DB44/T1905—2016

7.1标签芯片物理层测试

7.1.1标签芯片识别门限功率

城市轨道标准规范范本7. 1. 1. 1测试目的

确定标签芯片能够被识别的门限功率。

7. 1. 1. 2 测试方法

图2阅读器芯片测试平台

7.1. 1. 3测试报告

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应给出在正常和极端测试条件下标签芯片识别的门限功率，以及该值是否符合相关标准的规定 2标签芯片的可读门限功率

7. 1. 2. 1测试目的

确定允许读取标签芯片数据的门限功率，

7.1. 2. 2测试方法

7.1.2. 3测试报告

应给出在正常和极端测试条件下标签芯片的可读门限功率，以及该值是否符合相关标准的规定

7.1.3标签芯片的可写门限功率

7. 1. 3. 1测试目的

确定允许向标签芯片写入数据的门限功率。

7.1.3.2测试方法

7. 1. 3. 3测试报告

应给出在正常和极端测试条件下标签芯片的可写门限功率，以及该值是否符合相关标准规定。

7.1.4标签芯片最大工作功率

7. 1. 4. 1测试目的

确定标签芯片能正常工作的最大功率。

7.1.4. 2测试方法

7.1. 4. 3测试报告

应给出在正常和极端测试条件下标签芯片的最大工作功率，以及该值是否符合相关标准规定。 7.2标签芯片协议层功能一致性测试

7.2标签芯片协议层功能一致性

7. 2. 1标签芯片的解调和响应时间

7. 2. 1. 1测试目的

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验证标签芯片能否正确的解调阅读器信号，以及接收到阅读器发送的信号之后的最小响应时间

7. 2. 1. 2测试方法

测试中阅读器应发送相关标准所规定的强制性命令，待测标签芯片接受到来自阅读器的命令后应 及时作出正确的响应，阅读器接受到标签芯片的响应之后，得到标签芯片的最小响应时间，并发出新 一轮的命令。通过观测标签芯片是否对阅读器发送命令作出正确的响应，来判断测试成功与否。

7.2.1.3测试报告

应给出在正常和极端测试条件下标签芯片的解调能力和响应时间，以及该值是否符合相关标准的 规定。

7.2.2标签的反向散射

7. 2. 2. 1测试目的

7. 2. 2. 2测试方法

阅读器在最小功率的情况下发送相关标准所规定的强制性命令，保证标签芯片的响应能 析仪识别。用数字示波器记录标签芯片产生的波形，用频谱分析仪记录标签芯片响应的频谱

7.2. 2.3测试报告

应给出在正常和极端测试条件下标签芯片反向散射强度，以及该值是否符合相关标准规定。

7.2.3发送接收转换时间

7. 2.3. 1测试目的

7.2.3.2测试方法

阅读器应在规定的载波频率下以最大功率发送相关标准所规定的强制性命令。采用示波器测试标 签芯片和阅读器之间发送接收的转换时间，

7.2.3.3测试报告

应给出在正常和极端测试条件下标签芯片和阅读器之间发送接收的转换时间，以及该值是否符合 相关标准规定。

7.2.4标签芯片的比特率

7. 2. 4. 1测试目的

该测试的目的是为了根据相关标准中链路速率的规定，验证标签芯片的比特率，也即反向链路 居率。

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7.2.4.2测试方法

阅读器应在规定的载波频率下，以最大功率发送相关标准所规定的强制性命令。采用示波器记 签芯片的响应波形，并根据相关标准的规定计算出其比特率。

7.2.4.3测试报告

应给出在正常和极端测试条件下标签芯片比特率的精确度，以及该值是否符合相关标准 阅读器热片测试

8.1阅读器芯片发射机主要性能参数测试

8.1.1频率偏差测试

8.1.1.1测试且的

的目的是为了确认待测阅读器芯片的频率偏差

8. 1.1. 2测试方法

使阅读器芯片发送未经调制的连续载波信号，通过连接频率计测试所发信号的频率。需测试 圭规定下的正常和极端工作条件下频率偏差值

8.1.1.3测试报告

8.1.2发射功率测试

8. 1. 2. 1测试目的

该测试是为了确定发射机的发射功率。

该测试是为了确定发射机的发射功率。

8. 1. 2. 2测试方法

具体测试方法如下： a 控制发射机工作在一个正常的工作信道上，通过同轴电缆将其502的射频输出端口与频谱分 析仪相连接，通过频谱分析仪测量出其发射功率Pr; b 在相关标准规定的正常和极端工作条件下分别测量其发射功率

8. 1. 2. 3测试报告

应给出在正常和极端测试条 人及该值是否符合相关标准规定。

8.1.3发射机频谱掩板

8. 1. 3. 1测试目的

式发射机频谱掩板，判定其是否符合相关标准规

8.1.3.2测试方法

具体测试方法如下： a）阅读器芯片的RF输出通过50Q的输出端口与衰减器及频谱分析仪连接，测试时应使阅

芯片的RF输出通过502的输出端口与衰减器及频谱分析仪连接，测试时应使阅读器

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8.1.3. 3测试报告

8. 1. 4 杂散发射

8.1.4.1测试目的

测试发射机杂散发射功率及频率，衡量发射机抑制杂散发射的能力

8.1.4.2测试方法

具体测试方法如下： a）将阅读器502射频输出端口与频谱分析仪相连。设置阅读器产生一系列脉冲信号： b 根据相关标准规定将频谱分析仪调试在合适的频率范围内； C） 根据相关标准规定对杂散域中的每个频率分量进行测试，记录测出的功率即为杂散功率； d）设置阅读器为待机询问状态，并重复测试。

8.1.4. 3测试报告

8. 2. 1 同信道抑制

8. 2. 1. 1测试目的

验证接收机能否在预定的信道上正常工作

验证接收机能否在预定的信道上正常工作

8. 2. 1. 2测试方法

具体测试方法如下： a 设置阅读器芯片工作在相关标准规定的一个信道上，连接阅读器芯片和功分器。功分器一路 输出连接标签，另一路输出连接信号发生仪； D 设置信号发生仪发送和标签反馈信号频率相同的干扰信号，初始信号功率设置为零； 通过频谱分析仪测量干扰信号的功率，观测阅读器芯片是否能够对标签进行识别 d 逐渐增大信号发生仪发送信号的功率，直到阅读器芯片无法对标签进行识别，此时信号发生 仪的功率即为阅读器芯片接收机抑制于扰的最大能力。

8. 2.1.3测试报告

应给出阅读器芯片接收机抑制同信道信号于扰的能力，以及该值是否符合相关标准规定

8.2.2相邻信道选择

8. 2. 2. 1测试目的

衡量接收机在接收标签反馈信号的同时抑制来自其他设备的相邻信道信号于扰的能力。

8.2.2.2测试方法

具体测试方法如下： a） 设置阅读器芯片正常工作在相关标准规定的一个信道，连接阅读器芯片和功分器。功分器 路输出连接标签，另一路输出连接信号发生仪： 6 设置信号发生仪发送阅读器芯片工作信道的相邻信道上频率值的干扰信号（具体频率值参照 相关标准），初始信号功率设置为零； 通过频谱分析仪测量干扰信号的功率，观测阅读器芯片是否能够对标签进行识别； 逐渐增大信号发生仪发送信号的功率，直到阅读器芯片无法对标签进行识别，此时信号发生 仪的功率即为接收机抑制干扰的最大能力

8. 2. 2. 3测试报告

机抑制相邻信道信号于扰的能力，以及该值是

8.2.3.1测试目的

8. 2. 3. 2测试方法

具体测试方法如下： a) 设置阅读器芯片正常工作在相关标准规定的一个信道，连接阅读器芯片和功分器。功分器 路输出连接标签，另一路输出连接信号发生仪； b 设置信号发生仪发送和阅读器芯片工作信道所在频率不同的干扰信号（具体频率值参照相关 标准规定），初始信号功率设置为零； C 通过频谱分析仪测量干扰信号的功率，观测阅读器芯片是否能够对标签进行识别； 逐渐增大信号发生仪发送信号的功率，直到阅读器芯片无法对标签进行识别，此时信号发生 仪的功率即为接收机抑制干扰的最大能力。

8. 2. 3. 3测试报告

应给出接收机抑制非相邻信道信号 ，以及该值是否符合相关标准规定

8. 2. 4 杂散发射

8. 2.4.1测试目的

测试接收机杂散发射功率及频率，衡量接收机抑制杂散发射的能力

8.2.4.2测试方法

DB44/T19052016

具体测试方法如下： a）将阅读器芯片的50Q射频端口与频谱分析仪相连； b）打开阅读器芯片让其正常工作，调节频谱分析仪在杂散域内的不同频率上（具体参看相关标 准）分别测量其输出功率； c）记录测得的输出功率即为杂散功率。

8. 2. 4.3测试报告

应给出所测杂散域内多组频率值以及对应的杂散功率，判定测试结果是否符合相关标准

应给出所测杂散域内多组频率值以及对应的杂散功率，判定测试结果是否符合相关标准规定。 3.3阅读器芯片协议层功能一致性测试

8.3阅读器芯片协议层功能一致性测试

8. 3. 1. 1测试目的

验证阅读器芯片是否为标签芯片提供了合理的调制波形

8. 3. 1. 2测试方法

阅读器芯片应在规定的载波频率下以最大功率发送相关标准所规定的强制性命令。用示波器记录 阅读器芯片提供的波形，并测试相关参数：T、T和M

8.3. 1.3测试报告

应给出所测阅读器芯片提供的调制波形及其各个参数水利标准，以及

8.3.2阅读器芯片解调功能和响应时间测试

8. 3. 2. 1测试目的

验证阅读器芯片能否正确地从标签返回信号中解调出信号，以及接收标签所发送的数据所需要的 最小响应时间，

8.3.2.2测试方法

服务质量标准8.3. 2. 3测试报告

读器芯片的解调能力和最小响应时间，以及该值