光缆在不同弯曲半径下弯曲

光缆在不同弯曲半径下弯曲 附加损耗应符合表3的规定

表3光缆不同弯曲半径下的附加损耗

锻件标准5.4.3.1一般要求

开应通过6.5规定的试验方 条件来检验。 光缆敷设后的牢固性，附录B给出了推荐的试验方法和试验条件。 光缆敷设后的燃烧性能，附录C给出了推荐的试验方法和试验条件

5.4.3.2光缆衰减温度特性

光缆适用温度范围及其温度附加衰减应符合表

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表4光缆适用温度范围和允许附加衰减

注：光缆的温度附加衰减为适用温度下相对于20°C下的缆中光纤衰减差

5.4.3.3低温下卷绕性能

配件中固定件要求宣包含环保性能、外观等项目，配件中转向件要求宣包含导尚槽最小弯曲半径、 外观、环保性能等项目，附录D给出了推荐要求。

表5光缆禁用物质的含量限量

1.1本部分的所有试验数据应采用GB/T8170一2008的4.3.3规定的修约值比较法进行修约比辑 1.2光缆的各项性能应按表6规定的试验方法进行验证

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表6试验项目、试验方法、检验类别和抽检比例

光缆端的光纤尺寸参数、模场直径、截止波长和宏弯损耗，允许用光纤成缆前可追溯的同端头的实测值作为出 直 光缆的环保性能是当用户有要求时检验

光缆结构应在距光缆端不少于100mm处用且力检查其完整性和取样检查结构尺寸。

光缆长度可采用光学方法（如OTDR仪器）来测量。

6.4光缆机械性能试验

下列规定的各试验方法及其试验条件用于验证光缆的机械性能，其试验结果符合规定的验收要求时 判为合格。 机械性能压扁、反复弯曲试验中光纤衰减变化的监测宜采用YD/T629.1规定的传输功率监测法，

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0.03dB。试验中光纤衰减变化量的绝对值不超过0.03dB时，可判为衰减无明显变化。允许衰减有数值 变化时，应理解为该数值已包括不确定度在内

试验方法按GB/T15972.32一2008的规定进行，细节规定如下。 a 试样数量：5个。 b） 剥离长度：15mm。 剥离要求：同时剥离光纤的涂覆层和光缆护套。 d）验收要求：记录每个试样剥离过程中的力值作为测试结果，其所有测试值均满足5.4.2.2要求 时判为合格。

6.4.3.1拉伸设备

拉伸试验机满足GB/T1446的要求。采用圆形系柱式夹具，圆形导线轮直径应大于光缆直径40 具应能夹持住试样不打滑，对试样没有明显的损伤

6.4.3.2试验要求

试验要求如下。 a）拉力：应符合表2的规定，加载速度为5mm/min。 b）时间：短期力值下维持1min。 c）拉伸受试长度：500mm±20mm。 d）验收条件：光缆在短期拉力释放后，光缆维持其初始夹持状态，试验前后1550nm波长插入损 耗变化量小于0.05dB，护套应无目视可见开裂。

压扁试验要求如下。 a）试验方法：GB/T7424.2一2008的方法E3。 b）压扁负载：见表2的规定。 c）压扁次数：3个压扁点，每个点压扁1次。 d）压扁间隔：每个压扁点的间距不小于500mm。 e）持续时间：在表2规定的长期允许压扁力和短期允许压扁力下各持续1min。 验收要求：在允许的长期压扁力下，光纤应无明显附加衰减；在允许的短期压扁力下，光纤的 附加衰减在1550nm处应不大于0.4dB；压扁力去除后，光纤应无明显残余附加衰减；护套应 无目视可见开裂。

压扁试验要求如下。 a）试验方法：GB/T7424.2一2008的方法E3。 b）压扁负载：见表2的规定。 c）压扁次数：3个压扁点，每个点压扁1次。 d）压扁间隔：每个压扁点的间距不小于500mm。 e）持续时间：在表2规定的长期允许压扁力和短期允许压扁力下各持续1min。 验收要求：在允许的长期压扁力下，光纤应无明显附加衰减；在允许的短期压扁力下，光纤的 附加衰减在1550nm处应不大于0.4dB；压扁力去除后，光纤应无明显残余附加衰减；护套应 无目视可见开裂。

6.4.5反复弯曲试验

b）弯曲平径：10mm。 c）循环次数：200次。 d）负载：5N。

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下列规定的各试验方法及其试验条件用于验证光缆的环境性能，其试验结果符合规定的验收要求时， 判为合格。

6.5.2光缆温度循环试

温度循环试验要求如下。 a）试验方法：GB/T7424.2一2008中方法F1。 b）试样长度：应足以获得衰减测量所需的精度，宜不小于1km。 温度范围：试验温度范围的低限TA和高限TB应符合表4的规定。 d）保温时间：宜不小于8h。 e 循环次数：2次。 f）衰减监测：宜按YD/T629.2的规定，在试验期间，监测仪表的重复性引起的监测结果的不确 定度应优于0.02dB/km；试验中光纤衰减变化量的绝对值不超过0.02dB/km时，可判为衰减 无明显变化；允许衰减有某数值的变化时，应理解为该数值已包括不确定度在内；单模光纤的 衰减变化监测应在1550nm波长上进行。 g）验收要求：光纤的温度附加衰减值应满足表4的要求。

6.5.3低温下卷绕试验

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制造厂应建立品质保证体系，以确保光缆产品质量符合本部分要求。光缆产品应由制造厂质量检验 部门进行检验，经检验合格并附有制造厂的产品质量合格证者方可出厂。厂方应向买方提供产品出厂检 验的检验记录。如买方有其他要求，厂方还应提供光缆的相应试验数据。光缆产品检验分出厂检验和型 式检验。检验项目和试验方法应符合表6的规定。除非在订货合同中另行规定，检验规则应符合本章 定。

个单位产品应是一盘允许交货长度的光缆。

出厂检验批应由同时提交检验的若干相同型号的单位产品组成，这些单位产品应是在同一连续生产 期内（例如1天或1周）、采用相同的材料和工艺制造出来的产品，

一个样本单位是从检验批中随机抽取的一个单位产品。

一个样本单位是从检验批中随机抽取的一个单位产品

一个试样应是样本单位的全段光缆或者是从其上取的一小段光缆，该小段可在试验前截取成独 可试验后再从全段上截取。每一试样的长度应符合有关试验方法的规定。

出厂检验项目是光缆产品交货时应进行的各项试验，其检验内容包括表6中的全部项目和实际交货 长度，如买方有其他要求，厂方应提供 的相应试验数据

按照表6规定的比例，根据检验批的大小，进行随机抽样检验，每批至少抽1个样本单位。检验样 本单位内的光纤特性时，应检验光缆中的全部光纤。

检验项目中，被试样本如有不合格项目时，应重新抽取双倍数量的样本就不合格项目进行检验，如 果是光纤特性不合格，应重测双倍数量样本单位中的全部光纤。如仍有不合格时，则应对该批全部光缆 的这一项目进行检验。全部光缆检验中，任何样本的这一项目不合格，则该样本单位应判为不合格产 品。在剔除不合格产品后的该检验批判为合格。

73.4不合格样品单位的处理

型式检验是对产品质量进行全面考察应进行的各项试验，检验项目应包括表6所列的全部项目，检 验样本应从出厂检验合格批中抽取。

光缆产品在下列情况之一时，应进行型式检验。 a）光缆产品试制定型鉴定时。 b）正式生产后，如结构、材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时。 c）正常生产时，应每一年进行一次。 d）停产半年以上，恢复生产时。 e）出厂检验结果与上次型式检验结果有较大差异时

每次型式检验应从检验批中随机抽取每种型式1个样本单位进行试验，其规格应有代表性

如果被抽取检验的样本单位有出厂检验项目不合格时，充许重新抽取新的样本单位重新检验。如果 个样本单位未能通过其中任意一项试验，则该产品判定为不合格品，出现不合格品的，则型式检验未 通过。但是，允许重新抽取双倍样本单位就不合格项目进行试验，如果都能通过试验，则可判定为型式 检验通过：如果仍有任何一个样本单位不能通过试验，则应判定为型式检验未通过。

如果型式检验不合格，制造厂应根据不合格原因，对全部产品进行改正处理。在采取可接受的改进 措施以前，应停止产品鉴定或验收。在采取改进措施之后，应重新抽样进行型式检验，对新的样本单位 重做全部试验，但是，经主管部门决定或经交收双方商定，可酌情减少部分已合格的试验项目。

7.4.6样本单位处理

已经通过型式检验的样本单位，如果是短段试样，不能作成品交货；如果是在端部进行试验的 试样（例如标准制造长度），切除由于进行压扁、冲击、扭转等试验产生的缺陷部分后，只要符 长度规定，可作为成品交货。

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1.1光缆产品宜装在光缆交货盘上出厂，每盘应为一个交货长度。对于短段长的光缆，经制造 户协商后可采用无盘具成圈后纸盒包装的方式出厂

9.1.2光缆缆盘芯轴直径宜不小于80mm。

9.1.3光缆盘和采用的包装盒上都应标明。

a）制造厂名称和产品商标。 b) 光缆标记。 ) 光缆长度：m。 d）毛重：kg。 e) 制造年、月和（或）生产批号。 f) 标识缆盘正确滚动方向的箭头。 g 保证储运安全的其他标志。

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表B.1隐形光缆结合配件牢固性试验条件

观察记录试验后隐形光缆从装 上脱落情况，脱落数量不大于1个

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附录C （资料性附录） 光缆敷设后燃烧试验方法

用于隐形光缆已敷设粘接在墙上后的燃烧试验

附录C （资料性附录） 光缆敷设后燃烧试验方法

试样应该是一根长600mm土25mm的隐形光缆，拉直紧贴在长600mm，宽30mm的样条中轴线， 全程涂胶将光缆固定在样条上。 样条材质可选择大理石、表面乳胶漆处理后的水泥墙

试验前，所有试样应室温下处理至少24h。

试样用合适的夹具固定在两个水平支架上，垂直放置在GB/T18380.11一2008中4.2描述的金属罩 的中间。固定试样的两个水平支架的上支架下缘与下支架上缘之间距离应为550mm土5mm。此外，固 定试样时应使试样下端光缆端头距离金属罩子底面约50mm（参见GB/T18380.12一2008中图1）。 试样垂直轴线应处在金属罩的中间位置

接地线标准应符合GB/T18380.122008的要求