本部分规定了两种光缆试验允许的环境条件：标准试验条件和宽松试验条件。 除非在特定试验中另有说明，宽松试验条件为实施试验时应使用的默认环境标准。标准试验条 共特殊要求时使用

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有关光缆验证试验的抽样指南可参考附录B

光学测量中针对衰减的光注入条件应符合GB/T15972.40的规定 照明标准，针对监测透光率变化的光注 牛应符合GB/T15972.46的规定。

中或个别试验另有规定，已成缆光纤测试用的标

注：其他测试波长可以要求不同的公差范围。

模光纤，应测试最高指定波长。在这种情况 下，应使用有关规范中规定的1300nm指标进行判定。A4类多模光纤应在GB/T12357.4中规定的适 用子类别的波长上进行测试 光学性能的特定变化包括允许测量重复性

本部分规定的量的数值应有明确的有效位数，测定值或其计算值应先按GB/T8170的规定进行数 值修约.再按GB/T8170规定的修约值比较法进行判定

4.9.2光纤的光学连续性和断裂的检测

可采用通可见光目视检测方法或按4.6的规定进行检测，应检测受试光缆中的全部光纤。

4.9.3光缆护层检查

护套开裂检查，应以正常视力进行目视检查

应按光缆详细规范中有关规定 之后进行适时监测和检查。

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附录B （资料性附录） 光缆验证试验抽样指南

通常，相同型式的普通光缆可容纳不同芯数的光纤。例如，每根松套管容纳12芯光纤时，仅通过改 变松套管和填充绳的数量，6单元绞合结构的层绞式光缆就可以衍生出12芯、24芯、36芯、48芯、60芯 我72芯的产品，而不改变光缆的基本结构设计。同样地，6单元、8单元、12单元和24单元绞合这4种 常规的层绞式结构设计，可以为12芯～288芯的光缆提供多种选择。这个概念可以适用于其他光纤芯 数。就光缆设计验证目的来说，只需要测试一组代表产品规格范围（例如最小和最大单元数的结构)的 光纤芯数和光单元数。在前面的示例中，为了证明制造商的设计和制造能力，可以认为只测试1种6单 元结构和1种24单元结构是合适的。 这一理念同样适用于其他光缆结构，如中心管式光缆或紧套光纤光缆结构。例如，可以测试最小和 最大芯数的光缆结构，

工程标准规范范本B.2光缆测试中光纤选择

被测试的光缆中的光纤可能全部都是工作光纤，也可能包含工作光纤和一些仿光纤/废光纤。受试 光纤分布在工作单元中。对于多套管结构的光缆，可以使用非工作套管或填充绳，但它们的使用方式不 影响试验结果。制造商在光缆中合理布置工作套管，需要考虑使它们能完全承受试验中的力值。 包含1个以上工作套管的松套层绞式光缆按以下方式进行测试： 在单层层绞式光缆结构中，对于2根及以上松套管的光缆通常考虑在最少2根套管中至少各选取 根光纤进行测试。在多层层绞式光缆结构中，通常考虑在每层套管中选取最少2根套管，每根套管中 至少选取1根光纤进行测试。选取的套管不相邻，且套管中包含满数量的光纤，即使部分光纤可能是仿 光纤或废纤。 对于层绞式光纤带光缆，受试的光纤带分布在光纤带矩阵的首、未和中间位置，受试的工作光纤位 于这些光纤带的两侧和中间。 如果用户和供应商同意，同根套管中的光纤可以相互熔接连接在一起。例如，在测试要求为光纤无 断裂的情况下。这是检查所有被测试光纤的简便方法。 当光缆结构设计发生变化时，只需测试受到结构设计改变影响的试验项目

B.3合格/不合格判据

合格判据取决于光缆的应用城镇建设标准，但通常包括“光纤无断裂”、“衰减无变化”（见3.1）、“光纤应变无变 3.3）、“允许的衰减变化”（见3.2)和“允许的光纤应变变化”（见3.4)的组合。这些指标差异是由于 前、测试中和测试后的要求不同而产生的，由详细规范给出

[1]JIF1001—2011通用计量术语及定义

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