YB/T 4290-2012 金相检测面上最大晶粒尺寸级别(ALA晶粒度)测定方法
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6.4.1在图像区域内,用可显示整个晶粒的最大放大倍率,对最大晶粒拍照(如存在多个大晶粒,难以确 定哪个尺寸最大,则对其全部进行拍照,并对所有照片按下列步骤进行操作)。 6.4.2在照片上覆盖一个含有正方网格的透明板,使得最大晶粒能完全被网格所覆盖。推荐使用网格 线间距为5mm。计算落人待测量的最大晶粒内的网点数,落在晶粒边界上的点计为0.5个。 6.4.3以不同的角度在照片上放置透明板进行至少4次测定,每次都按照6.4.2方法计算网点个数。 6.4.4晶粒的截面积按公式(1)计算
6.4.4晶粒的截面积按公式
式中: P(の) 网格不同角度放置时所落人大晶粒内网点数的平均值; d2 间距为d的网格中每个小方格的面积; M一 一照片的放大倍率; A—晶粒截面的测量面积,
综合管廊标准规范范本A= P(0) : d2.. M
A= P(①)·d M .................................................
6.4.5将所测得的面积(如根据6.4.1规定测定多个截面面积,则应选用其最大面积)与表1中的数据 进行比较,按表1中最接近的面积确定ALA晶粒度级别,除非相关各方已商定一致取邻近的较小面积或 较大面积确定级别。
本标准所用方法的精度与偏差尚待确定。
YB/T4290—2012
edi标准片均取自GB/T24177的附录。
图A.1125×,ALA状态,本标准适用
图A.250×,宽级差状态,本标准不适用
VB/T42902012
图A.3100×,双峰状态,本标准不适用
100×项链状态,本标
密封圈标准YB/T42902012
主:图形直径修约到0.1mm
....- 检测标准
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