DL/T 1884.1-2018 现场污秽度测量及评定 第1部分:一般原则
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现场污移度取样,一般分为以下三类: 第一类取样:绝缘子安装位置现场取样; 第二类取样:绝缘子拆至地面现场取样; 第三类取样:绝缘子运送至实验室取样。 现场污移度取样要求如下: a)绝缘子安装位置现场取样。取样时,应佩戴洁净的手套对绝缘子上、下表面分别取样,表面需 擦拭干净,擦拭时不要触及绝缘子金具部位;样品存放于密封袋中,做好标记。 b)绝缘子拆至地面现场取样。拆卸及放低绝缘子时,应佩戴洁净的手套,应尽量轻拿轻放、保持 绝缘子表面污移完整;取下后的绝缘子,应放置在事先铺有洁净帆布的平坦地面上。其他要求 与第一类取样要求相同。 C 绝缘子运送至实验室取样,应注意: 1)绝缘子从安装位置拆卸至地面的要求与第二类取样要求相同; 2)应事先在地面布置洁净的塑料膜,将取下的绝缘子串(或片)平稳轻放在塑料膜上,用塑 料膜将绝缘子进行密封包装,塑料膜大小应能满足绝缘子串(或片)整体包装要求; 3)运输过程中应尽量减少行车振动,绝缘子包装应采取防振措施,防止绝缘子伞裙受损。绝 缘子在实验室的取样要求与第一类取样要求相同。
a)首次取样应从积污时间满3年后进行,逐年取样。第3年取样位置为上数第1、5、9片,第4 年为上数第2、6、8片,第5年为上数第3、4、7片,测量值取3片绝缘子的平均值 b)每次取样的3片绝缘子上、下表面应擦洗干净,取样及擦洗时,不应破坏其他片绝缘子伞裙的 积污状态。
a)带电绝缘子取样位置为均压环范围外的上、中、下3个位置牛奶标准,测量值取3个位置绝缘子(或伞 裙)的平均值。 6) 监测点所用绝缘子在积污前应擦洗干净,可在完成取样后立即将整支(串)绝缘子擦洗干净以 供下一个积污期使用
a)除上述污移度监测点外,必要时可利用设备停电检修、更换或运行抽检等机会,对运行绝统 串开展污移度测量工作,积累运行经验。 b)对已发生污闪或发现严重爬电现象的绝缘子,应进行污移度测量,并记录运行积污时间。
DL/T18842018
现场污移度(SPS)测量可采用如下两种方式: a)非带电串测量。定期对污移度监测点的非带电串(宜为参照绝缘子)ESDD/NSDD取样测量。 b)带电串测量。定期对污度监测点的带电串(参照绝缘子或某种型式绝缘子)或其他非监测点 的运行绝缘子ESDD/NSDD取样测量
a)ESDD/NSDD积污周期为3年~5年,现场污度评定采用3年~5年最大测量值。具体根据 当地气候环境条件确定。 b)应分别测量绝缘子上、下表面的污移度,取其平均值作为ESDD/NSDD测量值;测量多片绝 缘子(或伞裙)时,取多片绝缘子的平均值作为ESDD/NSDD测量值。一般绝缘子表面积测 量与计算方法见附录B,典型绝缘子结构尺寸及表面积参见附录C。 c)现场污度测量除ESDD/NSDD外,下述情况下宜进行污移成分测定,以考虑某些特殊性质 污移的影响: 省级电网或区域电网发生大范围污闪事故: 厂站或线路绝缘子发生异常或特殊的放电、污闪事件,如按规定进行外绝缘配置仍然发生 绝缘子异常放电或闪络; 特殊污源点,特殊(或陌生)微地形区、微气象区; 一新建重要输变电工程,外绝缘材料或设计有特殊要求的。 d)复合绝缘子现场污移度的测量方法正在研究中
7.3.1ESDD/NSDD测量
污移ESDD和NSDD的实验室测量方法见附录I
污移成分测定内容一般包括正离子(如Na*、Ca*+、K+、Mg+、Fe3+、AI3+、Zn*+、NH4) (如 CI、SO.、NO、F、CO,或HCO,)。
7.3.3人工污移试验
交、直流绝缘子人工污移试验方法分别按GB/T4585、GB/T22707的规
8不同积污系数的测量方法
a)在线路或厂站(变电站、换流站、发电厂升压站等)设立积污系数测量绝缘子,通过污移 量和计算,确定带电积污系数、形状积污系数、串形积污系数和材质积污系数4种积污系 b)积污系数测量点应按第5章规定进行设置。 c)用于每种积污系数测量的同一组绝缘子应设置在同一地点。
d)积污系数测量用盘形悬式绝缘子可采用9片串长。 e)对于直流系统,积污系数测量点宜选择正极性回路。 各地地理气候环境存在差异,积污系数的测量结果及选取不一定相同,需要不断积累经验。 部分提供的积污系数经验值仅供参考。
a)测量带电参照盘形悬式绝缘子在一定积污期(3年~5年)的SPS值。 b)测量非带电参照盘形悬式绝缘子在相同积污期的SPS值。 c)按式(1)计算带电积污系数Ki: K带电参照盘形悬式绝缘子SPS/非带电参照盘形悬式绝缘子SPS
a)绝缘子型式。带电绝缘子、非带电绝缘子均为 式绝缘子。 b)取样位置。带电绝缘子、非带电绝缘子取样均参照6.3执行。 注:测量数据不足时,交流带电积污系数可取1.1~1.5,直交流积污比可取1.2~2.8。
a)绝缘子型式。带电绝缘子、非带电绝缘子均为9片串 式绝缘子。 b)取样位置。带电绝缘子、非带电绝缘子取样均参照6.3执行。 注:测量数据不足时,交流带电积污系数可取1.1~1.5,直交流积污比可取1.2~2.8
a)测量参照盘形悬式绝缘子在一定积污期(3年~5年)的SPS值。 b)测量某种型式绝缘子(非参照绝缘子)在相同积污期的SPS值。 c)按式(2)计算形状积污系数K2: K,=参照盘形悬式绝缘子SPS/某种型式绝缘子SPS
a)线路测量点。 1)绝缘子型式:参照盘形悬式绝缘子可采用非带电的9片串长绝缘子,某种型式绝缘子可采 用非带电的9片串长与参照绝缘子不同型式、相同悬挂位置绝缘子。 2)取样位置:参照绝缘子、某种型式绝缘子取样均参照6.3.1执行。 b)厂站测量点。 1)绝缘子型式:参照盘形悬式绝缘子为非带电的9片串长绝缘子,某种型式绝缘子为非带电 的与参照绝缘子不同型式、相同布设位置绝缘子。 2)取样位置:参照绝缘子取样参照6.3.1执行,某种型式绝缘子取样参照6.3.2执行。 注:一般情况下绝缘子积污,直径大的少于直径小的,外伞形(草帽形、双伞形和三伞形)少于普通型,普通型 少于深棱型。
a)线路测量点。 1)绝缘子型式:参照盘形悬式绝缘子可采用非带电的9片串长绝缘子,某种型式绝缘子可采 用非带电的9片串长与参照绝缘子不同型式、相同悬挂位置绝缘子。 2)取样位置:参照绝缘子、某种型式绝缘子取样均参照6.3.1执行。 b)厂站测量点。 1)绝缘子型式:参照盘形悬式绝缘子为非带电的9片串长绝缘子,某种型式绝缘子为非带电 的与参照绝缘子不同型式、相同布设位置绝缘子。 2)取样位置:参照绝缘子取样参照6.3.1执行,某种型式绝缘子取样参照6.3.2执行。 注:一般情况下绝缘子积污,直径大的少于直径小的,外伞形(草帽形、双伞形和三伞形)少于普通型,普通型 少于深棱型。
参照盘形悬式绝缘子悬垂串在一定积污期(3年
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b)测量参照盘形悬式绝缘子耐张串或其他串形在相同积污期的SPS值。 c)按式(3)计算串形积污系数K3: K:=参照盘形悬式绝缘子悬垂串SPS/参照盘形悬式绝缘子其他串形SPS
a)绝缘子型式。 1)可在线路或厂站相同悬挂位置设置参照绝缘子悬垂串、参照绝缘子耐张串或其他串形 2)上述绝缘子均可采用9片串长(单串或多串)的非带电绝缘子。 b)取样位置。 1)参照绝缘子悬垂串、参照绝缘子耐张串或其他串形取样均参照6.3.1执行。 2)多串绝缘子并联的每年可取其中一串进行测量。 注:一般情况下,绝缘子悬垂串积污最严重,耐张串积污最少,V串、八字串或其他串形积污介于二者之间。
a)测量参照盘形悬式绝缘子在一定积污期(3年5年)的SPS值。 b)测量参照棒形复合绝缘子在相同积污期的SPS值。 c)按式(4)计算材质积污系数K4: K三参照盘形悬式绝缘子SPS/参照棒形复合绝缘子SPS
a)绝缘子型式。 1)可在线路或厂站相同悬挂位置设置参照盘形悬式绝缘子、参照形复合绝缘子。 2)参照盘形悬式绝缘子为9片串长的非带电绝缘子,参照棒形复合绝缘子为1支大小伞交替 的非带电绝缘子。 b)取样位置。 1)参照盘形悬式绝缘子取样参照6.3.1执行。 2)参照棒形复合绝缘子取样位置为上、中、下部各1组伞裙(靠近绝缘子高压端、低压端的 第一组伞裙除外),共3组伞裙。测量值取3组伞裙的平均值,
9.1现场污移度测量值的校正
a)现场污移度(SPS)测量结果是现场污移度评定和电力系统污区分布图编制的主要依据,应采 用带电的参照盘形悬式绝缘子悬垂串SPS测量值;非参照盘形悬式绝缘子的测量结果应根据 带电积污系数、形状积污系数、串形积污系数和材质积污系数4种积污系数进行换算。 b)SPS测量采用非带电串、非参照盘形悬式绝缘子的,应通过带电积污系数、形状积污系数校正 到带电串和参照盘形悬式绝缘子的SPS值。 c)SPS测量采用非悬垂串、参照棒形复合绝缘子的,应通过串形积污系数、材质积污系数校正到 悬垂串和盘形悬式绝缘子的SPS值。
d)设计单位根据污区分布图和现场污移度 变电设备外绝缘选择和配置,必要时利月
9.1.2非带电串的积污校正
若测量绝缘子为非带电参照盘形悬式绝缘子,则按式(5)将SPS测量值校正到带电参照盘形悬式 绝缘子: 带电参照盘形悬式绝缘子SPS=非带电参照盘形悬式绝缘子SPSXK (5) 式中: K一交流(或直流)带电积污系数。
9.1.3非参照绝缘子的积污校正
若测量绝缘子为某种型式绝缘子(非参照盘形悬式绝缘子),则按式(6)将SPS测量位 照盘形悬式绝缘子: 参照盘形悬式绝缘子SPS=某种型式绝缘子SPSXK2 式中: K一形状和运系数
式中: K形状积污系数。
9.1.4非悬垂串的积污校正
若测量参照盘形悬式绝缘子非悬垂串(耐张串或其他串形),则按式(7)将SPS测量值校 照盘形悬式绝缘子悬垂串: 参照盘形悬式绝缘子悬垂串SPS=参照盘形悬式绝缘子其他串形SPSXK 式中: K串形积污系数。
9.1.5复合绝缘子的积污校正
若测量绝缘子为参照棒形复合绝缘子,则按式(8)将SPS测量值校正到参照盘形悬式绝缘子: 参照盘形悬式绝缘子SPS=参照棒形复合绝缘子SPSXK4 式中: K一材质积污系数。
9.2现场污移度评定原则
a)现场污移度等级划分主要依据以下三因素,其置信度依次递减: 1)现场污移度(SPS)测量。本部分规定了现场污移度测量及校正方法。 2)运行经验。 3)典型环境污湿特征。本部分附录E明确了基于典型环境污湿特征的现场污移度评估方法。 当上述三者不一致时,按运行经验确定现场污移度等级。 b)现场污移度ESDD/NSDD采用3年~5年连续最大测量值,即连续积污3年、4年、5年后每 年测量现场污移度,取3年的最大测量值。 c)现场污移度测量值应统一校正到带电的参照盘形悬式绝缘子ESDD/NSDD值。
9.3交流系统现场污移度评定
9.3.1现场污度(SPS)等级
交流系统现场污移度分5个污移等级,表征污移度从很轻、轻、中等、重到很重: 一很轻
9.3.2A类现场污移度评定
等值盐密(mg/cm)
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9.3.3B类现场污移度评定
B类污移现场污移度的测量及评定参照A类污
9.4直流系统现场污移度评定
9.4.1现场污移度(SPS)等级
直流系统现场污度分4个污移等级,表征污移度从很轻、轻、中等到重: 一很轻; C中; D一重。 注1:该字母表示的污移等级与交流系统污移等级不一一对应。 注2:选择绝缘子时,需考虑现场污移度的具体数值
9.4.2现场污移度评定
图3直流参照盘形悬式绝缘子ESDD/NSDD和
现场污秽度取样绝缘子上、下表面的界定
在自然积污过程中,附着在绝缘子上、下表面的污移物不均匀,这会影响到绝缘子污闪特性。因 比, 现场污移度取样时,为了调查绝缘子污移附着情况,需要将绝缘子上、下表面分开取样。 本附录对GB/T26218.1给出的典型外形绝缘子上、下表面进行界定: a)对于双层伞、三层伞,最上层伞的上表面界定为上表面,最上层伞的下表面和第二层(及第三 层)伞的上下表面均属于下表面。 b)对于具有交替伞的复合绝缘子,第X组大伞的上表面界定为上表面,大伞的下表面和中伞、 小伞及护套部分均属于下表面。 c)对于具有标准等径伞的支柱绝缘子/套管,第X组伞裙的上表面界定为上表面,第X组伞裙的 下表面和该组伞裙的裙套部分均属于下表面。 d)对于具有交替大小伞的支柱绝缘子/套管,第X组伞裙的上表面界定为上表面,第X组伞裙的 下表面、小伞及该组伞裙的裙套部分均属于下表面。 e)对于上下表面的分界点,基于雨水能否直接冲洗的原则,选择最大伞径处,即图A.1i)的A 点(而非B点)。 图A.2规定了参照棒形复合绝缘子的伞形结构和尺寸参数
h)支柱绝缘子/套管(大小伞)
图A.1绝缘子污取样上、下表面界定
)上下表面的分界点示意图
图A.1绝缘子污移取样上、下表面界定(续)
图A.2参照棒形复合绝缘子(单位:mm)
绝缘子表面积的测量与计算方法
等值附盐密度(盐密)的测量、计算需掌握所测量绝缘子的表面积,厂家提供了一些典型型号维 缘子的表面积,但仍有一些绝缘子未提供该项参数,这就要操作人员自已进行测量。下面介绍一种表 面积的测量、计算方法,以备使用。 绝缘子表面积S由上表面积Su、下表面积Sp及棱柱表面积S组成,即:
如图B.1所示,绝缘子一般为旋转体,即由一条曲线绕轴线旋转而成,该曲线即是泄漏距离(爬 距)。将这条曲线分为若干等份,其中上、下表面部分每一小段曲线围绕绝缘子轴线形成的旋转体近似 构成一个圆台,棱柱部分曲线围绕绝缘子轴线形成的旋转体近似构成一个圆柱。计算出上表面、下表 面及棱柱侧面表面积之和即可得出整个绝缘子的表面积
B.1绝缘子上表面积(S.)计算
图B.1绝缘子示意图
将绝缘子的上表面划分为许多小圆环, 则上表面积由许多小圆环组成的圆台侧面构成,如图B.2 新示,要测量绝缘子的上表面积,可采用一系列的圆台侧面积去逼近旋转体表面积。
对于每一个小圆台的侧表面积计算公式为 Sul=元 式中: Sul—第一个小圆台的侧表面积; d、d—第一个小圆台的上、下底直径
对于每一个小圆台的侧表面积计算公式为: Sul=元(d;+d2)×△L,/2 式中: Sul一第一个小圆台的侧表面积; d、d第一个小圆台的上、下底直径:
个小圆台的侧表面积计算公式为: Sm=元(d+d) XAL
图B.2绝缘子上表面积计算示意图
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AL——第一个小圆台的侧面高度。 则整个绝缘子的上表面积为:
.=S..+S+..+S.++S.. 2
一将圆台上表面划分为n个小圆台; Su第i个小圆台的侧表面积; d、d+1一一分别为第i个小圆台的上、下底直径; △L一第i个小圆台的侧面高度。 在测量过程中,在绝缘子表面曲率较大(曲面变化剧烈)的部位,可以适当增加插值(即减小 ),则绝缘子表面积的计算结果的精度越高,计算值越接近实际值。 如果测量绝缘子的轮廓很平滑,可采用在固定的弧长处测量对应的圆台直径值来计算上表面积。 若将其沿泄漏距离方向等分成n份,形成n个圆台,测出各圆台的上下面直径di,d2,,dn+1,即可 计算得到总表面积:
如果将绝缘子的泄漏距离按1cm等分,则总表面积(单位为cm)按下式计算:
B.2绝缘子下表面积(S.)计算
计算方法与上表面积计算方法相同
B.3绝缘子棱柱侧面积(S)计算
分,则总表面积(单位为cm)按下式计算: (d+d+d. S.=元
将下表面的棱近似为一个一个的圆柱体, 棱柱侧面积按照圆柱侧面积计算,如图B.3所示,每个 棱柱有内外两个侧表面,对于第一个棱柱的内外两个侧面,记为两个圆柱,直径分别为DI、D2。
第一个圆柱的内侧表面积为:
式中: Si——第一个圆柱侧表面积; Di第一个圆柱直径:
图B.3绝缘子棱柱侧表面积计算示意图
hi—第一个圆柱高度。 整个绝缘子的棱柱侧表面积之和为:
S:——第i个圆柱侧表面积; D:——第i个圆柱直径; hi 第i个圆柱高度。
测量工具包括卡尺、卡钳、直尺、坐标纸。 对于上表面积的计算,测量步骤为: a)将坐标纸剪成长条状,并用记号笔在上面每隔1cm依次标上1、2、3、。 b)将坐标纸贴在绝缘子径向方向。 c)用卡尺依次根据坐标纸上标识的坐标值,分别测量直径值,做好记录,记下d,d2,",d+ 的值。 d)在曲面变化剧烈的位置可以适当增加插值,即在两坐标值之间的位置再测量一组直径值,此时 △L;将不再是1cm,记录下实际值。 e)按照上述计算公式进行计算
测量工具包括卡尺、卡钳、直尺、坐标纸。 对于上表面积的计算,测量步骤为: a)将坐标纸剪成长条状,并用记号笔在上面每隔1cm依次标上1、2、3、。 b)将坐标纸贴在绝缘子径向方向。 c)用卡尺依次根据坐标纸上标识的坐标值,分别测量直径值,做好记录,记下d,d2,",ds+1 的值。 d) 在曲面变化剧烈的位置可以适当增加插值,即在两坐标值之间的位置再测量一组直径值,此时 △L;将不再是1cm,记录下实际值。 e 按照上述计算公式进行计算。
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附录C (资料性附录) 典型绝缘子结构尺寸及表面积
交流系统典型悬式绝缘子结构尺寸及表面积见
C.1交流系统典型悬式绝缘子结构尺寸及表面积见表C.1。
附录C (资料性附录) 典型绝缘子结构尺寸及表面积
C.1交流系统典型悬式绝缘子结构尺寸及表面
塔吊标准规范范本DL/T1884.12018
C.2直流系统典型悬式绝缘子结构尺寸及表面积见表C.2。
直流系统典型悬式绝缘子结构尺寸及表面积
D.1测量污移度必需的设备
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附录D (规范性附录) ESDD和NSDD的测量方法
测量等值附盐密度和灰密的设备包括:蒸馏水或去离子水,电导率仪,量筒,温度探头,医用手 套,滤纸,胶带,漏斗,带标签的贮存污水容器,干燥器或干燥箱,洗涤容器,天平,脱脂棉、届 子、海绵或取样布,离心机。
D.2ESDD和NSDD测量污移收集方法
为避免污移损失,拆卸和搬运绝缘子时不应接触绝缘子的绝缘表面;表面污移取样之前,容器、 等应清洗干净,确保无任何污移;取样时,尽可能带清洁的医用手套。 污移取样采用擦拭法,其程序如下: a)单片普通型盘形绝缘子所用蒸馏水水量为300mL。其他绝缘子与普通盘形绝缘子表面积不同 时,可依其表面积按比例适当增减用水量。如面积增大时,建议用水量选择:≤1500cm用水 量为300mL,>1500cm~2000cm用水量为400mL,>2000cm~2500cm用水量为500mL, >2500cm~3000cm用水量为600mL,>3000cm~4000cm用水量为600mL。上下表面分开 擦洗污物时,用水量按表面积比例适当分配。 b)将定量蒸馏水倒入有标签的容器中,并将海绵浸入水中(也可用刷子或脱脂棉),浸有海绵的 水的电导率应小于10μS/cm。 c)分别从绝缘子的上下表面用海绵擦洗下污移物 钢管标准,如图D.1所示。 d)带有污移物的海绵应放回容器,通过摇摆和挤压使污移物溶于水中。 e)重复擦洗,直至绝缘子表面无残余污移物。几经擦洗后仍有残余污移物,应用刮具将其刮下, 并放入污液中。 f 应注意不要损失擦洗用水,即污移物取样前后,水量无大的变化。
....- 评定标准
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