单一连接硬件的试验需要一个与被试连接硬件相插合的试验端口。 试验端口、延长电缆及二者之间的连接，应尽可能达到优良的平衡或（和)屏蔽性能。为进一步增强 测量的灵敏度，可以改进试验端口与延长电缆之间的连接，因为该连接不构成被试件的组成部分。试验 端口与被试连接硬件之间的连接是不允许改进的。此外，被试连接硬件与延长电缆之间的连接也不允 许改进，因为这一终端是试验的一部分。测量的灵敏度应比被试连接硬件规定要求值优6dB。测量灵 敏度的测定见4.4.2.1。 如对试验端口和被试连接硬件之间的互操作性存疑，宜采用被试连接硬件供应商规定的或推荐的 相配连接件

4.1.3.3连接硬件插合对的试验

按4.1.1的规定，通过延长电缆端接连接硬件，对连接硬件插合对进行试验。 由于这些接端是试验的组成部分，因此不允许超出制造商的规定，对这些接端进行改进。 对于屏蔽电缆，远端接端已经包括在试验端口内。这种情况，延长电缆的质量对于试验结果不是决 定性的。

当被试连接硬件的特性阻抗不同于试验系统阻抗时高速标准规范范本，只有回波损耗低于10dB时，才要求进行阻 配。这种失配引起的误差，最高为士0.5dB，因此与吸收钳法的典型精确度相比，可以忽略不计

4.2.1延长电缆长度

试验装置近端延长电缆（靠近反射板）的长度应为4m士0.1m，装置远端延长电缆的长度应为 10m±0.1m

试样的有效试验长度受限于吸收钳和铁氧体管，如图1所

4.2.3延长电缆和试验端口的准备

选择的延长电缆，其直径应使电缆能够插入吸收钳的滑膛。 当连接硬件的终端规定了特殊的插孔界面时，则在试验端口中应采用该界面

4.2.4对称连接硬件

延长电缆在远端的每个线对均要求差模和共模终端，见图2。

电阻器R1的阻值应为延长电缆标称特性阻抗的一半。 注：对于100α对称电缆，当R2短路时，共模阻抗等于25Q。终端共模阻抗可从25QR2=0Q)变化 100 Q(R,=75Q)。 对于屏蔽电缆，终端电阻器应予屏蔽。 终端的中心线端头应连接在一起。对于屏蔽电缆，中心线端头应与屏蔽层相连接

电阻器R1的阻值应为延长电缆标称特性阻抗的一半。 注：对于100α对称电缆，当R2短路时，共模阻抗等于25Q。终端共模阻抗可从25Q(R2=0Q)变化到 100 Q(R,=75Q)。 对于屏蔽电缆，终端电阻器应予屏蔽。 终端的中心线端头应连接在一起。对于屏蔽电缆，中心线端头应与屏蔽层相连接

4.2.4.2多导体连接硬件

4.2.4.3同轴连接硬件

远端延长电缆应端接其标称特性阻抗负载。

见GB/T31723.405—2015中的5.3

见GB/T31723.405—2015中的5.4。 近端耦合衰减或屏蔽衰减试验装置如图3所示。 将吸收钳置于非金属试验支座上，传感器侧距离试验支座边缘最远50mm，距离连接硬件表面 00cm士5cm。 将吸收器置于非金属试验支座上，位置距离支座边缘最远50mm。吸收钳与吸收器之间的距离应 为600cm±10cm（见4.2.2)。 被试电缆段应悬空放置。至任何金属或非金属物体的最短距离应为60cm。 图3和图4示出了近端测量。对于远端测量，将吸收钳与吸收器的位置互换即可

注：图中的编号说明见图1

图3连接硬件近端测量试验装置

主：图中的编号说明见图！

图4连接硬件近端测量试验装置

4.4.2试验装置的验证

4.4.2.1试验装置测量灵敏度的确定

在进行测量前，应确定试验装置的测量灵敏度。 试验装置可测得的耦合衰减或屏蔽衰减最佳值（测量灵敏度），取决于试验端口（适用时）和延长电 览的特性。 对于测量单一连接硬件的测量灵敏度，应将试验端口插合上一个试验装置校验连接器，然后通过测 量试验端口耦合或屏蔽衰减来确定。这个试验装置校验连接器应与被试连接硬件保持一致，可以是非 屏蔽或屏蔽的、平衡或不平衡的。 对于测量连接硬件插合对的测量灵敏度，应通过测量延长电缆的耦合或屏蔽衰减来确定。 测量灵敏度应按4.5的规定进行测量，并应按第5章进行表示。 宜优化试验装置，以获得尽可能高的测量灵敏度。优化的途径是选用平衡性优良、屏蔽性优良或平 衡性和屏蔽性均优良的试验端口、延长电缆和试验装置校验连接器，

4.4.2.2试验装置校准验证

见GB/T31723.405—2015中的5.4.1。

见GB/T31723.405—2015中的5.4.1

4.4.2.3连接硬件的拉力

铆钉标准见GB/T31723.405—2015中第6章。

如果测量灵敏度比实测耦合或屏蔽衰减高出6dB，则该实测值应作为试验报告结果。否则，报告 中应说明被试连接硬件的耦合或屏蔽衰减等于或优于实测耦合或屏蔽衰减。 屏蔽或耦合衰减一般随着频率而增大。 如果在相关连接硬件规范中有要求，应报告在规定频率范围内耦合衰减a。与频率关系曲线的最差 值（近端或远端测量）。

对于不对称和对称连接硬件，将边 dB表示。边界曲线宜垂直调整，直至与耦合衰减结果的第一个谷值相交汇。边界曲线按公式（1)和公 式（2）导出。 当30MHz≤f≤100MHz

..............................

当100MHzf≤1000MHz

图5屏蔽连接硬件的典型测量值

图6无屏蔽对称连接硬件的典型测量值

教育标准图7屏蔽对称连接硬件的典型测量值