6.8像质计的类型与使用

采用GB/T23901.1（丝型像质计）或GB/T23901.2（阶梯孔型像质计）测定射线检测图像质量。 像质计放置时，应优先放置在被检工件射线源侧表面，且在焊缝被透照区中心邻近母材处，紧贴工 件表面，只要几何条件允许，像质计标记及铅字F（如使用）应位于有效评定区之外。 根据所使用的像质计类型，应注意以下两种情况： a）使用丝型像质计时，应垂直于并横跨焊缝放置，细丝朝外，其位置应确保至少有10mm丝长显 示在黑度均匀的区段（通常是邻近焊缝的母材区域）。按7.1.6和7.1.7的透照布置曝光时，丝 型像质计可平行于管环焊缝放置，丝影像不宜投影在焊缝影像上。 6） 使用阶梯孔型像质计时，像质计的放置应将所要求的孔号紧靠焊缝， 采用7.1.6和7.1.7透照布置时，像质计可放置于射线源侧或胶片侧。只有当像质计无法放置于射 线源侧时，才可放置于胶片侧，但应至少通过一次对比试验来确定影像质量，方法是在射线源侧和胶片 侧各放置一个像质计，采用相同的透照条件，观察所得底片以确定像质值。双壁透照且像质计放在胶片

侧时，不必作对比试验。此时像质值按表A.3～表A.12确定。 像质计放置于胶片侧时，应紧贴像质计放置铅字“F”，并在检测报告中注明。 如果采取相关措施能保证，相同被检工件或区域透照部位是以相同的透照参数和透照技术进行射 线检测，且获得的图像对比度灵敏度没有差异，则不必对每幅图像进行对比度灵敏度确定。具体的图像 对比度灵敏度确定要求宜由合同各方商定。 外径大于或等于200mm的管对接环焊缝，采用射线源中心法进行周向透照时，宜在圆周方向上等 间隔放置至少三个像质计

底片的观察条件应满足GB/T19802的要求， 通过观察底片上的像质计影像，确定可识别的最细丝径编号或最小孔径编号，以此作为像质值。对 丝型像质计，若在黑度均匀区域内有至少10mm丝长连续清晰可见，则该丝视为可识别；对阶梯孔型像 质计，若阶梯上有两个相同直径的孔，两孔应均可识别，则该阶梯视为可识别。 在射线检测报告中，应注明所使用的像质计类型、型号及所达到的像质值

按本部分实施射线检测的人员 商定后进行资格鉴定与认证，取得 险测相关工业门类的资格等级证书， 行岗位专业培训和授权。

通常情况下，焊缝射线检测技术应按图1图19的规定执行。 胶片应尽可能贴近被检工件放置。 D。大于100mm，或t大于8mm，或焊缝宽度大于D。/4的管对接环焊缝，不宜使用图11的双壁 双影椭圆透照技术。双壁双影椭圆透照时，若t/D。小于0.12，相隔90°透照2次，不满足条件则相隔 20°或60°透照3次。椭圆影像最大间距处应约为一个焊缝宽度。 外径D。小于或等于100mm的管对接环焊缝，双壁双影椭圆透照有困难时，可按7.1.7采用垂直 透照技术（见图12）相隔120°或60°透照3次。 采用图11、图13和图14透照布置时，射线束入射角度应尽可能小，但要防止上下两侧焊缝影像重 叠。在满足7.6的前提下，采用图13透照布置时，f应尽可能小。像质计和铅字“F”应紧贴胶片放置。 由于工件几何形状或材料厚度差等原因，经合同各方商定，可采用其他透照技术，7.1.9给出了其中 一种方法。对于截面厚度均匀的工件，不应使用多胶片法来减少曝光时间。另外，可采用相同材料进行 享度补偿。 注：对接环焊缝100%透照时所需的曝光次数见附录B

射线源位于被检工件一侧，胶片位于另一侧，见图1

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7.1.3单壁外透照法

射线源位于被检工件外侧，胶片位于内侧，见图2

图1纵缝单壁透照法的透照布置

图2环焊缝单壁外透照法的透照布置

3插入式管座焊缝单壁外透照法的透照布置

我源位于被检工件内侧中心处，胶片位于外侧，见

图4安放式管座焊缝单壁外透照法的透照布置

图5环焊缝周向曝光的透照布置

图6插入式管座焊缝单壁中心透照法的透照布置

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于被检工件内侧偏心处，胶片位于外侧，见图8～

图7安放式管座焊缝单壁中心透照法的透照布

图8环焊缝单壁偏心透照法的透照布置

图9插入式管座焊缝单壁偏心透照法的透照布置

10安放式管座煌缝单壁偏心透照法的透照布置

7.1.6双壁双影椭圆透照法

7.1.7双壁双影垂直透照法

射线源和胶片位于被检工件外侧，射线 （射，见图12

位于被检工件外侧，焊缝投影呈椭圆显示，见图1

管对接环焊缝双壁双影椭圆透照法的透照布置

7.1.8双壁单影透照法

射线源位于被检工件外侧，胶片位于另 侧，见图13～图18

图12管对接环焊缝双壁双影垂直透照法的透照布置

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缝双壁单影透照法的透照布置（像质计位于胶片

图14环煌缝双壁单影透照法的透照布置

纵缝双壁单影透照法白

16插入式管座焊缝双壁单影透照法的透照布置

）无边缘补偿的透照布置

1.9不等厚工件透照法

材料厚度差异较大，采用多胶片透照，见图19.

7.2管电压和射线源的选择

7.2.1管电压1000kV及以下的X射线机

D）有边缘补偿的透照布置

图17角焊缝透照布置

图18角焊缝透照布置

图19多胶片技术透照布置

为获得良好的检测灵敏度，宜选择尽可能低的管电压。图20给出X射线透照不同材料和不同 时，所允许使用的最高管电压，

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对某些被检区内厚度变化较大的工件透照时，可使用高于图20所示的管电压。但要注意，管电压 过高会导致检测灵敏度降低。检测钢时最大允许提高50kV，检测钛时最大允许提高40kV，检测铝时 最大允许提高30kV。

kV及以下X射线机透照不同材料和厚度所允许

加玛射线和1MeV以上的X射线充允许的透照厚度范围见表2。 经合同各方商定，采用Ir192时，最小透照厚度可降至10mm；采用Se75时，最小透照厚度可降至 5mm 对较薄的钢工件，Se75、Ir192和Co60等伽玛射线的检测灵敏度不如X射线，但由于伽玛射线源有 操作方便、易于接近被检部位等优点，当使用X射线机有困难时，可在表2给出的透照厚度范围内使用 伽玛射线源。 在某些特定的应用场合，只要能够获得足够高的图像质量，也允许将透照厚度范围放宽。 用伽玛射线检测时，输送射线源的 过总赚光时间的10%

7.5.1金属滤光板和准直器

为减少散射线的影响，射线束透照时应尽可能对准被检区域。 采用Se75、Ir192和Co60射线源或存在边缘散射时，可在工件与暗盒之间放置一个铅质滤光板滤 除散射线。根据透照厚度的不同.滤光板的厚度在0.5mm~2mm之间选择

7.5.2背散射的屏蔽

当采用新的透照布置时，应在每个暗袋后背贴上铅学“B”（高度大于或等于10mm，厚度大于或等 于1.5mm），以验证背散射的存在与否。若底片出现该字符的较亮影像，表明散射线屏蔽不符合要求； 若此字符影像较暗或不可见，表明散射线屏蔽良好。 必要时，为防止散射线对胶片的影响，应在胶片暗袋后贴附至少1mm厚的铅板或至少1.5mm厚 锡板

7.6 射线源一工件距离

fmin与d和b有关。源尺寸应按GB/T25758（所有部分）或EN12679测定。 当源尺寸有两个方向尺寸（如长、宽或长轴、短轴)时，应取较大值。 f的选择，应使f/d符合式（1)和式（2）： A级：

f/d≥7.5·62 f /d ≥15 . 62/s

当b<1.2t，式（1)和式（2)及图21中的6可由t取代。 fmin可按图21的诺模图确定。图21是根据式（1)和式（2)作出的。 使用A级技术检测平面型缺欠时，为使几何不清晰度减小为原来的1/2，fmin应按B级技术的要求 确定。 对裂纹敏感性大的材料有更为严格的技术要求时，应选用灵敏度比B级更优的技术进行透照。 采用双壁双影椭圆透照技术（见7.1.6)或双壁双影垂直透照技术（见7.1.7)时，式（1）和式（2）及图 21中的6值可取外径D。。 采用双壁单影透照技术（见7.1.8），在确定射线源一工件最小距离时，6值可取t。 射线检测时，尽可能避免采用7.1.6～7.1.8规定的双壁透照布置，优先考虑7.1.4和7.1.5规定的单 壁透照布置。采用偏心透照法时（见7.1.5），允许的min减少值不宜超过规定值的20%；采用中心透照 法时（见7.1.4图5），允许的fmin减少值不应超过规定值的50%。在图像质量满足要求的前提下，经合 同各方商定可进一步减少f

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图21确定射线源一工件最小距离fmin的诺模

平板纵焊缝透照（图1、图15、图17和图18）和射线源偏心布置透照曲面焊缝（图2图4、图8图 16)时，为保证100%透照，其曝光次数宜按技术要求确定。 射线经过厚度均匀评定区外端的斜向穿透厚度与中心束的透照厚度之比，A级应不大于1.2，B级 应不大于1.1。 底片上由于射线穿透厚度变化所引起的黑度值变化的范围，其下限值不宜低于7.8规定的数值，同 时不宜高于观片灯亮度所允许的最大黑度值。 工件被检区域应包括焊缝和热影响区，通常焊缝两侧应检测至少约10mm的母材区域。 对接环焊缝100%检测时推荐的曝光次数见附录B

选择的曝光条件宜使底片的黑度满足表5的规定。

当观片灯亮度满足7.10规定时，可采用较高的底片黑度。可评定的最天底片黑度取决于观片灯及 其最大亮度（见GB/T19802）。观片灯应标识出可评定的最大底片黑度。 灰雾度是指未经曝光即进行暗室处理的胶片的总黑度（片基十乳剂）。为避免胶片老化、显影或温 度等因素引起的灰雾度过大，应定期从所使用的未曝光胶片中取样验证灰雾度，用与实际透照相同的暗 室条件进行处理，所得的灰雾度不应大于0.3。 采用多胶片透照，单张底片观察评定时，每张底片的黑度应满足表5的规定。 采用多胶片透照，两张底片重叠观察评定时，单张底片的黑度应不小于1.3，

胶片的暗室处理按照胶片及化学药剂制造商推荐的条件进行，以获得选定的胶片系统的性能。 应注意温度、显影时间和冲洗时间。胶片处理应按GB/T19348.2进行定期检查。射线底片上不 在由于胶片在制造、加工、曝光或暗室处理等过程中产生的缺陷而造成射线底片上的虚假显示。

底片的评定宜在光线暗淡的室内进行，观片灯的亮度应可调，灯屏宜有遮光板遮挡非评定区。 应满足GB/T19802要求

射线检测后，应对检测结果及有关检测参数进行详细记录，并填写检测报告，以便于任何情况下可 对检测结果进行查询。 检测报告应至少包含以下信息： a) 检测单位； b) 工件名称； c) 材质； d) 热处理状况； e) 焊缝的坡口形式； f) 公称厚度； g) 焊接方法； h) 检测标准，包括验收要求； i) 射线检测技术和等级，包括像质计和要求达到的像质值； j) 透照布置； k) 标记；

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1) 布片图； m）射线源种类和焦点尺寸及所选用的设备； n) 胶片类型和系统分类等级、增感屏和滤光板； o) 管电压和管电流，或射线源的类型和活度； p) 曝光时间和射线源一胶片距离； q) 胶片处理：手工或自动、显影条件； r) 像质计型号和位置； s) 检测结果，包括底片黑度、像质值； t) 合同各方商定的与本部分的差异说明； u) 相关责任人员的姓名、资格及签字； v) 透照和检测报告日期

A.1单壁透照技术：像质计位于源侧

最低像质值要求见表A.1~表A.4。

表A.2阶梯孔型像质计

表A.4阶梯孔型像质计

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A.2双壁双影技术：像质计位于源侧

最低像质值要求见表A.5~表A.8

表A.6阶梯孔型像质计

表A.8阶梯孔型像质讯

表A.8阶梯孔型像质讯

A.3双壁单影或双壁双影技术：像质计位于胶片侧

最低像质值要求见表A.9~表A.12

表A.11丝型像质计

表A.10阶梯孔型像质讯

表A.12阶梯孔型像质计

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附录B （规范性附录） 对接环焊缝100%射线检测的推荐曝光次数

外径天于100mm的对接环焊缝100%透照的推荐曝光次数见图B.1～图B.4。如要检出工件中个 别横向裂纹，还应在图B.1~图B.4查出值的基础上增加曝光次数

B.2B级技术推荐曝光

当穿透厚度差与公称厚度之比△t/t小于或等于10%（B级)时，推荐曝光次数见图B.1和图B.2 此技术有利于检测出横向裂纹

图B.1At/t=10%(B级）时，单壁外透照法最少曝光次数N与t/D。和D。/f的关系

图B.1At/t=10%(B级）时，单壁外透照法最少曝光次数N与t/D。和D。/f的关系

最少曝光次数N与t/D。和D./SFD的关系

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B.3A级技术推荐曝光次数

当穿透厚度差与公称厚度之比△t/t小于或等于20%（A级）时，推荐曝光次数见图B.3和图B.4。 只有当焊缝中出现横向裂纹的可能性较小或此类缺欠还采用其他无损检测方法检测时，才推荐使用此 种技术。

图B.4At/t=20%（A级）时，偏心透照法和双壁单影透照法透照环焊缝的 最少曝光次数N与t/D.和D./SFD的关系