GB/T 39842-2021 集成电路(IC)卡封装框架.pdf

  • GB/T 39842-2021  集成电路(IC)卡封装框架.pdf为pdf格式
  • 文件大小:7 M
  • 下载速度:极速
  • 文件评级
  • 更新时间:2021-04-17
  • 发 布 人: 13648167612
  • 文档部分内容预览:
  • 一个检验批应由相同类型,在相同的条件下,采用相同原材料和工艺生产,并在同一时间内提交 的产品组成。

    应按GB/T2828.1规定的一般检查水平IⅡI和一次正常抽样方案,从提交的检验批中按表9规定随 机抽取试样。

    应按表9规定进行检验。 12

    GB/T 398422021

    A组检验100%进行,剔除不合格品;B组检验从通过A组检验的检验批中烟草标准,按表9规定抽样进行。

    若检验批中不合格品数大于表9中AQL值所对应的充许不合格判定数时,则加倍抽样 项目进行复检,若复检仍不合格时,则判定该批不合格

    下列情况之一者,应进行型式检验: a)新产品生产试制定型鉴定; 正式生产后,原材料、工艺等发生较大改变,可能影响产品性能时; 产品停产3个月及其以上,恢复生产时; d)出厂检验结果与上次检验存在较大差异时

    应按表9规定进行检验。 50个试样先进行A组检验,经A组检验合格后,再进行B组检验, B组的检验项目应按有关产品规范中的规定进行。

    一个或多个试样有一项或多项检验未通过表9规定的检

    IC卡封装框架以卷状的形式,中间加隔离膜进行包装后,再用塑料袋包装进行抽真空。 箱,标签标识向上。 注:如有特殊要求.以与客户签订的订单合同为准

    每盘IC卡封装框架均需带有标签。标签上须标明以下内容: 制造单位名称(或商标); b) 客户产品编号; c) 厂内产品编号; d) 合格数和缺陷数; e) 接头数; )批号:

    GB/T39842—2021 g)表面处理日期; h)合格章。

    IC卡封装框架原包装密封储存且符合 条件,保质期12个月(从表面处理日期开始): a)温度:20℃±5℃。 b)相对湿度:50%±10%。 c)无腐蚀性污染(如H,S、SO,、NaCI)

    IC卡封装框架在运输装卸过程中,外包装不应破损,注意轻拿轻放,不能投掷、重压, 雨淋。

    在高压蒸汽条件下,以加速的方式评价导电金属层与绝缘材料层的抗潮湿能力

    GB/T 398422021

    A.2.1高压蒸汽试验箱,工作区域绝对气压达到0.2MPa(2bar),并有压力和温度指示装置。 A.2.2试验箱用水的电阻率应大于500Q2·m。 A.2.3试验箱结构牢固,并有安全装置,以保证试验安全进行。 A.2.4放置试样架在实验过程中不应被水浸淹,同时水也不能溅到试样上

    试验条件如下: a) 试验温度:121℃±2℃; b) 试验压力:绝对气压0.2MPa; 试验湿度:相对湿度100%; d)试验时间:24 h

    试验条件如下: a) 试验温度:121℃±2℃; b) 试验压力:绝对气压0.2MPa; 试验湿度:相对湿度100%; d)试验时间:24 h

    将试样放在试验架上,当试验箱的温度、压力满足A.3的试验条件时,开始计时,到达设定时间2 将试样取出。

    将试样在正常气候条件下恢复24h

    进行外观(必要时做金相分析)和金属层剩离强度

    评价导电金属层与绝缘材料层的抗高温焊接的能

    屋面标准规范范本电金属层与绝缘材料层的抗高温焊接的能力

    3.2.1具有可控恒温器的电热焊锡槽,容积要能足以保证试样浸人以后,与槽壁槽底的距离不得小于 10mm.焊锡槽里的成分如下

    锡:59%~60%; b) 锑:5%最大; c) 铜:1%最大; d) 碑:0.05%最大; e) 铁:0.02%最大; f) 铅:其余部分。 B.2.2 焊料中的杂质(如铝、锌、镉等)含量不得有损于焊料的特性。 B.2.3 所采用的助焊剂为25%的松香、75%的异丙醇,并加入松香含量为0.5%的二甲基氨氯化物(分 析纯)

    试验条件如下: a)试验温度:288℃士5℃; b)试验时间:10 s±1s.

    按有关规范规定,对试样进行外观检查(

    先将试样浸放入助焊剂中,然后再浸入到焊锡槽内,浸润时间为10土1S,将试样取出冷却至室温 用适当的溶剂清除掉试样上的助焊剂

    将试样在正常气候条件下恢复24h。 16

    规范规定文化标准,对试样进行外观(必要时做金相分析)

    GB/T 398422021

    ....
  • 相关专题: 集成电路  

相关下载

常用软件