7. 4. 1. 8撕裂强度

安GB/T455的规定进行测定

7.4.2压纹离型膜的性能

别墅标准规范范本7.4.2.3有机硅迁移率

7.4.2.4拉伸强度和断裂伸长率

7.5.1铅、汞、镉、铬（6价）、多溴联苯、多溴苯醚等有害物质的测试，按GB/T26125一2011规 定的方法进行。 7.5.2苯、甲苯、二甲苯挥发性有机化合物的测试，按HG/T4914的规定进行。 7.5.3卤素的测定，按EN14582:2007的规定进行

1.1同一规格每班产量为一个检查批，以卷为单位。 1.2产品规格、外观（网格特征除外）应逐卷检验，其他指标按照每批次抽检率≥25%进行测

8.2.1压纹离型纸项目如下

a) 定量； b) 宽度； c) 长度； d) 外观； e) 离型力； D 残余粘着率； g) 有机硅迁移率； h）抗张强度。

8.2.2 压纹离型膜项目如下： a) 厚度； b) 宽度； c) 长度； d) 外观； e) 离型力； f) 残余粘着率； g) 有机硅迁移率； h) 拉伸强度。

8.2.2压纹离型膜项目如下：

3.2.2 压纹离型膜项目如下 a) 厚度； b) 宽度； c) 长度； d) 外观； e) 离型力； f) 残余粘着率； g) 有机硅迁移率； h) 拉伸强度。

8.3.1有下列情况之一时应进行型式检验： a） 正常生产1年后，配方和工艺有较大的改变，可能会影响产品质量时； b) 停产半年以上恢复生产时； C) 国家质量监督机构或用户提出要求时。 8.3.2型式检验为全项目检验。 8.3.3有害物质检验每年进行1次，

8.3.1有下列情况之一时应进行型式检验： a） 正常生产1年后，配方和工艺有较大的改变，可能会影响产品质量时； b) 停产半年以上恢复生产时； C) 国家质量监督机构或用户提出要求时。 8.3.2型式检验为全项目检验。 8.3.3有害物质检验每年进行1次，

8.3.3有害物质检验每年进行1次

9包装、标志、运输和贮存

端面放端盖，按防潮方式包装，外包装 反，纸管端面放木塞塞紧。或按合同规定进行， .2压纹离型膜的包装用捆箱膜（缠绕膜）进行打底，端面放托板，采用托板悬空式包装，纸 端面放木塞塞紧。或按合同规定进行

9.4.1成品在贮存期间应保持干燥、通风，防止污染，不可日晒和雨淋。 9.4.2存放环境应该以温度在一10℃～35℃、相对湿度在40%～75%为适，并避免与油类、酸类 碱类、挥发性溶剂、有害有毒物质混存。 9.4.3产品有效期为半年，超过保质期的产品经检验合格仍可使用。

9.4.3产品有效期为半年，超过保质期的产品经检验合格仍可使用。

适用压纹离型材料网格（图案）深度及变化率

试验温度23℃±1℃，相对湿度50%±5%

HG/T57522020

（规范性附录） 压纹离型材料网格（图案）深度及变化率的测定

2所示裁取试样，按图1所示取样。图中方形样张也可用面积为1dm的圆形试样（直径 替代。

按图2所示裁取试样，按图1所示取样。图中方形样张也可用面积为1dm的 127mm）替代

HG/T57522020

式中： 一网格（图案）深度变化率，以%表示； H 一一常温下3个试样的平均网格深度的数值，单位为微米（μm）； h高温下3个试样的平均网格深度的数值，单位为微米（um）。

去适用于压纹离型材料网格（图案）之间距离的

试验温度23℃±1℃，相对湿度50%±5%

4.1放大镜：10倍～20倍，带0.1mm刻度线或可移动的指示针，三折式。 4.2承物框：25.4mmX25.4mm。

附录B （规范性附录） 压纹离型材料网格（图案）间距的测定

将带方框的放大镜的框边对齐网格边，用可移动调节指示针的针尖数出在25.4mm框内的网格 数。如网格分布为非正方形的，则将放大镜旋转90°，数出另一方向的网格数。

网格（图案）间距按公式（B.1）计算

式中： D一一网格（图案）间距的数值，单位为毫米（mm）； 网格的数量。

D一一网格（图案）间距的数值，单位为毫米（mm） n网格的数量。

本方法适用于压纹离型材料晶点（含杂质、脏污）的测定。

试验温度23℃±1℃，相对湿度50%±5%。

HG/T5752—2020

C.4.1检验台：带透光的亚面玻璃，有下光源和上投侧30°照射，台面尺寸不小于2.0m×1.2m。 C.4.2美工刀：刀锋锋利。 C.4.3厚度测试仪：带分度值0.001mm、圆形头（直径为14mm）。 C.4.4放大镜：10倍~20倍。

4.1检验台：带透光的亚面玻璃，有下光源和上投侧30°照射，台面尺寸不小于2.0m×1.2r 4.2美工刀：刀锋锋利。 4.3厚度测试仪：带分度值0.001mm、圆形头（直径为14mm）。 4.4放大镜：10倍~20倍，

C.5.1.1将离型纸试样平放在检验台上，打开上投侧30°左右光源照射，人站在光源照射的对侧， 在标准模板下对照检验出现粒状的晶状物体的数量。在此要与黑点、杂质区分开，晶点是透明的。 C.5.1.2标记晶点，用带圆形头厚度测试仪测定晶点尺寸，用放大镜观测其有否影响网线的连 贯性。

C.5. 2压纹离型膜

C.5.2.1将离型膜试样平放在检验台上， 打开下光源，在标准模板下对照检验出现粒状白 的数量。在此要与黑点、杂质区分开，晶点是透明的，不能混数。

C.5.2.2用带圆形头厚度测试仪测定晶点尺寸DB11标准规范范本，并用放大镜观测晶点有否影响网纟

晶点未影响到网线的连贯性，总厚度小于产品厚度2倍的晶点为不显著晶点

D.5.1开机：开机后30min开始进行测试，建议试验期间一直保持开着状态。 D.5.2取样：用随机附带的圆形取样器按图D.1裁取试样。 D.5.3空白试验：以未被污染、和试样相同基材（未涂覆有机硅）的样品作空白校准。 注：空白试验适用于首次选用的离型材料基材，基材不变时可免空白试验。 D.5.4浸泡前试样表面有机硅涂布量检测：取3个试样，分别标记，按仪器操作规程分别测出其表 面有机硅含量，记录为1Q。、2Q。、3Qo。 D.5.5已测过的试样分别放人3个盛有20mL甲苯的烧杯中，浸泡30min。 D.5.6取出试样，在绵纸上放置30min，室温晾干。

D.5.1开机：开机后30min开始进行测试，建议试验期间一直保持开着状态。 D.5.2取样：用随机附带的圆形取样器按图D.1裁取试样。 D.5.3空白试验：以未被污染、和试样相同基材（未涂覆有机硅）的样品作空白校准。 注：空白试验适用于首次选用的离型材料基材，基材不变时可免空白试验。 D.5.4浸泡前试样表面有机硅涂布量检测：取3个试样，分别标记，按仪器操作规程分别测出其表 面有机硅含量，记录为1Q。、2Q。、3Qo。 D.5.5已测过的试样分别放人3个盛有20mL甲苯的烧杯中，浸泡30min。 D.5.6取出试样，在绵纸上放置30min，室温晾干。 D.5.7浸泡后试样表面有机硅涂布量检测：重复D.5.4，记录结果为1Q1、2Q、3Q.

紧固件标准有机硅迁移率按公式（D.1）计算： = 1Q。+2Q.+3Q

有机硅迁移率按公式（D.1）计算

有机硅迁移率； 1Q。 浸泡前试样1表面有机硅涂布量的数值，单位为克每平方米（g/m"）； 2Q。 浸泡前试样2表面有机硅涂布量的数值，单位为克每平方米（g/m）； 3Q。 浸泡前试样3表面有机硅涂布量的数值，单位为克每平方米（g/m）； 1Q1 浸泡后试样1表面有机硅涂布量的数值，单位为克每平方米（g/m）； 2Q1 浸泡后试样2表面有机硅涂布量的数值，单位为克每平方米（g/m）； 3Q 浸泡后试样3表面有机硅涂布量的数值，单位为克每平方米（g/m"）