应配置诸如真空吸附固定夹具能稳 文撑装直应安放在定位装直上， 便试样端可与输人光进行重复定位

光束分离器应分出一小部分输人光作为参考光。参考光应用来监视试验期间系统的波动。 4.8输入端注入条件

A1类多模光纤（折射率

应采用一稳态模模拟器衰减掉高阶传输模石化标准，在光纤输人端建立稳态模条件。建立稳态模条件的说 明见GB/T15972.40—2008方法A。

1.8.2A2类多模光纤（折射率准突变和突变型） 应按产品规范规定建立注人条件

4.8.3B类单模光纤

一光学透镜系统或尾纤可用于激励被试光纤。耦合进试样中的光功率在试验期间应保持稳定。 采用一光学透镜系统，一种降低光纤定位敏感性的方法就是对光纤输人端进行空间和角度的满注

GB/T15972.542021

如果采用尾纤，可能有必要采用折射率匹配材料来消除干涉效应。应采用高阶模滤模器来滤除在大于 或等于截止波长上高阶传输模，GB/T15972.44规定的试验条件可满足此要求

过采用在接收光强范围内线性开稳定的光 典型系统可包括采用电流输入前置放大器进行 放大的光伏模式光电二极管，由锁相放大器进行同步检测

应采用合适的光功率计测定从光源耦合进试样的光功率，确保光功率等于1.0W或按产品规范 规定的值。

应采用热致发光LiF或CaF晶体检测器（TLD)或一个离子室检测器测定试样光纤接收到的辐射 总剂量。

如果没有特殊要求，温控试验箱应能保持规定温度在土2℃以内

试验中，试验线轴对本试验所采用的辐射不应起屏蔽或吸收作用。原则上，木头、塑料或类似的 本材料，对辐照都具有透明性。对于精确的测量，应考虑附加吸收。 应使用类似材料作为合适的辐射剂量积累层

如果没有特殊规定，试样长度应取决于辐照所引起的预期衰减和待测试的光纤类型。应以辐照终 止后所引起的总衰减在3dB至10dB内为准来选择试样长度。用于连接试样的光纤尾纤影响可以通 过缩减长度、采用屏蔽层和低辐照敏感性光纤等手段尽量减小至所引起的总衰减的10%以下，并需要 兑明试样的受辐照段长度

试样应绕在直径不小于10cm的线轴或线盘上，或按产品规范规定。两端应留出足够长的未统 以便能接到光学测量设备上。 替代放置方法是将光纤松绕成规定直径的线圈，并应考虑光纤的最小弯曲半径

试样应与环境光隔离开以防止光漂白作用

辐照试验类型依据辐照剂量、剂量率、辐照时间和温度来区分，分为环境背景辐照试验和有害核 试验。

试样置人试验箱以前，应对辐照源剂 准。应检测试验线轴所放置的受辐 或的四个位置的辐照剂量和剂量率 置以获得具有代表性的平均值

6.3预处理和条件调节

试验前，应对试样在25℃士5℃的温度箱内预处理1h，或在试验温度下按产品规范规定的时间预 处理。

短长度试样的输人端应放在定位装置上，并对准光功率计以便获得最天光功率。 采用经校准的功率计测量试样输入端的功率。需要时，应调节光源功率使得输入端的功率等于 1.0μW或按产品规范中规定 在辐照源关闭的情况下，应对试样的输入端进行定位，以使在检测器上获得最大光功率。一且调好 之后，在伽玛辐照试验期间不应改变输人端光注入条件。 应将合适的持续测量装置连接到检测系统进行连续功率测量，应调整测量设备，使检测信号不超过 设备的极限， 在辐照开始之前，应获取测量装置的稳定性。在辐射结束之后，总波动度应低于所引起的总衰减 的10%。 应采用一个6°Co（钻°）或等效的电离源以所要求的剂量率产生伽玛辐射。打开或关闭辐照源所需 的时间应小于总暴露时间的10% 在试验期间保持温度的稳定是非常重要的。如果需要进行不同温度下的试验，则应在辐照前在不 同温度下测量每一规定波长上的衰减。

6.4环境背景辐照下的衰减测量

按照GB/T15972.40一2008中方法A（截断法）测量试样在规定波长下的衰减，记录试样暴露于伽 辐照源前的衰减值A，。最初衰减测量环境温度应与辐照试验期间的测量温度相同。 如果没有特殊规定，暴露在伽玛辐照下的环境背景辐照效应，其试样经受的标称剂量率为 0.02Gy/h、暴露的总剂量为0.1Gy。为模拟特殊规定的条件，在产品规范中，可以要求其他剂量和剂量 率组合的环境背景辐照。 在完成辐照和辐照过程的2h内，对试样按照同样的方法进行衰减测量，记录经暴露在伽玛辐照源 后的试样衰减值A2

5.5有害核环境下的衰减测量

GB/T15972.542021

按照GB/T15972.46在指定测试波长下监测试样的透光率变化，记录暴露在伽玛辐照源前的输出 功率PB。 如果没有特殊规定，暴露在伽玛辐照下的有害核辐照效应，其试样经受的标称剂量率为1000Gy/h、 暴露的总剂量为1000Gy。为模拟特殊规定的条件，在产品规范中，可以要求其他剂量和剂量率组合的有 害核环境辐照。 在伽玛辐照循环周期内应记录试样的输出功率，根据辐照前试样衰减的测量值，能够确定辐照引起 的光纤衰减变化。 在完成辐照过程后，也应记录试样的输出功率至少15min，或按详细规范规定的时间。完成辐照 过程后恢复时间内参考检测器功率也应记录，

7.1光衰减的变化值AA（环境背景辐照试验

地下室标准规范范本7.2透光率变化A（有害核环境试验）

AREF PE——测量结束时由参考检测器测得的功率，单位为微瓦（μW）： 一辐照开始前由参考检测器测得的功率，单位为微瓦（μW）。 修正后的试验结果如公式（5)与公式（6)所示：

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8.1试验结果报告应包括下列内容

试验名称； 试样识别号： 试样数量； 试样类型； 暴露在辐照下的试样长度： 试验波长； 试验温度： 线轴的材料、尺寸和设计： 试验剂量和剂量率； 衰减变化△A（环境背景辐照条件下）； 透光率变换A（有害核环境试验）； 透光率变化A。和A1s（有害核环境试验）； 试验试样特性如光纤类型、光缆类型、尺寸和组成； 试验过程的曲线纪录； 试验日期和操作人员。 .2 根据要求可提供的其他信息包括： 辐照源说明； 剂量计类型； 光源类型、型号和制造厂家； 光滤波器或单色仪说明； 包层模剥除器说明； 注人模拟器和注人条件说明； 光束分离器类型； 检测和记录仪器说明； 温度试验箱特性说明； 测量仪表最后校准日期； 操作员身份证明； 试验线轴直径； 合格判据； 其他测量条件。

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