JT/T 1356.42020

表3DAX 111zrf测试要求

锻件标准表5DAX112200测试要求

5.1. 3 DAX 113 200

表6DAX113200测试要求

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表11DAA124Z00测试要求

DAA125200测试要求见表12。

表12DAA125Z00测试要求

表12DAA125200测试要求

6.2.7 DAA 126 200

DAA126200测试要求见表13

6.2.8 DAA 127 z00

DAA127200测试要求见表14.

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表14DAA127200测试要求

DAA128200测试要求见表15

表15DAA 128 Z00测试要求

6.5.5DAB 124 z00

DAB124200测试要求见表30

表30DAB124200测试要求

6.5.6DAB 125 200

DAB125200测试要求见表31

表31DAB125200测试要求

6.5.7 DAB 126 200

表32DAB126Z00测试要求

6.5.8DAB 127 200

DAB127200测试要求见表33

表33DAB127200测试要求

6.6TypeB通信PICC到PCD的信号接口测试项目

6.6.1 DAB 131 zrf

表34DAB131zrf 测试要求

6.6.2 DAB 132 zrf

132zrf测试要求见表35

表35DAB132Zrf测试要求

6.6.3DAB 133 zrf

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表39DAB142200测试要求

AB142200测试要

两个连续PCD到PICC发送的字符之间的时间应为EGTPCD。EGTPCD时间适用范围见附录A 表A.4：系列和顿。 测试结果 a）PCD应编码系列开始(SoS）如下： 1)cD.5. 低载波； 2）LrcD.s.2高载波(不使用调制）。见图12。

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表41DAB145200测试要求

6.7.4 DAB 146 200

表42DAB146200测试要求

表42DAB146200测试要求

6.7.5 DAB 147 200

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a）将采集设备与TESTPICC的输出J9相连接； b) PCD上电： c) 用非线性负载配制TESTPICC； 设置TESTPICC产生额定负载调制VsI.PP;Vs1.p见附录B; e） 把TESTPICC放在(2,0,0)位置处； 测试流程 f） 确保载波打开，设置在测PCD在ATTRIB模式； 6) 当PICC发送WUPB命令时检测； h） 发送正确PICCATQB响应以及附录C定义的格式、时间和trsoFp最小值0/f；如果trsoFr等于0， 意味副载波从d0°+180°到do°相位过渡时间关闭，结果是副载波停止，表示EoS结束； 观测PCD是否继续下个命令（ATTRIB） PCD应能支持PICC在时间trsOF内保持副载波。PCD当接收到一个正确的ATQB和O/f。的最低限 测试结果 值trsOFF，PCD应继续下一个命令

7通信协议测试环境及测试项目要求

7.1非接触IC卡支付终端通信协议测试配置

7.1.1默认的测试协议

除非在测试项自中规定（即异常处理测试），由LT发送的块应不包含CID或NAD 写终端不支持上述域）。 除非在测试项目中规定（即执行PICC复位），在非接触式交易过程中，PUT应不停地发送载波。 除非在测试项目中规定，LT应使用默认的非接时序和默认的非接参数值

7. 1. 2默认的时序

2）EGTpICc等于128/f为任何序列中的两个连续字符间的时间； 3）SoS（序列起始）等于1344×1/f。时间的逻辑状态低（即一个副载波相变后接一个相位为 0°+180°的副载波），后接320×1/f。时间的逻辑状态高（即一个副载波相变后接一个 相位为°的副载波）； 4 EoS（序列结束）等于1344×1/f时间的逻辑状态低（即一个副载波相变后接一个相位为 0°+180°的副载波），后接一个逻辑状态转换（即副载波相变的相位为Φ0°）和136× 1/f时间开启副载波（然后LT关闭副载波）。 接触式规范中，从PUT发送序列的结束到LT发送序列的开始之间的延时定义为帧延迟时间

7.1. 3序列时序应用及测量

当某个测试项目要求测量或应用同向或反向发送的连续序列间的延迟时，该延迟时间应按以下定 测量或应用： TypeAPICC发送序列的开始：PICC序列的顿起始（SoF）的开始（即传输的第一个调制）； TypeAPCD发送序列的开始：在PCD序列的帧起始（SoF）中的低电平的开始； C TypeBPICC发送序列的开始：PICC序列的序列起始（SoS）的开始； TypeBPCD发送序列的开始：PCD序列的序列起始（SoS）的开始； e） TypeAPICC发送序列的结束：PICC序列中传送的最后一个调制； f TypeAPCD发送序列的结束：PCD序列的最后一个低电平的上升沿（若PCD发送的最后数据 位是逻辑“1”，则该上升沿在此数据位中；若PCD发送的最后数据位是逻辑“0”，则该上升沿 在顿结束中）； g TypeBPICC发送的序列的结束：PICC序列的序列结束（EoS）的开始； h）TvpeBPCD发送的序列的结束.PCD序列的序列结束（EoS）的结屋

7.1.4半双工协议中的场景符号

7.1.5场景中的顿类型

本条定义了在PCD数字测试中使用或观测的参数值（除测试项目中另外规定的参数值），见表4 47，

表45TypeA和TypeB共有的参数

表46适用于TypeA的参数

表47适用于TypeB的参数

表中的时序值是由非接触式规范给出的，不考虑由于测试工具不准确引起的误差。 当时序值被应用于测试工具（即FDTA,PICc或FDTB.PI）时，测试的执行值应尽可能接近表中给出的 时序，测试工具应遵循以下规则： a）在PUT应支持最小时序值的情况下，应用的时序值应不能低于表中给出的规范值； b）在PUT应支持最大时序值的情况下，应用的时序值应不能高于表中给出的规范值。 当测试流程需要测量时序值时，应采用下列范围值： 若T等于1/f，且T小于等于12800×1/f。，则p等于12.8×1/f； 若T等于1/f，且T大于12800小于等于128000×1/f，则p等于64×1/f； C 若T等于1/f，且T大于128000小于等于1280000×1/f，则p等于128×1/f。； d） 若T等于1/f，且T大于1280000×1/f。，则p等于0.001×T； e） 若T定义为ms级，则p等于0.001×T(例如T等于10ms，则p等于10μs）。 注：T是在一个测试项目中应测量的时序，P是这个测试项目所需的时间精度

7.2通信协议测试项目

7.2.1轮询测试项目(

管材标准DDX001测试要求见表48

DDX001测试要求见表48

表48DDX001测试要求

7.2.2.2 DDA 002

DDA002测试要求见表53

DA002测试要求见表53

出口标准表53DDA002测试要求