二极管低频噪声参数测试方法

本标准规定了二极管1Hz～300kHz频率范围内的噪声参数测试方法及要求。 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。 是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T4023半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T6571半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关和调整二极管 SJ/T11769电子元器件低频噪声参数测试方法通用要求 术语和定义 GB/T4023、GB/T6571和SJ/T11769界定的术语和定义适用于本文件。 测试条件及要求 kqg 除SJ/T11769的通用要求外，二极管的低频噪声测试条件还应符合下列要求： a）测试参数包括噪声电压和噪声电压功率谱密度。 b）典型工作模式为正向的，偏置电压为正；典型工作模式为反向的，偏置电压为负。 C 低频噪声测试的偏置电压或偏置电流的数值应按照产品详细规范确定。除另有规定外，根据被 测二极管的参数测试条件，二极管的正向导通电压或反向工作电流的测试偏置条件分别作为低 频噪声参数的测试偏置条件。 测试系统的构成及要求

低频噪声测试系统的构成及要求应符合SJ/T11769的规定

5. 2 测试偏置电路

根据二极管的使用偏置状态，二极管低频噪声参数测试偏置状态包括正偏和反偏两种典型状态 二极管低频噪声测试偏置电路原理如图1和图2所示，低噪声电源提供偏置电压，RL为负载电阻， 极管两端的噪声电压信号输出到低噪声前置放大器，低噪声前置放大器的十/一表示信号的同向输入 /反向输入端。

6.3噪声电压功率谱密度

按照下列步骤，进行噪声电压功率谱密度测试： a）接入被测二极管，按4b）和4c）要求确定测试偏置电路，设置偏置电流或偏置电压； b 调节低噪声前置放大器的带宽和增益，使放大器的输出信号在数据采集分析设备的量程内； C 设置数据采集分析设备的采样率、频谱分辨率和测量平均次数。除另有规定外，测量平均次数 不少于16次：

SI/T117672020

进行噪声电压功率谱密度测试，得到噪声电压功率谱密度。典型噪声电压功率计 附录A。

测试数据的记录应符合下列要求： a）测试记录包括：测试环境条件、产品型号规格、批号、编号、偏置电压、偏置电流、噪声电压 和噪声电压功率谱密度等参数。 b）按照被测二极管对应型号产品详细规范规定的要求，形成测试报告

测试数据的记录应符合下列要求： a）测试记录包括：测试环境条件、产品型号规格、批号、编号、偏置电压、偏置电流、噪声电压 和噪声电压功率谱密度等参数。 b）按照被测二极管对应型号产品详细规范规定的要求，形成测试报告

包装标准图A.2二极管的噪声电压功率谱密度

压功率谱密度测试图谱如图A.2所示，频率范围为