a）成圈、装盘或其他（在缆盘加有垫层时需说明垫层类型和所用材料） b） 卷绕直径； 单层或多层； d）卷绕张力和零张力装置（如果有的话）。 热均衡时间t1，如果与表1中规定的不同

本试验适用于连续阻水的光缆。其目的在于确定光缆阻止水沿着规定长度迁移的能力，有3种 方法： 一F5A评价由于护套损坏引起的径向进水； 一F5B评价阻水结构光缆的全截面从暴露在水中的光缆端的纵向进水； 一F5C也评价从光缆端的纵向进水，但它适用于用吸水膨胀阻水材料的光缆。 应按详细规范中的规定，采用3个方法（F5A、F5B或F5C)之一在光缆试样上检验合格性。方法 5A试验缆芯和护套之间的水迁移，而方法F5B和F5C试验全截面的水迁移。方法F5C包括一个预 处理步骤，1台限水流设备或更长的试样，模拟沿光缆长度某一位置或光缆端发生的渐渐进水。F5C的 种方式可选择其中之一。多层护套结构，例如铠装光缆，它们未设计成阻水结构，因此在施加密封头 之前去掉外护层

在距离光缆试样段一端3m处环状去除25mm宽的护套和包带，把1个水密闭套管施加在暴露的 缆芯上，如同桥接在护套间隙上机械标准，并施加1m高水头。 试样的相反一端应加密封帽，以便堵住泄漏水。 试样应足够长，它包括试验端长度、剥除护套的长度和足以用端帽堵住相反一端的长度。通常 3.1m就足够了

4.2.2方法 F5B

光缆试样长度不超过3m。 应把1个水密闭套管施加到试样的一端，施加1m高的水头。 注1：如果铠装光缆的铠装层不是阻水结构，可在施加密封套之前剥除光缆端头的铠装。 注2：水压可能把光纤和填充复合物从填充式光缆缆芯的松套管挤出来，这种情况导致“试验无效”。因此，缆芯可 能需要在出口端（例如用屏障或包上布)阻止光纤出来。由于填充松套管具有极好的阻水能力，试验重点可集 中在光缆其他部分的渗水性能。有鉴于此，宜在入口端把填充松套管堵起来，以避免填充松套管中的光纤和 填充复合物被挤出。

4.2.3方法F5C(适用于含吸水膨胀材料的光缆

不超过3m的光缆用于预浸渍或插捕细管程序。除此之外，也可采用不超过40m的较长光缆试样。 在试样一端加上水密闭封头，以便施加1m高的水头。 注1：如果铠装光缆的铠装层不是阻水结构，在施加密封套之前可剥除光缆端头的铠装。 注2：水压可能把光纤和阻水材料从填充式光缆缆芯的松套管挤出来。这种情况导致为“试验无效”。因此，缆芯可 能需要在出口端（例如用屏障或包上布）阻止光纤出来

不超过3m的光缆用于预浸渍或插捕细管程序。除此之外，也可采用不超过40m的较长光缆试 在试样一端加上水密闭封头，以便施加1m高的水头。 注1：如果铠装光缆的铠装层不是阻水结构，在施加密封套之前可剥除光缆端头的铠装。 注2：水压可能把光纤和阻水材料从填充式光缆缆芯的松套管挤出来。这种情况导致为“试验无效”。因此，缆芯 能需要在出口端（例如用屏障或包上布）阻止光纤出来

4.3.1试验装置和布局

合适的试验安排分别见图3～图8。方法F5A见图3，方法F5B见图4，方法F5C见图5～图8。 羊细规范另有规定，试样应水平支撑

水应是饮用水，可选择自来水、去离子水或蒸馏水， 可使用水溶性荧光染料或其他合适的着色剂加入水中，以协助检测水泄漏。宜仔细选择荧光染料， 它不应与光缆的任何构件发生反应。 注：荧光剂在某种程度上会抑制吸水膨胀材料的作用，可能使试验结果有偏差 如果详细规范有要求，模拟海水（或其他）的水可用于试验，这样的特殊考虑适用暴露于盐水地域的 光缆。

水应是饮用水，可选择自来水、去离子水或蒸馏水， 可使用水溶性荧光染料或其他合适的着色剂加人水中，以协助检测水泄漏。宜仔细选择荧光染料， 它不应与光缆的任何构件发生反应。 注：荧光剂在某种程度上会抑制吸水膨胀材料的作用，可能使试验结果有偏差 如果详细规范有要求，模拟海水（或其他）的水可用于试验，这样的特殊考虑适用暴露于盐水地域的 光缆。

4.3.3细管（方法F5C)

个细管可位于水源连接管到试样的位置，以限制水流速率。 如果采用细管，其内径应为1.50mm士0.25mm，最大长度为30mm（见图7）

4.4.1方法F5A和F5B

应施加1m高的水头，持续24h。

应施加1m高的水头，持续24h，

4.4.2方法 F50

试样一端应在水桶中预浸渍100mm士10mm的长度，持续10min。 预浸渍程序之后，在同一端施加水密封，施加1m高的水头，持续24h

如果采用的话，细管可以设置在水头源和试样之间的连接管部位。 1m高的水头施加24h。

1m高的水头施加24h

对于方法F5A、F5B和F5C，在规定的试验期间内试样未密封端应检测不到水。如果使用荧光染

GB/T7424.22—2021料，可使用紫外光来检查注：4.4的试验程序是基本的要求。对日常评定，可以用较短长度的试样试验较短的时间。4.6待规定细节详细规范应包括如下内容：a)采用方法F5A、F5B或F5C（见图3～图8）；任何可选的试样长度、水头高度、水的类型或试验持续时间；c)当采用盐水（或其他水)时，另外选择的试样长度、预处理或泄漏要求。4.7待报告细节待报告细节应包括如下内容：a)如果使用方法F5C，采用哪种可选程序，如预浸渍、细管、较长试样；b)染料的细节（当采用时）；c)试样长度（当不同于上述规定时）；d)试验持续时间（当不同于上述规定时）。端帽试样试样25mm3 m图3方法F5A的试验装置1 m水水密封试样（最长3m）图4方法F5B的试验装置

GB/T 7424.22—2021水密封试样（最长3m）预浸渍100 mm±10 mm图5方法F5C预浸渍试样的试验装置光缆试样100 mm±10 mm图6方法F5C预浸渍程序的装置水密封试样（最长3m）图7方法F5C细管的试验装置水1 m水密封试样（最长40m）图8方法F5C较长试样的试验装置0

GB/T7424.22—2021

光缆暴露于核辐射中能引起光纤的衰减变化和光缆所用材料的物理特性变化，通常衰减变化比物 理特性变化更敏感， 当暴露于辐射时，成缆光纤和未成缆光纤的衰减通常会增加，这首先是由于在玻璃中的缺陷位置俘 获辐射分解电子和空穴的缘故。聚合物材料暴露于辐射中通常引起性能劣化，例如拉伸强度、断裂伸率 和冲击性能随着材料变脆而劣化（虽然某些材料在相对低的辐照下由于交联而初期表现出改善）。 在光缆工作环境包括暴露于核辐射中的特殊情况下，例如军事应用、用在核电站某些区域及核试验 室中的光缆，可选用具有适当辐射 金属护套或复合屏蔽层

式样应符合GB/T15972.54的规定

设备描述见GB/T15972.54

对于包括已成缆光纤在内的光纤的辐射响应，按GB/T15972.54中给出的核辐射

待规定细节见GB/T15972.54

待规定细节见GB/T15972.54

本试验仅适用于采用充气压保护的非填充光缆。其目的是测量这种光缆的充气气阻。 充气光缆的气阻是充气过程和系统有效运行的保证。采用干燥空气得到的结果可用于计算采用 气体时的性能

成品光缆试样应满足本试验所需的长度

设备应包括： a）充气设备，用于给试样提供受控的空气气压； b）1只流量计； c）1只气压表； d)1 只温度计。

应测量环境温度和大气压。 成品光缆段应有一端连接到稳态的干燥空气源，并用流量计测量控制，在温度为20℃时，干燥空气 的相对湿度为5%或更低。光缆的另一端应向大气散开。 施加穿过光缆的气压宜为62kPa，其相对误差为土2%，采用定标到土10%的流量计记录稳态空气 流。按特殊用户的要求和详细规范中的规定，可以施加其他的压力。 应只测量那些在护套以内通过的气路， 完成1次测量后应以反方向的气流进行第2次测量，其测量结果应分别记录。 按公式（1)计算得出气阻R

R——气阻，单位为千帕秒每立方米米[kPa·s/（m·m)] 一流量，单位为立方米每秒（m/s）； 一试样长度，单位为米(m)。

气阻应符合详细规范中给出的最大值。

详细规范应包括如下内容： a）最大气阻； b) 试样长度； 气压（当不同于62kPa时）

详细规范应包括如下内容： a）最大气阻； b）试样长度； 气压（当不同于62kPa时）

本试验适用于高温和温度循环试验的光缆，以模拟光缆衰减的寿命特性或详细规范规 属性。 光缆寿命结束并不能通过本试验来预测，但试验数据对光缆寿命的建模很有用。

试样应与方法F1温度循环中叙述的相同。如果将本试验方法与方法F1串联进行，则先执行 一试样再执行本试验。

设备应与方法F1所述一样

设备应与方法F1所述一样

GB/T7424.222021

本试验常作为F1的一部分使用，并应在方法F1的温度循环试验之后进行。这时，方法F9的初始 衰减值应是F1最后1个循环结束后的环境温度下的测量值。如果本试验不与F1一起使用，则初始衰 减值应在环境温度下测量。 光缆应暴露在规定的温度和时间，在此阶段不需要衰减测量。 老化之后，则需按照方法F1的温度循环进行2个循环试验。在温度循环结束时，温度应降到室 温，保持24h，并测量衰减，

根据初始测量值和试验结束后的测量值计算衰减变化。除非用户与供方之间另有商定，最大允许 附加衰减应是： a）对于单模光纤，在1550nm测量的最大附加衰减为0.25dB/km，平均值为0.10dB/km； b）对于多模光纤，在1300nm测量的最大附加衰减为0.6dB/km，平均值为0.4dB/km。 衰减测量完毕后，在光缆上合适的位置进行解剖，各个着色元构件（如光纤、松套管、护套）应符合附 录B的要求。

详细规范应包括如下内容： a）暴露温度； b）暴露时间； c）允许的最大衰减变化（当不同于7.5时） d）除了7.5的要求,其他物理属性的测试。

8方法F10:水下光缆耐静水压

本试验的目的是通过测量衰减或监测基 化来确定水下光缆承受静水压的能力

试样的长度应足以在加压罐两外端进行终端及塞

试验设备应包括： a） 合适的衰减测量设备，用于测定衰减变化（见GB/T15972.40或GB/T15972.46的试验程 序）； b）加压罐。加压罐的大小应足以容纳详细规范要求的受试长度

试验在环境温度下进行。压力应保持24h或用户与供方商定的时间

光缆应放置在加压罐中。在试验期间加压罐内的水压应是光缆水下敷设环境水压的1.1倍 在试验之前、之中和之后，应测量衰减。 宜特别注意加压罐两端的密封，不应影响试验结果，

其他要求可由用户与供方商定

详细规范应包括如下内容： a）试样长度； b）压力； c）加压持续时间

详细规范应包括如下内容： a）试样长度； b）压力； c) 加压持续时间

9方法F11.护套收缩（用于接插软线的光缆）

本试验的且的是测量拟用作接插软线（跳线的单芯和双芯光缆因老化引起的护套收缩特性。

1个盛放试样的容器，其典型尺寸为0.5mX0.5m。容器底部应铺上滑石粉或纸，使得与试样的摩 察力最小，容许护套自由移动。 1个温度箱，它能容纳试样，并保持在规定温度的土3℃以内，如GB/T2423.22一2012中第8章的 现定。 1个长度测量装置.其最小分辨率不大于0.5mm

在切取试样之前，交货盘上的光缆应在室温下处理24h。 在每个标称长度的试样上标注测试长度的标记，误差不超过土0.5mm。 测量并记录每个试样上两标记之间的长度（L，）。 测试试样大致水平放置在容器中，当空间允许时，试样也可以直线状态放置在容器内。如果试样需 盘绕，则盘绕半径不应小于150mm，并允许护套能够自由移动。 温度箱应加热到规定的温度。 然后，把水平放置试样的容器放人温度箱。 在规定的保温时间（当无其他规定时至少1h)之后，将放有试样的容器从温度箱取出，当无其他规 定时，允许在室温下冷却1h。 应实施最少4个这样的循环。

GB/T7424.222021

每个循环之后，应测量和记录每个试样上两标记的长度（L2）。如果试样是盘绕的，测量时需对 交直，如果盘绕的试样不能有效的校直而影响测试，则试验无效 每次循环后，每个试样的护套收缩量计算见公式（2）

L1 两标记间的初始长度，单位为毫米（mm）： L2x. 某个循环后两标记间的长度，单位为毫米（mm）； 试样编号（i=1,2,3,4,5）； 循环数（=1,2,3,4)。 每个循环之后，计算5个试样的平均值△L，=（△L1十△L.2十△L3十△L4十△L)/5。 继续后续的循环试验，直到与上 一循环结束时的长度相比，收缩量小于土1mm时试验结束

最后1个循环后5个试样相对于初始长度的平均护套收缩量不应超过详细规范的规定值。

详细规范应包括如下内容： 温度箱和暴露的高温的细节； b) 高温暴露时间（如果不是1h）； 标记和长度测量的方法； 试样在容器中的摆放和固定； e）循环次数。

待报告细节应包括如下内容： a) 所有试样各自的收缩值； b) 平均护套收缩值； 偏离本试验方法的情况

待报告细节应包括如下内容： a）所有试样各自的收缩值； b）平均护套收缩值； c）偏离本试验方法的情况

10方法F12.终端组件用光缆的温度循环

目的是检验终端组件用光缆经受温度循环时的衰 是光缆通用的温度循环试验

取自成品光缆段，试样长度应符合详细规范的规

设备应包括： a）1个温度箱，它适合于容纳试样，并把规定的温度保持在土3℃以内，如GB/T2423.22一2011 中第8章的规定； b）符合GB/T15972.40和GB/T15972.46的衰减监测设备

试样应放入温度箱，其存放方法应不影响光纤的热胀冷缩。在箱内的试样两端，光缆的所有元构件 应固定在一起，以避免固定点的光缆元构件之间有任何相对移动，固定方式如夹紧，或注射粘合剂，或安 装有连接器。这些固定方法不应对试样的衰减产生影响。光纤两端（在温度箱外）可临时与尾纤相连 接。在温度箱外试样的摆放应不影响试验结果。 预处理程序，如果有的话，应由用户与供方商定。 温度循环应按方法F1：温度循环的初始循环程序如下： 温度箱的温度应以适当冷却速率下降到较低温度TA1/TA2； 箱内温度一且达到稳定状态，试样应在较低温度下持续合适的时长t1； 然后，把箱内温度以适当的加热速率增加到高温TBI/TB； 箱内温度一旦达到稳定状态，试样应在高温下持续合适的时长t1； 一然后，把箱内温度降低到环境温度。 以上程序即为1个循环。冷却和加热速率应不超过60℃/h

试验期间和之后，最附加衰减应符合相关详细规范规定。附加衰减应是相对于试验并始前在 温度中的初始衰减值

详细规范应包括如下内容： 试样在温度箱中的存放方法； b) 预处理程序； c) 固定光缆端的方法； 试验设备的资料，包括测量方法和注入条件； e) 循环次数； f) TAl/TA2，TB/T和t的数值

详细规范应包括如下内容： a) 试样在温度箱中的存放方法； b) 预处理程序； c) 固定光缆端的方法； d) 试验设备的资料，包括测量方法和注入条件； e) 循环次数； f) Ta / Ta. Tm / Tm 和 t: 的数值。

11方法F13:微管耐气压

本试验的目的是验证微管承受吹放微缆或光纤单元时最大内部气压的能力。 本试验确保在一个温度范围内安全运行。试验压力按详细规范要求选择为微管的最大工作压 者为此压力的倍数。如果详细规范要求试验温度高于或低于环境温度，则受控区应是一个加热或 室。典型温度范围是一20℃～十60℃。通常，随着温度升高聚合物微管的耐压性下降。

天药1m。试样两端应仔细切割，确保不破裂，以防止 接器四周漏气。本试验应在受控区进行，避免微管爆裂而飞出碎片的危险。 在试验之前，微管试样应在试验温度下处理最少4h

气压源应由用户与供方商定。通常，它是1台压缩机或气瓶。宜采用人身防护装备（PPE），如

GB/T7424.222021

微管的一端插人到加压装置中。一个完全封闭的端帽（通常是金属的）装配在另一端。启动加压装 置，气压缓慢上升到规定水平。试样内保留气压30min（除非详细规范另有规定）。 随时观察试样漏气，把微管放人盛水的容器中观察是否有气泡泄漏。30min之后（除非详细规范 另有规定），撤掉气源，取出试样。进入试验区时宜穿戴人身防护装备。 除非详细规范另有规定，应试验10个试样

试验期间所有试样应经受施加的气压而不漏气，试验之后没有且力可见损坏。

详细规范应包括如下内容： 试样长度（不同于11.2时）； b) 试验气压； 持续时间（不同于11.4时）； d) 试样数（不同于11.4时）。

12方法F14:耐紫外线

当适用时）。通过测量光缆护套试样拉伸强度和断裂伸长率来评估性能完整性的保持情况， 试验方法按照GB/T16422.2和GB/T16422.3的规定， GB/T16422.2中的试验适用于室外光缆和遭受强阳光辐射的其他光缆。GB/T16422.3中的试验 舌用于遭受荧光辐射的室内光缆

辐照设备之外，应采用1台适合护套试样拉伸的

在辐照之前，在拉伸试验机中测量对比试样的拉伸断裂强度和断裂伸长率。 当适用时，对12.2所述试样进行辐照，辐照之后，按照与对比试样相同的方法测试试样的拉伸强度 和断裂伸长率

12.4.2室外光缆的辐照（气候老化试验）

6个试样应垂直悬挂，使外表面均匀地接受光辐照的作用。试验期间，黑板或黑标温度应保持

(60士3)℃范围内，相对湿度应保持在（50士5）%（非淋浴的干燥期）。悬挂试样的转盘应以（1士0.1)r/min的速 度转动。 试样通过光辐照期，随后是温度发生变化的无辐射期。总时间120min的循环周期为：在 （60士3）℃温度下，干燥的光辐照102min，随后在（50士5）℃温度下，无辐照下淋浴18min。 除非详细规范另有规定，试验的总时长应是4000h（2000个循环）。 注：机械、入侵、气候和化学、电磁干扰4个环境（4个环境的缩写为MICE)所涉及的3个等级，试验时长从500h到 6000h不等， 对于有色试样，应采用黑板温度（60士3）℃。 辐照之后，辐照过的试样应从设备中取出，并在环境温度下处理至少16h。 6个未辐照试样在试验期间应在环境温度下保存，且避免阳光辐射，然后与辐照过的试样同时进行 拉伸测试

60士3)℃范围内，相对湿度应保持在（50士5）%（非淋浴的干燥期）。悬挂试样的转盘应以（1士0.1)r/min的速 度转动。 试样通过光辐照期，随后是温度发生变化的无辐射期。总时间120min的循环周期为：在 60士3）℃温度下，干燥的光辐照102min，随后在（50士5）℃温度下，无辐照下淋浴18min。 除非详细规范另有规定，试验的总时长应是4000h（2000个循环）。 注：机械、入侵、气候和化学、电磁干扰4个环境（4个环境的缩写为MICE)所涉及的3个等级，试验时长从500h到 6000h不等， 对于有色试样，应采用黑板温度（60土3）℃。 辐照之后，辐照过的试样应从设备中取出，并在环境温度下处理至少16h。 6个未辐照试样在试验期间应在环境温度下保存，且避免阳光辐射，然后与辐照过的试样同时进行 拉伸测试

厂房标准规范范本12.4.3室内光缆的辐照（加速紫外老化

加速紫外老化（QUV)测试条件的细节有待确定，见GB/T16422.3，对于室内光缆，试样至少辐照 20h

6个试样的平均拉伸强度和断裂伸长率应至少是

详细规范应包括如下内容： a）采用哪个方法，针对室外光缆的GB/T16422.2或针对室内光缆的GB/T16422.3； b）任何不同于上述规定的辐照条件或辐照时间； c）不同于上述规定的任何验收要求

13方法F15.光缆外部冰冻

在冷冻水快速包围光缆护套时，本试验通过观察护套物理性能的任何变化、或测量光缆衰减的任伺 变化来判定光缆外部经受冰冻（结冰）影响的能力。 注：外部冰冻试验模拟光缆周围的介质冻结管道标准规范范本，如在潮湿的土壤或水中。外部冰冻试验对室外光缆几乎没有用处，因 为这种光缆很少试验失效。室外光缆的综合性能使得光缆足够坚固，使光缆轻易地经受住本试验。本试验可 对微管中的微缆进行评估。

成圈放在水中冰冻的光缆长度应至少为50m，成圈直径由详细规范规定。光缆圈与水槽壁之间 独应是随机的。应提供足够的额外长度，以便衰减测量

设备应是1个水箱，它适于容纳光缆，并用水覆盖试样的标记段。 水应是普通自来水。本试验是基于使用自来水的，其他类型的水，例如海水或类似的水，应按照详 细规范中的规定。在此情况下，详细规范可指定与此不同的温度。 水箱应放在一个适于冻结水并使它保持在规定温度土3℃以内的温度箱内。用1台温度监测装置