6.2.8功率计、光电探测器、锁相放大器和其他测试光学系统中所用光学元件需要在其检定有效周 期内。 6.2.9仪器备有一套标准样品用来校正仪器，标准样品针对特定波长（1064nm和532nm）吸收率应满 足透射式光热系统线性响应要求。

KTP单晶元件沿II类临界相位匹配方向切割， 其通光面尺寸不小于2mm×2mm，长度以保证测试时 浦光和探测光均能穿过样品前后通光面为宜。通光面需抛光良好（也可镀制增透膜，不宜镀高反膜） 并清洁于净，内部质量和光洁度应按GB/T22453一2008中5.1和5.14的规定，满足测试的要求。

8.1.1开启仪器电源，确认泵浦激光、探测激光、光学调制器、锁相放大器、计算机等都处于正常工 作状态。 8.1.2分别调节光路，使泵浦激光（1064nm和532nm）与633nm探测光均相交于一点，且该点处泵浦 光焦斑尺寸小于探测光光束截面直径。 8.1.3选择相应的泵浦激光波长，将相应标准样品放入样品台。 8.1.4调整样品台位置，使泵浦光与探测光交叉点位于标准样品内部，交叉点中心位置到样品前后通 光面的距离应大于泵浦光和探测光重叠区域长度的10倍，使泵浦光和探测光均能穿过标准样品的前后 通光面。 8.1.5分别记录定标样品的光热信号幅值Srefo、照射到定标样品上的泵浦光功率Ppumpo、透过定标样品 的探测光功率Pprobe0。 8.1.6根据标准样品的吸收率Ao，由公式(3)计算定标系数Co。 8.1.7不断调整系统直至定标系数达到仪器出厂设置规定的范围内

8.2.1取下标准样品

8.2.1取下标准样品。 8.2.2分别调节1064nm和532nm泵浦光功率使其达到实验值，其中1064nm泵浦激光功率密度应不 低于30kW/cm，532nm泵浦激光功率密度应不低于10kW/cm。 8.2.3在泵浦光被遮拦的情况下机电标准规范范本，将KTP单晶元件的Z轴方向与泵浦激光偏振方向平行、通光方向沿 着泵浦光方向固定在三维样品台上，调整样品台位置，使泵浦光与探测光交叉点位于KTP单晶元件内 部，使泵浦光和探测光均能穿过KTP单晶元件前后通光面。

8.2.2分别调节1064nm和532nm泵浦光功率使其达到实验值，其中1064nm泵浦激光功率露 低于30kW/cm，532nm泵浦激光功率密度应不低于10kW/cm。 8.2.3在泵浦光被遮拦的情况下，将KTP单晶元件的Z轴方向与泵浦激光偏振方向平行、通光 着泵浦光方向固定在三维样品台上，调整样品台位置，使泵浦光与探测光交叉点位于KTP单晶 部，使泵浦光和探测光均能穿过KTP单晶元件前后通光面

加载1064nm（或532nm）泵浦激光，记录照射到样品上的泵浦光功率Ppum 、透过样品的探 记录待测样品的光热信号幅值Ssample 将测得的Ssample、Ppump和Pprobe：代入公式(2)计算KTP单晶元件在被测点处的吸收率。 重复测量应不少于10次，记录相关数据，以测量的平均值作为该被测点处的吸收率。

8.3.1加载1064nm或532nm）泵浦激光，记录照射到样品上的泵浦光功率Ppum 、透过样品的探测 功率Pprobe 8.3.2记录待测样品的光热信号幅值Ssample 8.3.3将测得的Ssample、Ppump和Pprobe；代入公式(2)计算KTP单晶元件在被测点处的吸收率。 8.3.4重复测量应不少于10次，记录相关数据，以测量的平均值作为该被测点处的吸收率

JC/T 25132019

8.3.5沿通光方向移动样品台，可测出KTP单晶元件内部沿通光方向各点处的吸收率，并绘制出特定 波长“吸收率一距离"曲线。测量过程中泵浦光与探测光交叉点位于标准样品的内部，交叉点中心位置到 样品前后通光面的距离应大于泵浦光和探测光重叠区域长度的10倍。

8.4绿光诱导红外光吸收率的增长率

8.4.1先加载1064nm泵浦激光，检测KTP单晶元件内某一点处1064nm激光的吸收率，待1min后， 再加载532nm泵浦激光5min，检测晶体元件该点在532nm泵浦激光诱导下对1064nm激光的吸收率， 并记录该吸收率随时间的变化情况，绘制成曲线。由加载532nm泵浦激光结束和开始的吸收率增量除 以相应加载时间求得吸收率的增长率。 8.4.2重复测量应不少于10次，记录相关数据。 注：吸收率测试参照8.3.1~8.3.4执行。

8.4.2重复测量应不少于10次管道标准，记录相关

注：吸收率测试参照8.3.1~8.3.4执行

1在给定的工作条件下测量样品的吸收 泵浦激光诱导1064nm激光吸收率的增长 至少进行10次独立测量，按公式(4)计算n个测量值的平均值，计算结果保留2位有效数字。

X一一n个测量值的平均值，单位为每厘米（cm")： X,一一第i次测量值，单位为每厘米（cm")； n一一测量次数，n≥10。 9.2不确定度u.按公式(5)进行计算，计算结果保留2位有效数字

式中： uA——不确定度； X、X、n——同公式(4)

测试报告的内容一般应包括下列信息： a 测试样品情况，包括试样来源、制备情况、名称、编号、形状、尺寸、数量及在晶体中的部 位等； b 测试项目名称： c） 测试设备名称、型号和厂家等： d 测试环境，如洁净度、温度和相对湿度等： e 测试结果，包括单个值、平均值和不确定度： f）测试人和测试日期

则试报告的内容一般应包括下列信息： 测试样品情况，包括试样来源、制备情况、 位等； 测试项目名称： 测试设备名称、型号和厂家等： ） 测试环境工程造价标准规范范本，如洁净度、温度和相对湿度等： 测试结果，包括单个值、平均值和不确定度 f）测试人和测试日期

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