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GD/J117—2020TX可调光衰减器RXSDH分析仪被测MSTP平台RX可调光衰减器TX图7输出抖动测量框图测量步骤如下：a)按图7所示正确连接设备；b)调整光衰减器，使SDH分析仪输入口处的光功率在仪表要求的范围内：c）根据被测输出口等级，设置SDH分析仪的测量速率和相应的测量滤波器带宽；d)待指示抖动锁定后，连续进行至少60s测量，读取观测时间间隔内的最大抖动峰峰值作为测量结果。7.3误码/丢包测量方法测量框图见图8。SDH/OTN分析仪TX可调光衰减器RX或被测MSTP平台数据网络分析仪RX可调光衰减器TX图8误码/丢包性能测量框图测量步骤如下：a)按图8所示正确连接设备。b)调整光衰减器，使SDH分析仪或数据网络分析仪输入口处的光功率在仪表要求的范围内。c)根据被测输出口等级，设置SDH分析仪或数据网络分析仪的测量信号。d)在进行长时间测量前，应做系统工作正常性判断。在第一个测量周期（15min），在此周期内仪表和网管系统没有检测到任何误码和不可用等事件，则可确认系统已工作正常，可以进行长期测量；在此周期内，如果检测到任何误码或其他事件，则应重复测量一个周期（15min），但至多重复两次。如果第三次测量周期内，仍然检测到误码或其他事件，则认为系统工作异常，需要查明原因后，再进行测量，e)确定系统工作正常后，可进行长期测量，按指标要求设置总的测量时间（24h），根据需要设置SDH分析仪或数据网络分析仪的内部或外部存储及打印设备，最后启动测量，并锁定仪表按键。f）读取误码/丢包性能测量结果。7.4保护倒换测量方法测量框图见图9。13

GD/J117—2020SDH分析仪或被测设备可调光衰减器被测设备D4SDH分析仪W：工作P：保护图9保护倒换测量框图测量步骤如下：a)按图9所示正确连接设备；b)按支路接口速率等级学士标准规范范本，使用SDH分析仪向支路输入口发送测量信号，在支路输出口用SDH分析仪监视；c)调整光衰减器使输出光功率稍高于灵敏度数值，使SDH分析仪正常接收信号，系统没有误码；d)通过网管，设置保护倒换为恢复方式；e)设置倒换条件，制造工作光通路（W）信号丢失：f)用SDH分析仪测出倒换时间；g)重复进行e）和f）步骤5次，保护倒换测量结果取平均值。7. 5以太网性能测量方法7.5.1平均发送光功率测量框图见图10。RX光功率计TX被测MSTP平台图10平均发送光功率测量框图测量步骤如下：按图10所示正确连接设备；b)打开被测光模块；c)光功率计设置在被测波长上；d)待输出稳定后，从光功率计上读取并记录平均发送光功率数值。7.5. 2消光比测量框图见图11。14

GD/J117—2020RX眼图分析仪TX被测MSTP平台图11消光比测量框图测量步骤如下：a)按图11所示正确连接设备；b)打开被测光模块；c)配置眼图分析仪，获得眼图；d)待眼图稳定后，读取并记录消光比数值。7.5.3工作波长测量框图见图12。RX光谱仪TX被测MSTP平台图12工作波长测量框图测量步骤如下：a)按图12所示正确连接设备；b)打开被测光模块；c)设置光谱仪，测量波长；d)从光谱仪上读取并记录测量出的波长数值。7.5.4接收机灵敏度测量框图见图13。光功率计可调光光分TX衰减器路器RX数据网络分析仪被测MSTP平台RXTX图13接收机灵敏度测量框图15

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