GB／T 39394-2020  LED灯、LED灯具和LED模块的测试方法

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注3：可能有超过一个额定性能相关的最高温度tp*，取决于性能宣称。

主3：可能有超过 ，取决于性能宣称。

性能相关的额定最高环境温度（灯具的）ratedmaximumperformanceambienttemperature（ofa luminaire) t 在生产者或责任销售商所宣称正常燃点条件下认证标准，与灯具的额定性能相关的灯具周围的最高环境 温度。 注1：性能相关的额定最高环境温度的单位为摄氏度（℃）， 注2：对于给定的寿命，性能相关的额定最高环境温度t。.是一个固定值，而非变量，其中下标n表示标称的相关寿 命，以1000h计。例如：tg.6o中n=60代表60000h的宣称寿命。 注3：可能有超过一个的性能相关的额定最高环境温度t，取决于宣称寿命。 注4：在某些文件中用符号t。或t代替t..。 3.31 (灯具）光输出比lightoutputratio（ofaluminaire);LOR 在规定使用条件下，所测得的灯具光通量与在灯具中使用的各光源光通量之和的比值。 注1：等同于美国标准中的术语灯具效率”。 注2：在某些情况下，LOR可适用于可互换光源（如LED灯）的LED灯具。对于内部LED光源不可替换的LED灯 具，对LOR无要求。对于内部LED光源不可替换的LED灯具，仅能够测量灯具的总光通量，这种情况下 LOR可认为是100%，即无关紧要。 注3：如果灯具中的光源不便拆装可选择同类型的光源进行测试。

性能相关的额定最高环境温度（灯具的）ratedmaximumperformanceambienttemperature（ofa luminaire) t 在生产者或责任销售商所宣称正常燃点条件下，与灯具的额定性能相关的灯具周围的最高环境 温度。 注1：性能相关的额定最高环境温度的单位为摄氏度（℃）， 注2：对于给定的寿命，性能相关的额定最高环境温度t。.是一个固定值，而非变量，其中下标n表示标称的相关寿 命，以1000h计。例如：tg.6o中n=60代表60000h的宣称寿命。 注3：可能有超过一个的性能相关的额定最高环境温度t，取决于宣称寿命。 注4：在某些文件中用符号t。或tg.m代替t。。 3.31 (灯具）光输出比lightoutputratio（ofaluminaire);LOR 在规定使用条件下，所测得的灯具光通量与在灯具中使用的各光源光通量之和的比值。 注1：等同于美国标准中的术语灯具效率”。 注2：在某些情况下，LOR可适用于可互换光源（如LED灯）的LED灯具。对于内部LED光源不可替换的LED灯 具，对LOR无要求。对于内部LED光源不可替换的LED灯具，仅能够测量灯具的总光通量，这种情况下 LOR可认为是100%，即无关紧要。 注3：如果灯具中的光源不便拆装可选择同类型的光源进行测试。

总光谱辐射通量（光源的）totalspectralradiantflux（ofalightsource） 光源在全几何空间（4元立体角）内的总辐射通量Φ。的光谱密集度，见公式（1）

部分光通量（光源在指定锥角内的） angle) 光源在一指定圆锥角α内发出由光源的光强分布I（，）确定的光通量，见公式（2)

.= ()sinedg

注1：部分光通量的单位为流明（lm）。 注2：（，）=（0，0）为圆锥轴方向。 注3：圆锥角α为圆锥的全角（直径）。 注4：“圆锥光通量”也用于与其意义相同的场合中。 注5：“有效光通量”也可以相似的意义被使用，但由圆锥轴确定，圆锥轴是光源的观察光束轴，光强相对于该光束轴 呈对称分布。

绝对光度学absolutephotometry

直接用国际标准单位测量光度参数的过程。 注：本术语常用于灯具的分布光度学中，与相对光度学（见3.35)形成对比。光强分布用坎德拉单位的绝对值来 量和报告。

相对光度学relativephotometry 获得两个光度量比值的测量。 注1：本术语常用于灯具的分布光度学中，光强分布是由所用灯的总光通量归一化相对值来表示的，以坎德拉每千 流明(cd/klm）为单位报告。 注2：本方法并不适用于LED光源和配有集成式LED光源的LED灯具。 3.36 光度探头photometerhead 探测元件与光谱加权器件（探测波段内）的组合。 注1：还可能包括对光源方向性评估的器件，如漫射窗口，透镜和光。 注2：本标准中，光度探头是指照度测量单元，包含探测器、V(入）修正滤色片，以及其他附加器件（光阑、漫射器、放 大器等）。 3.37

4.1.1标准测试条件

进行。标准测试条件包括一个设定值和一个允差区间。在精确的设定值（如测试电压）下对DUT的参 数实施测量是理想情况。但在实际情况中，考虑到实际值与设定值存在偏差，因此本测试方法中对每个 设定值规定了允差区间。如有必要，可对实际值进行校正以调节到设定值。测量结果应在标准测试条 件设定值下给出。此外，测试设备应符合规定要求，通常应规定设备性能参数的最大值或最小值（或者 给出一个范围值）。允差区间和要求见4.2、4.3、4.4和4.5。

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当仪器用来测量相关量的绝对值时，所有的测量都应溯源到SI。测试报告应包含测量不确定度 （具体见第8章）。第4章中所有关于仪器的测量不确定度值都通过扩展不确定度表示，置信区间为 95%（通常包含因子k=2）。 测试应在所有测试条件处于设定值允差区间内的条件下进行，所有的仪器应满足4.2、4.3、4.4和 4.5中的规定要求，此时测量条件被认为是符合本标准要求。为了进一步减少测量不确定度，可对设备 的实际值修正，进而确保与标准测试条件设定值的偏差处于允差区间内。设定值通常是允差区间的中 心值，但也并非总是如此。 当某些标准测试条件或要求无法满足时，若相关的测量已经校正到标准测试条件，则超过允差区间 或要求的偏差也是可以的，且此时应评估被校正参数的不确定度分量，并纳入最终的总不确定度计算 中。同时，应在测量报告中对实际的测量条件以及对参数校正至标准测试条件的情况进行说明。 为了实施校正，应确定DUT的敏感系数。只有在DUT相对于修正系数中所包含的所有量值都处 于稳定状态时，才能实施校正。 注：如若测量多个相同型号的产品，测得该型号或相近型号中某一DUT的敏感系数，可用于校正其他DUT。 对于不确定度计算，宜分析DUT的主要性能（及其相关的敏感系数）。然而，实际上，对DUT所有 的性能做详细的评估既不可能也不现实。因此，如若没有详细的信息可用，附录C中关于DUT性能的 一些敏感值可用于评估测量不确定度，但这些敏感值不可用于校正。 不确定度评估的基础模型，所有校正因子的细节以及所做的不确定度因素评估都应由实验室来保 存并根据需要使用。 在本标准中没有明确描述的测试设备的设计以及配置，只有当它们宣称可产生等同的结果时才能 接受。 更多纳入实际实验室条件的细节和例子请参见附录A，不确定度评估的指导见第8章以及参见附 录D。

4.2实验室和环境条件

图1允差区间和接受区间的示意图

测量应在环境（如烟、尘、水汽和振动）对被测量的影响可忽略不计的房间内进行。周边布置应保证

如果杂散光较大，相关的误差应被校正。更多信息

对于LED灯、LED光引擎（根据环境温度设计的)以及LED灯具测量，设定的环境温度值tamb应为 25.0℃。 允差区间：±1.2℃。 为了满足这个要求，温度测量的结果应位于接受区间内（见4.1.2）。例如，温度测量的不确定度是 0.2℃，接受区间则是士1.0℃。如若不确定度更大，则接受区间将更小。 应选取可代表靠近DUT周围温度的点进行环境温度测量。对于积分球而言，温度传感器宜设置 在球内且与DUT等高处，如果DUT安装于2元积分球顶部，则宜为靠近DUT的高度。 温度测量不应被DUT的直射光影响，应安装挡板以阻挡直射光照到传感器。 室内空调和加热器的位置设置应使气流和辐射热量不直接到达DUT或温度感应器。应注意使温 度计和其外壳不挡住光线的测量路径。 注：可以用所有简便适合的温度计类型测量空气温度，比玻璃管液体温度计、热电偶和热敏电阻。通常使用外表面 抛光的金属罩住温度计以反射辐射（但如果需要可用挡屏阻止反射光线到达探测器）。 如委托人为DUT指定的宣称环境温度不是25.0℃（例如，冰箱中的LED灯具），除非测量是在该 指定温度下进行的，否则应首先报告25.0℃下的测量结果，然后应建立一个服务转换因子将25.0℃下 的测量值转换为该指定环境温度下的值。可以通过测量处于温控箱或者温控测量系统（如温控积分球） 中DUT的总光通量（或者光强度或者固定方向的亮度）比值来得到服务转换因子。单独报告服务转换 因子。

4.2.3表面温度（t，点温度）

除了按环境温度设计的LED模块以外，LED模块的所有被测量应在额定性能温度t，下报告。 允差区间：±2.5℃。 为了符合此要求，温度测试的结果应位于接受区间内。例如当表面温度测量的不确定性为0.5℃， 接受区间为士2.0℃。不确定性越大，接受区间越小。 注1：温度计校准不确定度可以小至0.2℃，但在某些情况下，表面温度的测量加进了其他因素，例如温度计表面的 热接触，导致测量不确定度升至2.0℃。 注2：依据相关额定寿命的声称，LED模块额定性能温度t，可能会不止一个数值。 注3：一旦LED模块被安装进光引擎或灯具中，它的t，点可能接触不到，制造商或委托人需指明温度监测点以及 该点温度和性能温度的关系（或者在样品上进行特殊的制备可接触到t，点）。 宜注意确保温度计及其外壳不干扰测量光路。表面温度测量的设备不应影响DUT的热行为，同 时确保DUT表面和温度计之间有良好的热接触，

除了按环境温度设计的LED模块以外，LED模块的所有被测量应在额定性能温度t，下报告。 允差区间：±2.5℃。 为了符合此要求，温度测试的结果应位于接受区间内。例如当表面温度测量的不确定性为0.5℃， 接受区间为士2.0℃。不确定性越大，接受区间越小。 注1：温度计校准不确定度可以小至0.2℃，但在某些情况下，表面温度的测量加进了其他因素，例如温度计表面的 热接触，导致测量不确定度升至2.0℃。 注2：依据相关额定寿命的声称，LED模块额定性能温度t，可能会不止一个数值。 注3：一旦LED模块被安装进光引擎或灯具中，它的t点可能接触不到，制造商或委托人需指明温度监测点以及 该点温度和性能温度的关系（或者在样品上进行特殊的制备可接触到t，点）。 宜注意确保温度计及其外壳不干扰测量光路。表面温度测量的设备不应影响DUT的热行为，同 时确保DUT表面和温度计之间有良好的热接触，

测量应在静态的空气中进行。设定值：空气流动速率为0m/s，允差区间：0m/s~0.25m/s。 为了符合此要求，测试结果应位于接受区间内（见4.1.2）。例如，空气流动测量的不确定度为 0.05m/s，接受区间则为0m/s~0.20m/s。不确定度越大，接受区间越小。 注1：DUT周围的空气流动会改变其有效的工作温度，导致光通量值发生变化。此种空气流动可以由气流、空调、 分布光度计中设备的运动，或者分布光度计架构本身的运动所引起。 注2：积分球关闭时可以满足以上要求，除非球内安装风力空气温度控制装置，此时需特别说明。关闭积分球时会 造成样品表面的气流流动，因此必要时在关闭球后使样品稳定一小段时间。 注3：对温度变化十分敏感的LED装置，需要达到更低的空气流动速率（如流动速率小于0.10m/s)。 应在DUT附近测量空气流动，并且应避免DUT受被迫冷却或者自加热的任何影响。

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对于测试过程中光源位置发生改变的分布光度计，移动速率应满足上述要求或者引入合适的校正。

规定要求：DUT在稳定和测试周期中均应保持在其设计的工作条件下。 注：本条要求不适用于温度已被设定且维持在性能温度的LED模块（见5.3.1)。 如若不能符合本条要求，则应将测量校正至设计工作姿态下。 示例：可采用辅助光度计方法校正光度测量，辅助光度计监视DUT在某一固定方向的相对光强度。本方法中，用 参考值与各个不同工作姿态下辅助光度计的测量值的比值作为测量校正因子。参考值由光源处于设计工作姿态并达到 稳定后辅助光度计的测量值来表示。辅助光度计与DUT的相对位置关系在整个测量过程中保持不变

4.3电学测试条件和电学设备

.1测试电压和测试电源

设定值为DUT的额定供电电压，或者DUT的额定供电电流（直流电流输入的LED模块），在 DUT的供电端实施测量。 允差区间：交流电压均方根（RMS)士0.4%；直流电压士0.2%。对于直流电流输人的LED模块，直 流电流士0.2%。 为了符合此要求，测量结果应位于接受区间内（见4.1.2）。如果交流电压测量不确定度为0.2%，则 接受区间为士0.2%。对伏特表以及安培表的校准不确定度的具体要求见4.3.2。 测试电压的测量应在DUT的供电输人端而非供电电源的输出端，以避免由于导线和连接器引起 的电压降造成误差。 如果额定供电电压是一个范围，测试电压应根据合适的LED性能标准（见第2章）来选择

应使用合适的测量设备测量交流/直流电压、电流和功率。 具体要求：交流伏特表和安培表的校准不确定度应小于或等于0.2%。直流伏特表和安培表的校准 不确定度应小于或等于0.1%。 应使用合适的功率计或者功率分析仪测量交流功率。功率计应有合适的带宽以覆盖电流中的谐波 成分。 具体要求：交流功率计或者功率分析仪的校准不确定度应小于或等于0.5%。带宽至少为 100kHz。当声称不具有显著高频成分（分别高于5kHz或者30kHz)时，可采用较低带宽（5kHz或 30kHz)。 注1：LED产品中可能存在或不存在显著高频成分(>5kHz)，取决于辅助机构（控制器，调光器等)的使用。对于 能够产生显著高频成分的LED控制器，带宽为100kHz可能也未必足够，功率分析仪的类型宜适应这种特殊 情况（如：1MHz带宽）。 所有供电电流的导线和连接头都应安全固定并且有足够低的阻抗。测试电路应符合相关的国家标 准。应采用4线测量方法。对于LED灯具，连接端为电压测量的参考点。 测量功率消耗非常小的LED装置时，宜保证电压表或功率计的阻抗足够大以避免由电流泄漏产生 的误差。 具体要求：电压测量电路的内部阻抗应至少为1MQ。 注2：某些DUT具有高阻抗，因此必要时可引人具有更高内部阻抗的测量设备。 直流功率的测量可通过合适的设备直接获得或者从测得的电压和电流中得到

应使用合适的测量设备测量交流/直流电压、电流和功率。 具体要求：交流伏特表和安培表的校准不确定度应小于或等于0.2%。直流伏特表和安培表的校准 不确定度应小于或等于0.1%。 应使用合适的功率计或者功率分析仪测量交流功率。功率计应有合适的带宽以覆盖电流中的谐波 成分。 具体要求：交流功率计或者功率分析仪的校准不确定度应小于或等于0.5%。带宽至少为 100kHz。当声称不具有显著高频成分（分别高于5kHz或者30kHz）时，可采用较低带宽（5kHz或 30kHz)。 注1：LED产品中可能存在或不存在显著高频成分(>5kHz)，取决于辅助机构（控制器，调光器等)的使用。对于 能够产生显著高频成分的LED控制器，带宽为100kHz可能也未必足够，功率分析仪的类型宜适应这种特殊 情况（如：1MHz带宽）。 所有供电电流的导线和连接头都应安全固定并且有足够低的阻抗。测试电路应符合相关的国家标 准。应采用4线测量方法。对于LED灯具，连接端为电压测量的参考点。 测量功率消耗非常小的LED装置时，宜保证电压表或功率计的阻抗足够大以避免由电流泄漏产生 的误差。 具体要求：电压测量电路的内部阻抗应至少为1MQ。 注2：某些DUT具有高阻抗，因此必要时可引人具有更高内部阻抗的测量设备。 直流功率的测量可通过合适的设备直接获得或者从测得的电压和电流中得到

4.3.3.1电流能力

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供电电源应为连接负载提供足够的电流处理能力。特殊情况下，包括辅助转换器的电源应具有极 低的阻抗。

4.3.3.2交流供电网络

应在DUT的供电端调节交流供电电源的电压。 具体要求：DUT测量中，供电电压的漂移或是波动应处于其测试电压接受区间内（见4.3.1）。 如若超出接受区间，应对结果进行校正。 供电电源应有正弦电压波形。当连接DUT并接通时，供电网络（供电单元、导线和连接器）电压的 总谐波失真（THD）应受到限制。 具体要求：在DUT供电端测量的电压波形的总谐波失真（THDv）应不超过1.5%。如果被测量 DUT的功率因数高于0.9，则THDv可超过1.5%但应小于3%。 注1：总谐波失真（THD)，是谐波成分（谐波电压成分U从2次到500次）总和的RMS值与基波成分U，RMS值 的比值，如公式（3）所示：

........(3)

注2：电学测量的结果很大程度上取决于电压的THD，而电压THD由交流供电网络的电源阻抗和LED装置的电 流波形决定。随着DUT的功率因数变小（尤其是功率因数低于0.5），并且产生更多高频成分时，这种影响会 更大。如果电路在高频下表现出高阻抗，则可能产生显著的测量误差。为了分析误差并减少测量电参量的不 确定度，可引人校正步骤以补偿供电网络阻抗与IEC/TR60725：2012中的参考阻抗的偏差带来的影响。 注3：可核查电路（导线、回路的长度)的阻抗对电学测量的影响，并与光度测量分开，另外使用低阻抗测量电路（导 线长度短，没有回路）。观测到的差异宜纳人不确定度评估中， 供电电压的频率应保持为规定的频率。 具体要求：供电电压的频率应维持在规定频率，允差区间士0.2%。

4.3.3.3直流供电

应在DUT的供电端调节直流电源的电压。 具体要求：在DUT的测量期间，电源电压漂移或波动应在测试电压接受区间内（见4.3.1)） 对于采用直流电流输入的LED模块，电流应在规定电流的接受区间内。 供电中应无交流纹波。 具体要求：供电电压的交流成分(RMS值)不应超过直流电压的0.5%

4.3.3.4电磁兼容性

供电电源以及周围的用电设备不应影响电学或光度测量设备。

测量应在DUT达到于稳定状态后开始。测试设备也应达到稳定状态。 在稳定期间，至少每间隔1min测量光输出和电功率。

4.4.1LED灯和LED灯具

本步骤适用于集成式LED灯、半集成式LED灯、非集成式LED灯（和LED灯具，也适用于具有

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沉的LED光引擎。 具体要求：DUT应点燃至少30min，当在至少15min内其光输出和电功率的最大读数和最小读数 间的差异小于最小读数的0.5%时，认为其已经达到稳定。如果DUT经过预点燃，则无须点燃30min 并当其读数在最后15min内符合上述要求时则认为其已稳定。 如若DUT表现出较大的波动，且LED灯在45min或LED灯具在150min内还未达到稳定状态， 可以开始测量但同时应将观测到的波动加以记录。然而，如果读数并非随意波动，而是观测到测量值缓 慢降低，此时只有当达到稳定标准时才宜开始测量。 注：通常在稳定过程中光输出会缓慢降低直到达到热稳定。然而，由于电子原因，在接近热稳定时仍然出现波动。 稳定状态与各部件的热平衡密切相关。预点燃（在将光源安装于测试系统前的点燃操作)可以缩短 在测试系统中的稳定时间。特别是在测量相同类型的产品时，如果宣称使用预点燃方法达到同样的稳 定状态，那么测试时间将可以缩短

4.4.2LED 模块

以下步骤适用于集成式LED模块、半集成式LED模块和非集成式LED模块，除了包含有热沉的 LED光引擎（设置于室温）。通过在t，点测得的DUT性能温度t，设定热条件。LED模块的温度通常 由带温控的热沉或通过额外加热来调整。 具体要求：温度达到设定的性能温度，且在15min内性能温度t，的变动位于士1℃内时，认为该 LED模块已达到稳定状态。 对于配置有热沉的光引擎，首先按照4.4.1中的步骤在25℃的室温下操作，并报告性能温度tp。 然后再按照4.4.2中的步骤，对额外的t，值实施测量。

4.5光度和色度测量设备

ISO/CIE19476.2014

4.5.1光度计的光谱灵敏度要求

4.5.2积分球（所有类型）

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分球响应的漂移量在校准间隔时间中都低于0.5%。 宜采用与DUT有相似光强分布的参考标准灯来校准积分球系统（如：全方向型或定向型）。参考 标准灯与DUT的光强分布差异宜纳入不确定度评估中

a）波长范围至少应覆盖380nm~780nm； b）光谱辐射计的波长不确定度应在0.5nm(k=2)以内； c）带宽（半峰带宽）以及扫描间隔应不大于5nm。 光谱辐射计应对可见光波段内每个波长下的辐射都具有线性响应。非线性影响应纳人不 估中。 光谱辐射计内部的杂散光应纳人不确定度评估中。 自吸收测量中的辅助灯宜可发射覆盖整个可见光波长范围的辐射

4.5.3分布光度计（所有类型）

分布光度计的角度扫描范围应覆盖整个LED装置发射光的所有立体角度，特别是测量总光通 量时。 具体要求：DUT的角度调节应确保其方向在偏离目标方向士0.5°的角度范围内，角度显示应有0.1° 或更高的读数分辨率。 对于光强分布的测量，采用传统（远场)分布光度计时，将光源的发光区域等效为点光源。根据照度

4.5.3.1采用光度探头的分布光度计

光度探头的相对光谱响应度（如果使用反射镜的话，结合反射镜的光谱反射比）应与明视觉光谱光 现效率函数V（a）相匹配。V（入)失匹配指数f，值应满足4.5.1中的要求。 必要时，应引入光谱失匹配校正。为了校正，需要获得DUT的相对光谱分布以及光度计探头（如 使用了反射镜也包括反射镜）的相对光谱响应度。关于光谱失匹配校正，可参见附录C。 分布光度计应采用溯源至SI的光强标准灯或是照度标准灯实施校准，如果还需测量总光通量，则 总光通量的值（1m）应通过测量溯源至SI的光通量标准灯对其进行验证。或者，测量总光通量用的分布 光度计系统可以通过溯源至SI的总光通量标准灯来校准，前提是分布光度计的死角区域不会对总光通 量标准灯的测量产生影响。 注：对于转镜式分布光度计，通常采用光强标准灯对光度计探头进行校准，此时光度测量距离和反射镜的反射率所 引起的测量误差都已自动包含在校准中

4.5.3.2分布光谱辐射讯

分布光谱辐射计应采用潮源至SI的光谱辐照度标准灯或是光谱辐射强度标准灯校准。对于转镜 式分布光谱辐射计，如果采用光谱辐照度标准，则应考虑反射镜的光谱反射比。如果需测量总光谱辐射 通量，则应通过测量一个溯源至SI的总光谱辐射通量标准灯来验证其值，单位为瓦每纳米（W/nm）。 或者，用于总光通量或总光谱辐射通量测量的分布光谱辐射计系统可以通过一个溯源至SI的总光谱辐 射通量标准灯来校准，前提是分布光谱辐射计的死角不会对总光谱辐射通量标准灯的测量产生影响。 分布光谱辐射计系统中的光谱辐射计应覆盖整个可见光波段范围，并具有适用于被测LED的合适 带宽和扫描间隔。波长范围至少应覆盖380nm~780nm。 具体要求：带宽（半峰带宽）和扫描间隔应不超过5nm。光谱辐射计的波长不确定度应在0.5nm （=2）以内。 光谱辐射计可见光波段每个波长下的辐射都应具有线性响应。非线性影响应纳入不确定度评 估中。 光谱辐射计内部的杂散光应纳入不确定度评估中

4.5.3.3分布色度计

分布色度计采用三刺激值色度探头（滤色片与探测器结合将其光谱响应率匹配到与CIE颜色匹配 函数接近）测量三刺激值X、Y、Z。分布色度计的Y通道应满足4.5.3.1中的要求。 除非另有说明，否则仅一个分布色度计不应用于绝对色度的测量，仅可用于色差的测量（或对某 特定DUT，经光谱辐射计校准后进行相对颜色测量）

亮度计应由溯源至SI的亮度标准进行校准。以下内容适用于传统亮度计（单点亮度测量设备）以 及成像亮度测量设备（ILMD）。 亮度计的相对光谱响应度应与明视觉的光谱光视效率函数V(a)相匹配，V(a)失匹配指数1值应 满足4.5.1中的要求。 必要时，应引人光谱失匹配校正。为了校正，要获得DUT的相对光谱分布以及光度计的相对光谱 问应度。关于光谱失匹配校正，可参见附录C。 如果使用了成像亮度测量设备，其测量不确定度应通过与瞄点亮度计测量的同一个典型LED装置 亮度分布进行比较来验证。

5准备工作、安装以及操作条件

应按照合适的LED产品性能标准实施老化（见第2章）

申请人应提供所有正确使用装置的指导。除非申请人特别要求（如维持因子的确定），否 光学部分应保持干净。

应提供所有正确使用装置的指导。除非申请人特别要求（如维持因子的确定），否则装置的 龙保持干净。

除非另有规定，LED灯应工作在自由空气中，且位于灯头垂直朝上的位置上。只有在申请者宣称 该灯只适用在某一特定方位下使用时，在所有测试中该灯都应安装在宣称的方位。如果测试过程中还 采用了不同的工作方位，4.2.5中的技术指标适用。 LED灯具应安装在制造商给出的预期使用的工作方位上，以确保装置内部及外部的空气流动产生 的热状态与实际使用条件相一致，并且进行正确校准，且所有的元件都严格的处在其设计位置上。同时 可调节部件应按制造商的说明正确设置。如在测试过程中使用了不同的工作方位，应按4.2.5的要求 进行校正。 对于LED模块，如果其温度维持在指定的性能温度t，下，则可在任意方位下工作。 DUT的安装应确保任何支承元件的热传导对装置本身产生的非预期冷却效应可以忽略。 注1：例如，一个灯具可通过线或者具有低热导率的支撑材料如聚四氟乙烯悬挂在空气中。 在任何情况下，均应报告LED装置的工作方位。 注2：LED的发光过程并不会受到方位的影响（相对于重力）。但是，LED灯和LED灯具的方位变化会导致装置内 LED热状态的改变，进而影响装置的光输出

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发光装置的光度和色度分布与其位置和方向有关。因此应建立基于DUT的坐标系统，并且光度/ 色度分布均在该坐标系统下给出。发光装置的机械位置在坐标系统应是唯一且被宣称的。坐标系统的 中心与DUT的光度中心重合。 关于坐标系统的指导请见GB/T22907一2008

一个装置的光度中心应在其发光面轮廊立体图形的中心处。 对于多面不透明的LED灯具，如果灯（或者模块)的隔间是白色或者反光的，则光度中心应处在主 灯具开口的中心；但如果灯（或者模块)的隔间是黑色或者不反光的，则光度中心应处在灯的光度中心 （灯的发光面轮廊立体图形的中心处或者模块的中心）。 当使用远场分布光度计测量具有多个明显间隙发光区域的装置时，如果不能符合4.5.3中对测试 距离的规定，则应分成多步骤测量该装置，每次分别对准一个发光区域的中心，并应报告每个发光区域 的数据。 注：当这些发光区域作为整体测量与平方反比定律偏差较大时，可认为这些发光区域间隔较大，且不可忽略。 关于光度中心补充的指导请见GB/T22907一2008中的5.3.2

家电标准5.4LED装置的工作条件

对于配有调光控制的LED装置，在所有测试中应调至最大光输出或者由申请者给出的预定义 水平。 对于配有内部反馈控制电路、外部不可调的LED装置，应按其所提供的状态进行测试。 对于具有可调颜色点的LED装置，应调节或设置到制造商或申请人指定的颜色。 对于具有百光光谱可调的LED装置，应调节到申请者指定或者按照相关标准要求的设定。 对于多色的LED装置，如RGBLED装置，应在各自全功率下单独测量各个颜色，并在全功率下 起测量所有颜色

在标准测试条件下测量LED灯，并应报告tamb=25℃时的数据。如果制造商宣称了其他工作温 度，应报告给定温度下的测量结果，或应以图表形式提供这些温度的转化因子

对于没有控制装置的LED模块，申请人应提供所用辅助设备的必要技术指标。 在标准测试条件的额定性能温度下对LED模块进行测试。t，点的温度应设置为测试温度。如果 t，点的温度不可测，制造商或申请人应指定一个温度监控点。如果需要热沉来实现LED模块的正确 工作，并且LED模块本身没有热沉，可使用一个合适的温度控制热沉。还需引入插入技术（参见附录 C）。 一个LED模块可能有不止一个额定性能相关的最高温度值tp。 不含有热沉的LED引擎在额定性能温度下的测试如上文所述。 含有热沉的LED引擎应在标准测试条件tamb=25℃下测量，测量并报告tp值。另需在tp点达到 指定的性能温度的条件下作进一步测量。如果t。点的温度不可测，申请人应指定一个温度监控点。

在标准测试条件tamb=25℃下测量LED灯具。 注：t，与LED灯具终端用户没有关系并且通常不可获得。 应报告tamb=25℃下的数据。如果宣称了除25℃以外的其他额定最大性能温度tp#，则应提供 下的转化因子（见4.2.2以及参见附录C.1.2）。可以宣称有多个额定最大性能温度。

在标准测试条件t.mh=25℃下测量LED灯具， 注：t，与LED灯具终端用户没有关系并且通常不可获得。 应报告tamb=25℃下的数据。如果宣称了除25℃以外的其他额定最大性能温度tp，则应提供该 温度下的转化因子（见4.2.2以及参见附录C.1.2）。可以宣称有多个额定最大性能温度

本标准包括以下光度量的测量： a）总光通量； b）光效; c）光强分布； d）亮度。 学的测量方法

给排水工艺、技术6.2 总光通量的测量