2）剥离长度：20mm。 c）合格判断：剥离力在5N～25N，且光纤包层没有明显损伤。

6.9光缆的环境性能试验

6.9.1环境性能测试条件

本条规定的各试验方法及其试验条件用于验证光缆的环境性能，其试验结果符合规定的合格判据 时，判为合格。 环境性能试验中光纤衰减变化的监测宜采用GB/T15972.46一2008规定的传输功率监测法。在试验 期间，监测系统的稳定性引起的监测结果的不确定性应优于0.05dB。试验中光纤衰减变化量的绝对值 在不确定性限值以内时，可判为衰减无明显变化。允许衰减有某数值的变化时，应理解为该数值已包 括不确定性在内。

6.9.2温度循环试验

温度循环试验要求如下： a）试验方法：GB/T7424.2一2008方法F1温度循环。 b）试验条件如下： 1）试样长度：应足以获得衰减测量所需的精度，宜不小于50m。 2）温度范围：A级高温十85℃，A级低温一40℃；B级高温十70℃，B段低温一20℃。 3）保温时间：宜不小于2h。 4）循环次数：2次。

5）衰减监测：试验前测定和记录光缆的初功率值， 试验中及试验后监测和记录功率的变化 C）合格判据：光缆的温度循环附加衰减应符合表6的规定

干热试验要求如下： a）试验方法：按GB/T15972.51—2008进行试验，光缆衰减测量按GB/T15972.40—2008执行。 b）试验条件要求如下： 1）试样长度：应足以获得衰减测量所需的精度，应不小于50m。 2）温度范围：A级温度+85℃，B级温度+70℃。 3）保温时间：30d。 C）合格判据：光缆试验结果应符合5.7.3的规定

湿热试验要求如下： a）试验方法：按GB/T15972.502008进行试验，光缆衰减测量按6.5进行测试。 b）试验条件如下： 1）试样长度：应足以获得衰减测量所需的精度，应不小于50m。 2）温度范围：A级温度+十75℃，B级温度十60℃。 3）保温时间：30d。 c）合格判据：光缴试验结果应符合5.7.3的规定

6.9.5湿热试验后的机械性能

湿热试验后的机械性能要求如下： a）试验方法：按6.8.2进行试验。 b）合格判据：塑料光缆拉伸性能应符合5.7.4的规定。

6.10阻燃光缆的燃烧试验

光缆产品检验分出厂检验（或交收检验）和型式检验（或例行检验）。检验项目和试验方法应 7和表8规定。

项目应符合表8的规定，它们是光缆产品交货时

1.2.2抽样方案和判定规

DL/T1933.4—2018

DL/T1933.42018

表8出厂检验项目及抽样比例

7.2.2.2被试样本如有不合格项目时，应重新抽取双倍数量的样本就不合格项目进行检验。如仍有不合 格时，则应对该批全部光缆的这一项目进行检验。 7.2.2.3任何样本在检验中有任一个项不合格，则该样本单位应判为不合格产品。在剔除不合格产品后 的该检验批产品判为合格产品。

7.2.3不合格样本单位的处理

不合格品如果有可能修复或去除缺陷部分后， 合交货长度要求时，可重新单独提交检验 检验时应和新的检验批分开，并做上标记。 重新检验项目应包括原不合格项目和其他有关项目。

型式检验是对产品质量进行全面考核，检验项目应包括表8所列全部项目，并且应在抽取的样本 单位经出厂检验合格后，再进行其他项目的检验

光缆产品在下列情况之一时应进行型式检验： a）光缆产品试制定型鉴定时： b）正式生产后，如结构、材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时； c）正常生产时，每一年应进行一次； d）停产半年以上，恢复生产时； e）出厂检验结果与上次型式试验有较大差异时。

一般情况下，每次检验应从检验批中随机抽取每种型式一个样本单位进行试验。当用户有要 抽样方案可另定。

首先应检验出厂检验包含的项目，如有不合格时，允许重新抽取新的样本单位检验。出厂检验 格的样本单位才可用于其他项目的检验。如果一个样本单位未能通过其他检验的任一项试验，

判定为不合格，但是允许重新抽取双倍样本单位就不合格项目进行试验，如果都能通过试验， 定为合格，如果仍有任一个不能通过试验，则应判定为不合格，

如果型式检验不合格，制造厂应根据不合格原因，对全部产品进行改正处理。在采取可接收的改 进措施以前，应停止产品鉴定或验收。在采取改进措施之后，应重新抽样进行型式检验，对新的样本 单位重做全部试验。

a）制造厂名称和产品商标； b）光缆标志； c) 光缆长度，单位：m； d）毛重，单位：kg; e) 制造年、月和（或）生产批号； f）表示缆盘正确滚动方向的箭头； g）保证贮运安全的其他标志。

a）制造厂名称和产品商标； b）光缆标志； c）光缆长度，单位：m； d）毛重，单位：kg; e）制造年、月和（或）生产批号； f）表示缆盘正确滚动方向的箭头； g）保证贮运安全的其他标志。

使用说明书中除应包括8.2规定内容之外，还应说明本部分规定光缆的安装和运行要求，其中应包括： a）光缆的允许拉伸力和压扁力； b）光缆的允许弯曲半径； C）光缆的允许运行温度和安装环境温度

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附录A （规范性附录） 工作波长在650nm以下的A4a.2类多模光纤光缆的附加要求

暖通空调施工组织设计A4a.2类光纤光缆的附加传输特性要求见表A.

适用于 A4a、A4b、A4c和A4d类光纤的扰模器

当用均衡模分布注入法测试A4a、A4b、A4c和A4d光纤光缆的衰减时，注入装置和注入要求应满 足GB/T15972.40一2008中A.1.4中的要求。测试应采用“8字形”扰模器（见图B.1)，扰模器上的光 纤应采用和被测光纤同类型的A4类紧套光纤，扰模器参数见表B.1。

天然气标准图B.1适用于A4类光纤的扰模器

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