从抗外部攻击的角度，本标准从物理安全、侧信道安全和环境安全三方面规定了安全性要求。 1、物理安全 在受到物理攻击时，敏感信息、安全机制、安全功能应不被泄露、操控和篡改。 A.物理攻击包括但不限于： 1）探针监听或信号注入： 2）FIB（聚焦离子束）攻击。 B.敏感信息包括但不限于： 1）用户存于安全芯片中的私密信息。 C.安全机制包括但不限于： 1）主动屏蔽层； 2）安全版图设计； 3）数据加密存储； 4）数据存储校验； 5）数据加密传输。 D.安全功能包括但不限于： 1）能够防范安全威胁的技术手段 2、侧信道安全 在受到侧信道攻击时，安全机制不会被泄露/操控/篡改。 A.侧信道攻击包括但不限于： 1）时间攻击： 2）电源功耗分析； 3）电磁分析。 B.侧信道安全机制包括但不限于： 1）功耗特征隐藏； 2）关键算法参数掩码。 3、环境安全 A.在工作环境条件超过规定范围的情况下，SIM单元应提供环境安全监测机制，使芯片保持安全状 。 1）工作环境条件包括但不限于： a）工作温度： b）工作电压； c）时钟频率。 2）环境检测机制包括但不限于： a）温度检测； b）电压检测； c）时钟频率检测。 B.在受到故障攻击的情况下，SIM单元应提供故障检测机制，使芯片保持安全状态 1）故障攻击包括但不限于： a）电源毛刺攻击； b）电磁注入攻击； c）光攻击。 2）故障检测机制包括但不限于： 1）电源毛刺检测：

2）光检测； 3）数据或运算的几余校验。

5. 4. 1SD 单元

轻工业标准5. 4. 1. 1概述

5. 4. 1.2读取速度

本标准将大容量卡SD接口的读取速度量化，如表5.4.1所示

表5.4.1SD接口的读取速度量化标准

5. 4. 1. 3 写入速度

本标准要求写入速度至少满足CLASS10，即大于10MB/s。 本标准将大容量SD接口的写入速度量化，如表5.4.2所示

表5.4.2SD接口的写入速度量化标准

5. 4. 2 SIM 单元

5. 4. 2 SIM 单元

6.1.1.1温度测试

1.1工作温度测试（高

温度85℃环境下，连接读卡器对大容量卡（含SIM单元和SD单元）进行正常操作。 2测试步聪

表 6. 1. 1 工作温度（高温）测试步骤

6. 1. 1. 1. 2工作温度测试（低)

表6.1.3工作温度（低温）测试步骤

6.1.1.1.3贮存温度测试（高温）

表6.1.4贮存温度（低温）测试步骤

整个测试过程中读卡器对SIM和SD的所有操作均正常

6.1.1.1.4购存温度测试（低温）

表6.1.5购存温度（低温）测试步骤

整个测试过程中读卡器对大容量卡（含SIM单元和SD单元）的所有操作均

整个测试过程中读卡器对大容量卡（含SIM单元和SD单元）的所有操作均正常。

6.1.1.2湿度和腐蚀度

6.1.1.2.1工作湿度测试

1、预置条件 温度25℃、相对湿度95%环境下，连接读卡器对大容量卡（含SIM单元和SD单元）进行正常操 2、测试步骤

表6.1.6工作湿度测试步骤

表6.1.7贮存湿度测试步骤

6. 1. 1. 2. 3 盐雾腐蚀测试

1、预置条件 温度35℃、盐雾浓度3%环境下，对大容量卡进行长时间存放。 2、测试步骤

表6.1.8盐雾腐蚀测试步骤

SDU1CCSIM单元的物理特性测试，应遵循3GPPTS31.122，具体参见Technica1Specifice oup Core Networkand Terminals;Universal SubscriberIdentityModule (USIM)conformance ecification”中第6.2节。

6. 3. 1SD 单元

6.3.1.1SD协议要求测试

1、预置条件 室温25℃环境下，连接读卡器对大容量卡（含SIM单元和SD单元）进行正常操作。 2、测试步骤

表 6.1.22 SD接口电气特性测试步骤

整个测试过程中读卡器对大容量卡（含SIM单元和SD单元）的所有操作均

6.3.1.2SD单元的物理层安全要求测试

表6.1.25用户数据的加密存储测试步骤

整个测试过程中使用文本编译软件无法还原电

6.3.2.1SIM功能测试

6.3.2.2SIM单元物理层安全要求测试

旅游标准6.4. 1SD 单元

6. 4. 1. 1 概述

6. 4. 1.2 读取速度测试

1、预置条件 1）室温25℃环境下，连接读卡器对大容量卡（含SIM单元和SD单元）进行正常操作； 2）主机设备支持SD3.0的所有总线速度模式； 3）若主机设备需通过USB接口连接PC机，则应选择USB3.0接口。 注：主机设备，含PC机、读卡器或手机等。 2、测试步骤

表6.1.26读取速度测试步骤

6.4.1.3写入速度测试

管材标准（规范性附录） 标准修订历史

表B.1标准修订历史