5.1实验室测试环境条件

实验室测试的环境条件要求如下： 温度：15℃~35℃； 相对湿度：20%~75%

5.2测试结果及不确定度

完整的测试结果表达应由如下部分组成： 测量值以及相应的限值； 测量不确定度。 测量不确定度应不大于表3中的数值。

勘探标准线上。如图1所示。 测试夹具要求如下： a）测试中使用的接头和波导等附件匹配负载应为50Q：

GB/T400252021b)测试中使用的接头和波导等附件匹配负载驻波比应不大于1.5；c)接收天线增益应不小于20dB。接收天线4被测设备吸波材料09~波导接口/法兰50 cm~1 m图1测试夹具示意图5.3.2测试场地测试场地应是一种室内装有射频吸收材料的全屏蔽室，用来模拟电磁波传播的自由空间环境，它是完成设备辐射发射测试的替换场地。测量天线、被测设备和其替代用天线的测试布置同开阔测试场相似，但它们离地板的架设高度是固定的。如图2所示。测试场地要求如下：a)测试中使用的电波暗室屏蔽效能应大于105dB；b)测试中使用的电波暗室回波损耗应大于30dB；c)测试中使用的场地，测量天线和替代天线等相关设备应定期校准。吸波材料屏蔽室d参考点d被测设备测试天线d3说明：被测设备与测试天线距离；d3暗室长度；d,被测设备与暗室内墙距离；暗室宽度；d2发射天线与暗室内墙距离；ds暗室高度；h被测设备与暗室天线高度；de被测设备和测试天线的轴心与暗室一侧距离。图2测试场地

GB/T40025—20215.3.3测试框图对于本标准规定的设备应采用如下测试框图进行测试。如图3所示。测试附件要求如下：a)测试中使用的混频器（选用）、信号发生器、波导法兰等匹配负载应为50Q；测试中使用的混频器（选用）、信号发生器、波导法兰等驻波比应小于1.5；c)测试中使用的混频器（选用）、信号发生器、波导法兰等应定期校准。基频/谐波混频器测试夹具输入频谱仪本振信号发生器数据存储分析图3测试框图5.4等效全向辐射功率5.4.1测试配置等效全向辐射功率应采用5.3.2中所述的测试场地和5.3.3中的方法进行测量。5.4.2测试步骤测试步骤如下：a)通过适当的衰减器，将被测设备连接到一个匹配的二极管检波器或同等装置上。二极管检波器的输出端应连接到一个示波器或同等功率测量设备的垂直通道上。二极管检波器和示波器的组合应能够准确地复现发射机输出信号的占空比。b)使用频谱仪测量发射机的输出功率，使用RMS检波方式。此时被测设备应使用最高的功率等级发射。观察到的值记作“A”（以dBm表示）。c)等效全向辐射功率P应根据测得的输出功率A（以dBm表示）和观察到的占空比a来计算，需要根据式（1)计算。P =A +10 × lg(1/α)..(1)式中：P等效全向辐射功率，单位为分贝毫瓦（dBm）；A测得的输出功率，单位为分贝毫瓦（dBm）；发射机输出信号占空比。5.5频率范围5.5.1测试配置频率范围应采用5.3.2中所述的测试场地和5.3.3中的方法进行测量。5

测试步骤如下： a） 发射机应调整为最大发射模式； ） 使用频谱仪读取信号包络的上下限处起始频率和截止频率，辐射功率不大于一80dBm/Hz （EIRP）。并记录，其数值不得超过4.2.2中限值要求

测试步骤如下： a） 发射机应调整为最大发射模式； b 使用频谱仪读取信号包络的上下限处起始频率和截止频率，辐射功率不大于一80dBm/H （EIRP）。并记录，其数值不得超过4.2.2中限值要求

测试步骤如下： a 发射机调整为最大发射模式； b） 设置频谱分析仪中心频率=被测信道的中心频率，RBW=1MHz，VBW=1MHz，扫频宽度 为2倍标称信道带宽，检波器RMS，追踪方式最大值保持； 工作在24GHz24.25GHz的车辆无线电设备记录发射信号99%能量的信号带宽

a） 发射机调整为最大发射模式； b） 设置频谱分析仪中心频率=被测信道的中心频率，RBW=1MHz，VBW=1MHz，扫频宽度 为2倍标称信道带宽，检波器RMS，追踪方式最大值保持； 工作在24GHz～24.25GHz的车辆无线电设备记录发射信号99%能量的信号带宽

如果发射机采用将功率对称分布的关线阵列，在可行的情况下，应只保留一个发射链路（关线），而 禁用其他发射链路（天线），如果不可行，应在测试报告中记录所采用的方法。 如果仅仅测试一条发射链路，应对测试结果进行修正，以便适用于整个系统（所有发射链路）。一条 发射链路的发射功率（mW）需要乘以发射链路的数量，从而得到系统的总发射功率。 应对被测设备进行配置，以便使其工作在最大的占空比和最大输出功率等级的状态下

5.7.2小于40GHz的杂散发射测试方法

5.7.2.1测试配置

5.7.2.2测试步骤

测试步骤如下： a 在30MHz～1GHz范围内测量杂散发射，设置频谱仪RBW=100kHz，VBW=100kHz，检 波器RMS，追踪模式最大值保持。 b 在1GHz～40GHz范围内测量杂散发射，设置频谱仪RBW=1MHz，VBW=1MHz，检波器 RMS，追踪模式最大值保持。 在扫描中发现的处于限值以下6dB范围的任何发射应记录。如果测量是在规定以外的距离 开展，那么应给出等效场强数值的计算结果

5.7.3大于40GHz的杂散发射测试方法

5.7.3.1测试配置

GB/T 400252021

验测大于40GHz杂散发射时应采用5.3.2 中所述的测试场地和5.3.3中的方法进行测量。

5.7.3.2测试步骤

测试步骤如下： a）在设备支持的情况下，测试最高频段的杂散并记录，设置频谱仪RBW=1MHz，VBW： 1MHz，检波器RMS，追踪模式最大值保持。 在扫描中发现的处于限值以下6dB范围的任何发射应记录。对于结果进行分析排除混频器 镜像的影响

如果接收机用天线阵列的形式，在可行的情况下，应只保留一个发射链路（天线），而禁用其他发射 连路（天线），如果不可行，应在测试报告中记录所采用的方法。 如果仅仅测试一条接收链路，应对测试结果进行修正，以便适用于整个系统（所有接收链路）。 一条接收链路的杂散发射功率（mW)需要乘以接收链路的数量，从而得到系统的总接收机杂散发 时功率。 应对被测设备进行配置，以便使其工作在持续接收或没有发射的状态下，

5.8.2小于40GHz的杂散发射测试方法

5.8.2.1测试配置

检测小于或等于40GHz杂散发射时采用附录A中所述的测试场地和附录B中的相关测量程序进 行测量。

5.8.2.2测试步骤

测试步骤如下： a）在30MHz～1GHz范围内测量杂散发射，设置频谱仪RBW=100kHz，VBW=100kHz，检 波器RMS，追踪模式最大值保持。 b）在1GHz～40GHz范围内测量杂散发射，设置频谱仪RBW=1MHz，VBW=1MHz，检波器 RMS，追踪模式最大值保持。 在扫描中发现的处于限值以下6dB范围的任何发射应记录。如果测量是在规定以外的距离 开展，那么应给出等效场强数值的计算结果

5.8.3大于40GHz的杂散发射测试方法

5.8.3.1测试配置

5.8.3.2 测试步骤

测试步骤如下： a）在设备支持的情况下，测试最高频段的杂散并记录，设置频谱仪RBW=1MHz，VBW= 1MHz，检波器RMS，追踪模式最大值保持。 b）在扫描中发现的处于限值以下6dB范围的任何发射应记录。对于结果进行分析排除混频器 镜像的影响，

GB/T40025—2021附录A（规范性附录）辐射测试的测试场地A.1开阔测试场或半电波暗室开阔测试场或半电波暗室应符合GB/T9254一2008的附录A对测试场地的要求。在1GHz以下频段，测量收发天线的测试距离不小于3m。在1GHz以上频段 纸箱包装标准，选择合适的测试距离。被测设备大小应小于测试距离的20%。被测设备架高或替代用天线架高要求为1.5m，测量天线架高要求在1m~4m范围内调整。为确保因测试场地附近有障碍物而产生的反射波信号对测试结果没有影响，测试场地应满足如下条件：a)测试场地近处不能有直径大于测试最高频率入/4（入为电波波长)的导电物体存在；b）连接电缆尽量沿地板表面铺设，最好铺设在地板下面，低阻抗电缆要采用屏蔽电缆。典型的测试场地布置如图A.1所示。测量天线被测设备1 m~4 m1.5 m地板频谱分析仪或滤波测量接收机器组图A.1测试场地布置A.2全电波暗室A.2.1综述全电波暗室是一种室内装有射频吸收材料的全屏蔽室，用来模拟电磁波传播的自由空间环境，它是完成设备辐射发射测试的替换场地。测量天线、被测设备和其替代用天线的测试布置同开阔测试场相似，但它们离地板的架设高度是固定的。关于全电波暗室屏蔽效能和墙面反射损耗的指标要求见表A.1、表A.2。要求全电波暗室内被测9

GB/T40025—2021

我的空间传输损耗与在自由空间环境下的传输损表

说明全电波暗室屏蔽效能

测量天线的物理尺寸不应超过测试距离的20%。测量天线应适合于极化波的接收，应安装在水平 臂的末端，应允许天线能按测量电场的水平分量或垂直分量来定位安装。当按垂直极化取向及在最低 位置安装时，天线的低端应至少离地0.3m。

替代用天线的增益精度在土1dB以内。

GB/T40025—2021附录B（规范性附录）辐射杂散的通用测试方法B.1辐射杂散测试辐射杂散测试应在全电波暗室内按照图B.1的布置进行。测试时，测量天线要正对被测设备的最大辐射电平方位，将测量方位记录在测试报告中，并在该方位上进行测量SAG被测测量设备天线1 m~4 m1 m~4 m地板频谱分析仪图B.1测试布置示意图辐射杂散测试步骤如下：a）测试场地应满足指定测试频段的测试要求，被测设备放置在标准转台（或支架）上，除非特别要求，测量天线应垂直极化正对被测设备，天线高度与被测设备的高度相同。b)设置频谱分析仪为峰值检波方式。在规定的辐射杂散测试频段内进行扫描，搜索除免测频段以外的由被测设备产生的有效杂散频谱分量。若有必要，对测量天线在较小范围内进行升降，使频谱分析仪获得有效输出频谱分量的最大功率读数c)旋转被测设备，使频谱分析仪获得最大电平读数。若有必要，再次对测量天线在较小范围内进行升降，使频谱分析仪在上述最大电平读数基础上获得更大电平读数，记录有效频谱分量的频率和最大电平读数在测试报告中。d)将测量天线设置为水平极化位置，重复上述测试过程。B.22替代测量用B.1的测试方法获得的测试数据并非最终的测试结果，被测设备产生的杂散信号的实际发射电平需要用替代测试来确定。替代测试的原理是用已知的信号发生器替代被测设备，从而定量给出被测设备产生的各个信号的发射电平，测试连接如图B.2所示。将替代用天线替代被测设备放置在原位置11

GB/T40025—2021处辅助软件，并且是垂直极化方式，信号发生器频率调谐至B.1测试过程中的各个信号的测试频率。调整信号发生器输出功率大小，使得测量频谱分析仪获得与在B.1测试过程中记录的测试电平相同。则对应频率信号的辐射发射功率即为信号发生器输出电平与替代用天线的增益之和减去连接电缆损耗后的计算值，这样就得到了各个频率信号的实际辐射功率。替代测量天线天线1 m~4 m1 m~4 m地板信号发生器频谱分析仪图B.2替代测试布置示意图12

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