SJ／T 10785-2020  电子元器件详细规范 CL10型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 评定水平EZ

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4.12.5最后测量 外观检查 无可见损伤 电容量 △C/C≤4.12.1测量值的5% 损耗角正切（tan) tan≤0.01或为4.12.1测 量值的1.2倍（取较大者） 绝缘电阻 ≥4.2.4.2规定值的50% C4分组 ND 10 4.2.5随温度变化的特性 电容量 按4.2.5的规定 ”试验项目和性能要求的章条号引自GB/T6346.11一2015表1及本规范第1章。 检查水平（IL）选自GB/T2828.1。 本表中： 检查水平； P一周期（月数）； n 一样品数； 允许的不合格品数； D一 一破坏性的； ND 一非破坏性的。 4为了用每百万分之几不合格品数（10）来检测产品出厂的质量水平，在100%检验后应进行抽样复验，抽样水平

4.2.5随温度变化的特性 电容量 按4.2.5的规定 ”试验项目和性能要求的章条号引自GB/T6346.11一2015表1及本规范第1章。 检查水平（IL）选自GB/T2828.1。 本表中： IL检查水平；

二建标准规范范本试验项目和性能要求的章条号引自 检查水平（IL）选自GB/T2828.1。 本表中：

IL一检查水平； P一周期（月数）； n一样品数； 一允许的不合格品数； D一破坏性的； ND非破坏性的。 4为了用每百万分之几不合格品数（10"）来检测产品出厂的质量水平，在100%检验后应进行抽样复验，抽样水平 应由制造厂决定。计算10数值时，任何一个参数失效都应判定为一个不合格项。在一个样本中，存在一个或多 只不合格项时，则该批产品应被拒收。 如果制造厂对尺寸测量设有统计过程控制（SPC）程序或其他方法以避免元件超出极限值，则该检验可由生产检 验代替。 如果出现一个不合格品，应使用新的样本重新进行该分组的全部试验，且不允许再有不合格品。在重新试验期间 可以继续放行产品。