GB/T 39560.5-2021 电子电气产品中某些物质的测定 第5部分:AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物和电子件中镉、铅、铬以及金属中镉、铅的含量.pdf

  • GB/T 39560.5-2021  电子电气产品中某些物质的测定 第5部分:AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物和电子件中镉、铅、铬以及金属中镉、铅的含量.pdf为pdf格式
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  • 玻璃器血的! Cd和Cr分析技术的灵敏度高,每一个样品 理步骤都要谨慎进行。所有的取样、储存和操作器具都应不含待测物。在10%硝酸4.2c)2)中浸 包所有玻璃器皿,室温下保持24h,然后用水[4.2a)进行彻底冲洗

    使用湿法酸消解法时,称取400mg已经经 精确到0.1mg。使用

    称取约1g样品,精确到0.1mg,放置在玻璃烧杯中山东标准规范范本,如使用HFL4.2e)则需使用PTFE/PFA烧 环[5.2h)1)]。使用AFS法,所需样品量为0.2g。

    使用王水消解时,称取2g经研磨的样品(最大粒径:250um),精确至0.1mg。使用微波消解法 时,称取200mg经研磨的样品(最大粒径:250um),精确至0.1mg。

    从第6章选择合适的方法,将样品预先切割或研磨至适当粒度。称样量可随待测溶液制备方法

    注:本方法不适用于氟碳化合物

    7.2.2样品消解的通用方法

    样品消解步骤如下: a】将表面皿[5.2e)5)]盖在装有样品的玻璃烧杯[5.2e)2)]加人20mL混合酸1[4.2I)1)],加 热直到样品溶解。冷却至室温,用水[4.2a)冲洗表面血皿底部和烧杯内壁。将溶液转移至 100mL容量瓶[5.2e)3],加水[4.2a)定容。所得溶液是样品的浓缩液。用水[4.2a)将样 品溶液稀释至不同测试仪器适合的浓度水平。必要时,在容量瓶L5.2e)3)加水L4.2a)」定容 前加入内标溶液4.2w),如Rh。内标元素的种类及加入量取决于所选择的分析方法。计算 结果时应考虑稀释倍数。稀释和添加内标的情况均应进行记录。 6) 使用AFS法测试时,在稀释样品溶液之前,用移液器移取2.5mL溶液至100mL烧杯 [5.2e)2)]中。将烧杯放在电热板上[5.21)],低温下加热直到溶液完全干燥。用少许水 [4.2a)]冲洗烧杯的内壁,加入1.0mL(用于测定Cd)或1.5mL(用于测定Pb)盐酸溶液 L4.2d)2),稍微加热,使烧杯中的盐溶解。将溶液冷却至室温,并将其转移到50mL容量瓶

    a)将表面血L5.2e)5)盖在装有样品的玻璃烧杯L5.2e)2)/,加入20mL混合酸1L4.21)1)」,加 热直到样品溶解。冷却至室温,用水4.2a)冲洗表面皿底部和烧杯内壁。将溶液转移至 100mL容量瓶[5.2e)3],加水[4.2a)定容。所得溶液是样品的浓缩液。用水[4.2a)将样 品溶液稀释至不同测试仪器适合的浓度水平。必要时,在容量瓶[5.2e)3)]加水[4.2a)]定容 前加入内标溶液[4.2w)],如Rh。内标元素的种类及加入量取决于所选择的分析方法。计算 结果时应考虑稀释倍数。稀释和添加内标的情况均应进行记录。 D 使用AFS法测试时,在稀释样品溶液之前,用移液器移取2.5mL溶液至100mL烧杯 [5.2e)2)]中。将烧杯放在电热板上[5.21)],低温下加热直到溶液完全干燥。用少许水 [4.2a)]冲洗烧杯的内壁,加入1.0mL(用于测定Cd)或1.5mL(用于测定Pb)盐酸溶液 L4.2d)2),稍微加热,使烧杯中的盐溶解。将溶液冷却至室温,并将其转移到50mL容量瓶

    5.2h)3)。50mL容量瓶中的溶液将分别按照以下步骤进行处理: 测定Pb时,将4.0mL掩蔽剂1[4.2t)1)]加入容量瓶中,加水[4.2a)]至刻度并混匀。静 置约30min,然后用慢速滤纸直接过滤。滤液进行测试。 测定Cd时,将1.0mL钻溶液[4.2u)]和5.0mL掩蔽剂2[4.2t)2)]加人容量瓶中,加水 「4.2.a)1至刻度。放置约30min后对溶液进行测试

    7.2.3含有Zr、Hf、Ti、Ta、Nb或W元素的样品的处理方法

    将表面皿盖[5.2h)2)在装有样品的PTFE/PFA烧杯[5.2h)1)1上。加人20mL混合酸2[4.2I)2)], 加热烧杯[5.2h)1)直到样品溶解。冷却至室温,用水[4.2a)冲洗杯盖【5.2h)2)底部和烧杯[5.2h) )内壁,并移除杯盖5.2h)2)。将溶液转移至100mL容量瓶L5.2h)3),加水至刻度。所得溶液是 详品的浓缩液。用水4.2a)将样品溶液稀释至不同测试仪器适合的浓度水平。必要时,在容量瓶 5.2e)3)加水L4.2a)」定容前加入内标溶液L4.2W),如Rh。使用氢氟酸L4.2e)」时,内标溶液 [4.2w)不应含稀土元素。内标元素的种类及加人量取决于所选择的分析方法。计算结果时应考虑稀 释倍数。稀释和添加内标的情况均应进行记录。 注:本方法不适用于AFS

    7.2.4含 Sn样品

    将表面皿盖在装有样品的玻璃烧杯[5.2e2)]上。慢慢加人混合酸3[4.2I)3)10mL,剧烈反应结 束后,缓慢加热烧杯L5.2e)2)直至样品完全溶解。冷却后,用水L4.2a)」冲洗表面血和烧杯L5.2e)2) 为壁,移除表面皿。加入10mL硫酸L4.2b)1)」,加热烧杯L5.2e)2),直到产生SO烟雾。冷却几分钟 后,加人20mL氢溴酸[4.2j)],加热烧杯[5.2e)2)]直到产生白色烟雾,重复三次。冷却至室温后,加 人10mL硝酸[4.2c)1)]溶解析出的盐。将溶液转移到100mL容量瓶[5.2e)3)]中,加水[4.2a)]定容 至刻度。所得溶液是样品的浓缩液。用水[4.2a)将样品溶液稀释至不同测试仪器适合的浓度水平。 必要时,在容量瓶5.2e)3)加水L4.2a)定容前加入内标溶液L4.2w)」,如Rh。内标元素的种类及加 人量取决于所选择的分析方法。计算结果时应考虑稀释倍数。稀释和添加内标的情况均应进行记录。 也可以将1g样品溶于40mL水L4.2a)」、12mL硝酸L4.2c)1)和6mL新制备的氟硼酸L4.2f) 200mL40%氢氟酸L4.2e)」与75g硼酸L4.2j)。上述步骤应使用PTFE/PFA烧杯L5.2h)3)」和高 密度聚乙烯容量瓶或PTFE/PFA容量瓶L5.2h)1)」。 注:本方法不适用于AFS

    王水消解步骤如下: a)称取约2g研磨的样品(最大粒径250um)放人到反应容器中,精确至0.1mg,加人30mL混合

    微波消解步骤如下: a)称取约0.2g研磨的样品(最大粒径为250μm),精确至0.1mg,置于PTFE/TFM、PTFE) PFA或由其他氟碳材料制成的消解罐[5.2h)中,加人4mLHNO3[4.2c)1)、2mLHBF [4.2f)]、1mLHOz[4.2k)]和1mL水[4.2a)]。盖上密封盖之前,小心摇动消解罐约10s, 以释放剧烈反应产生的气体。然后按照预先设定的消解程序,在微波消解系统L5.2p)」中消 解样品。在第一步消解步骤(步骤A)中,有机组分例如聚氯乙烯和一些金属元素会溶解。 注1:如果HBF,纯度不够,可用HF代替, 注2:HBF,和HF不适合于AFS法。如果仅使用HCI、HNO:或其混合酸、H2O2,则这种微波消解方法应适合 于AFS b)冷却到室温后打开消解罐(大约需要时间:1h),加人4mLHCI[4.2d)1)。再次盖上密封盖, 进行第二次微波增强消解步骤(步骤B),此步骤中,一些元素被HC1L4.2d)1)进一步溶解 表A.6中给出了一个合适的微波消解程序(步骤A和B)实例。 将消解罐再次冷却至室温后(药需1h),打开消解罐,溶液用玻璃微纤维过滤器5.2r)过滤到 25mL容量瓶[5.2e)3)]中,用5%HCI[4.2d)3)洗涤并定容。如果过滤器上有样品残留物, 则应通过适当的方法进行检查(例如XRF、碱熔法、其他酸消解法等),以确认无目标元素损

    按相同步骤同时制备试剂空白

    如果样品成分未知,宜采 用标准加人法或基体匹配法。 不存在基体干扰元素,或者如果已知样品的组 可以应用校准曲线法

    关系曲线作为校准曲线。在内标法中,以目标元素的m/强度与内标元素的m/强度比和 浓度之间的关系曲线作为校准曲线。 一m/比可以根据表A.3给出的数据来确定。 c)AAS 测得读数为目标元素的吸光度。在校准曲线法中,绘制目标元素吸光度与浓度之间的关 系曲线作为校准曲线。 在标准加人法中,将校准加入样品溶液中,通过将校准曲线外推至零吸光度来确定目标物 未知浓度。 表A.4中给出了元素的典型测量波长供选择。如果存在共存物质的干扰,则应采用标准 加人法。 d)AFS 测定Pb时,应使用载流1[4.2r)1)]和氧化还原剂[4.2p)]。测定Cd时,应使用载流 2[4.2r)2)]和还原剂1[4.2q)1)];测得读数为目标元素的荧光强度。在校准曲线法中, 绘制目标元素荧光强度与浓度之间的关系曲线作为校准曲线。 一在标准加人法中,将校准标准系列加人样品溶液中,通过将校准曲线外推到零荧光强度来 确定目标物未知浓度。 表A.5中给出元素的典型测量波长可供选择

    校准曲线建立后,测定实验室试剂空白和样品溶液。如果样品浓度超出校准曲线的范围,则应稀释 溶液到校准曲线的范围内,确保酸度匹配,并进行再次测定。 测定的准确度通过使用标准物质、校准溶液等进行定期检查(例如每10个样品一次)。如果需要 应再次建立校准曲线。 在校准结果与预期值相差超过20%的情况下,则应重新校准测定并重新测定该批次的所有样品。 如果将样品稀释到校准曲线范围,则应确保稀释的样品溶液中的酸度、内标和其他试剂浓度与储备 溶液相当。

    8.4中测得的浓度是样品溶液中各元素的含量。 。样品中各元素的含量按公式(1)计算:

    样品中Pb、Cd、Cr的含量,单位为微克每克(μg/g); 样品溶液中Pb、CdCr的质量浓度,单位为毫克每升(mg/L); A2 实验室试剂空白液中Pb、Cd、Cr的质量浓度,单位为毫克每升(mg/L); V 样品溶液的最终体积,取决于样品制备的稀释比例,单位为毫升(mL); m 所测样品的质量,单位为克(g)

    在同一实验室内,由同一检测人员,使用相同的方法,相同的设备,在短时间间隔内,测试同一材 两个独立的单一检测结果的值在下面表1中所引用的平均值范围内时,超过5%的情况下所获得 次测试结果之间的绝对差异不超过国际实验室间研究nos.2(IIS2)和4A(IS4A)的统计分析得

    的重复性限广。 在不同实验室,由不同的检测人员,使用相同的方法,不同的设备,测试同一材料,当两个独立的测 试结果的值位于表1所示值的范围内时,超过5%的情况下所获得的两次测试结果之间的绝对差异不 超过国际实验室间研究nOs.3(IIS2)和4A(IIS4A)结果的统计分析得出的再现性极限R。

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    注:由于参与国际实验室方法研究的实验室有限和缺少合适的样品,一些技术和材料类型的重复性及再现性 据不全。

    支持数据参见附录B。

    适用时,每个测试方法标准的质量保证和控制要求应包括对质控样测试频率和验收准则的要求。 本条款还应包括通用的质量控制方法如检出限(LOD)和定量限(LOQ)的确定。使用时,检出限和定量 限应与11.2的描述一致。表2中列出了其他方法专有的质量控制要求,包括有关初始校验、方法空白 实验室控制样(LCS)等。

    表2质量控制项目验收要求

    a)每当建立校准曲线时,用一来自不同校准标准系列的标准进行初始校验。 b) 每批样品进行一次方法空白分析。不含铅、镐或铬的空白基体可以作为方法空白样品。 每批次进行的一个实验室控样(LCS)和实验室重复性试验,应通过在空白基体中添加铅、镉或 铬的方法来分析。或者,重复检测含有铅、镉或铬的有证标准物质。 d 每测试10个样品和每批样品结束时,进行一次连续校验分析(CCV)。铅、镉或铬的回收率应 在90%和110%之间。如果连续校验分析(CCV)时铅、镉或铬的回收率超出此范围,则应在 12h内对该CCV标准重新分析。如果对CCV标准进行再分析后,回收率仍然超出范围,则 应停止分析,并对系统进行维护以使其恢复到最佳操作条件。最后一个正确的CCV校准结 果前检测的样品都可以出具报告,但是CCV标准不符合之后的所有样本应用新的校准手段 来进行重新检测。

    11.2检出限(LOD)和定量限(LOQ)

    按下列实验步骤确定铅、镉或铬的方法检出限和定量限。 a 准确称取适量已知不含铅、镉或铬的样品(例如,有证标准物质)或根据第7章中的相关步骤可 能会干扰分析的其他化合物。将样品依次放入每个容器中,重复样品至少5个。 b) 在每个容器中加人10μg铅、或铬储备溶液[4.2v)]。 根据第7章的测试相关步骤进行消解和光谱测定。 d) 按照第9章的规定计算每种元素的含量(ug/g),并按公式(2)每个样品中加标元素的回收率 百分比

    式中: SR—以百分数表示的铅、镉或铬的加标回收率,%:

    C一 测得的含量,单位为微克每克(ug/g); M样品质量,单位为克(g); SA加标量(10μg)。 每种样品的元素加标回收率应在70%~125%之间。如果任一重复样品的加标回收率不在规定范 围内,则应重复整个萃取和分析过程。 e)方法检出限通过计算重复分析(至少6次)的标准偏差s来获得。然后,将标准偏差乘以学生 值,重复检测n次时的自由度为n一1。表3给出了重复检测6到10次时的学生t值。 例如:重复检测6次时,自由度为6一1=5,t值为3.36。 注意.用于计算MDL的所有分析过程应是连续的

    f)方法检出限乘以因子5为方法的定量限。 不同实验室的方法检出限和定量限可能不同。一般情况下,使用本方法测试都能达到2ug/g的方 法检出限(定量限为10ug/g)

    f)方法检出限乘以因子5为方法的定量限。 不同实验室的方法检出限和定量限可能不同。一般情况下,使用本方法测试都能达到2ug/g的方 法检出限(定量限为10ug/g)

    桥梁工程表A.1镐和铅波长的光谱于扰

    十没有干扰或干扰很小(干扰元素含量通常小于0.05mg/kg)。 十十中等干扰(干扰元素含量通常在0.05mg/kg和0.2mg/kg之间)。 +++强干扰(干扰元素含量通常大于0.2mg/kg)。

    表A.2铬波长的光谱王扰

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    注:该表显示当引人1000mg/kg的相应基体元素时对铬的波长干扰强度。 +没有干扰或干扰很小(干扰元素含量通常小于0.05mg/kg)。 ++中等干扰(干扰元素含量通常在0.05mg/kg和0.2mg/kg之间)。 +++强干扰(干扰元素含量通常大于0.2mg/kg)

    如果能找到一个稳定的同位素 荷比示例见表A.3。如果样品中含有锡或钼,应注意镉质量测量中的正干扰

    表A.3质量/电荷比(m/z)示例

    表A.4给出了推荐AAS法使用的测量波长

    暖通空调管理表A.4给出了推荐AAS法使用的测量波长

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