JC／T1040-2020 建筑外表面用热反射隔热涂料

出厂检验项目为5.1所列相应标准规定的出厂检验项目

7.1. 2 型式检验

型式检验项目包括第5章规定的全部项目。有下列情况之一时，应进行型式检验： i）在正常生产情况下，一年一次； j）新产品或者产品转厂生产的试制定型鉴定时； k）产品主要原材料及用量或生产工艺有重大变更，可能影响产品质量时； 1）产品停产半年后，恢复生产时。

给水排水标准规范范本7.3检验结果的判定规则

结果的判定应按GB/T8170一2008规定的修约值

检验结果全部符合第5章的要求时，判该批产品合格。 若有两项或两项以上指标不符合标准要求，判该批产品为不合格。 若仅有一项不符合标准要求时，允许从该批产品中抽取双倍样品对不合格项进行复验。若复验结果 符合标准要求时判定该批产品合格，否则判定该批产品为不合格。

8标志、包装、运输和贮存

应符合GB/T9750的规定。在包装标志或说明书上注明产品类型。如需稀释的产品，应明确稀释剂 和稀释比例。

按GB/T13491的规定进行

产品贮存在通风、干燥处，防止日晒雨淋。水性产品冬季贮存时应采取适当的防冻措施。溶剂型 远离热源和火源。应规定并明示贮存期。

.1方法1：相对光谱法

JC/T10402020

附录A (规范性附录） 太阳光反射比和近红外反射比的测定

采用带积分球的紫外、可见光、近红外分光光度计或光谱仪精确测量材料不同波长的反射比。 阳光在热射线波长范围内的相对能量分布，通过加权平均的方法计算材料在一定波长范围内的 反射比和近红外反射比。

A. 1. 2 试验装置

波长最小范围为300nm～2500nm，最小波长间隔不应高于5nm，波长精度不应低于1.6nm，光度 测量准确度应为土1%。

A. 1. 2. 2 积分球

内径不应小于60mm，内壁应为高反射材料。

A. 1.2. 3标准白板

A.1.3测试试板制备

按6.4.3的规定进行。

按6.4.3的规定进行

A.1.4.1开机预热至稳定，设置仪器参数。 A.1.4.2使用标准白板进行校准。 A.1.4.3按仪器使用说明测量试板。平涂型样品每块试板检测1个点，质感型样品每块试板至少检测 6个点，每个检测点间距应不小于70mm。检测点中心距试板边缘至少20mm

A.1.4.1开机预热至稳定，设置仪器参数。

A.1.5.1太阳光反射比应按公式(A.1)计算：

式中： 一试板的太阳光反射比：

Zpo(a)p(2)S; Es,M

JC/T10402020

Po(2)一一标准白板的光谱反射比； p(a)一一试板的光谱反射比； S;一一太阳辐射相对光谱分布，见表A.1； △2一一波长间隔，单位为纳米（nm）。 A.1.5.2近红外反射比应按公式(A.2)计算：

po(a)——标准白板的光谱反射比； p(a)一一试板的光谱反射比； S;一一太阳辐射相对光谱分布，见表A.1； △2一一波长间隔，单位为纳米（nm）。 A.1.5.2近红外反射比应按公式(A.2)计算：

PNIR一一试板的近红外反射比 Po(2)一一标准白板的光谱反射比： p(2)一一试板的光谱反射比： S;一一太阳辐射相对光谱分布，见表A.2； N——波长间隔，单位为纳米(nm)。

Zpo(a)p(2)s;M PNIR = Es,M

表A.1太阳辐射的标准相对光谱分布

JC/T1040—2020

表A.2近红外太阳辐射的标准相对光谱分布

JC/T10402020

A.2方法2：辐射积分法

采用多个不同波段的探测器测量与法线夹角为20°的辐射反射。通过探测器配备的滤光装置， 太阳光光谱特定波段一致的电子感应，经读数模块处理后得出太阳光反射比和近红外反射比。

A. 2. 2 试验装置

A.2.2.1反射比测定仪

A. 2. 2. 1.1测量头

由钨卤素灯、带过滤器的多个不同波段探测器和内壁为漫反射白涂层的腔体组成，钨卤素灯作为辐 射源用于照射，过滤器用于调整辐射反射使之与特定波段相适应，探测器用于感应不同波段的辐射反射。 则量精度0.002。测量头内光路如图A.1所示，

图A.1测量头内光路示意图

A.2.2.1.2读数模块

A. 2. 2. 2 校准装置

黑腔体和标准板，黑腔体用于仪器调零，标准板

按6.4.3的规定进行。

A. 2. 4 试验过程

IC/T10402020

A.2.4.1开机预热至稳定。 A.2.4.2用黑腔体调零，用标准板校准。 A.2.4.3按仪器使用说明测试试板。平涂型样品每块试板检测1个点；质感型样品每块试板至少检测 6个点，每个检测点间距应不小于70mm。检测点中心距试板边缘至少20mm。

A.2.4.1开机预热至稳定。

2.4.1开机预热至稳定

JC/T10402020

附录B (规范性附录） 半球发射率的测定—辐射计法

加热探测器内的热电堆， 度稳态下通过比较高、低发射率 的大小， 得出试板的发射率。

B.2. 1. 1差热电堆式辐射能探测器

器值度高J 试板温度或标准板温度。发射率探头元件应能产生与温差成比例关系的输出电压。探测器重复性应为 ±0.01。

B.2.1.2 读数模块

读数模块与差热电堆式辐射能探测器相连，用于处理热电堆输出信号。读数模块数显分辨率应为 0.01。

B. 2. 2 标准板

由低发射率标准板和高发射率标准板组成

按6.4.3的规定进行

B.4.1.1在标准试验室环境中调节状态使高低发射率板、热沉和试板温度一致。 B.4.1.2开启试验装置电源，仪器预热至稳定。 B.4.1.3将高、低发射率标准板置于热沉上，探测器分别放在高、低发射率标准板上90S，通过微调 使读数与标准板的标示值一致，再重复一遍此步骤。 B.4.1.4将试板置于热沉上90s，然后将探测器放在试板上直至读数稳定，即为测量结果。

JC/T 1040=2020

B.4.2.1将高、低发射率标准板置于热沉上，将试板放置在热沉边，在标准试验室环境中调节状态使 高低发射率板、热沉和试板温度一致。 B.4.2.2开启试验装置电源，仪器预热至稳定。 B.4.2.3将探测器分别放在高、低发射率标准板上90s，通过微调使读数与标准板的标示值一致，再 重复一遍此步骤。 B.4.2.4将探测器放到试板被检测表面上位置1大约20s，然后将探测器贴着被测表面滑动至位置2 停留大约15s，再滑动至位置3停留大约15s，最后滑动至位置4停留约20s，记录位置4的读数，每 个位置点间距约为100mm，如图B.1所示，

图B.1检测过程示意图

IC/T 10402020

规定的同一测试工况下，测定试板与参比黑 隔热能力。

C. 2. 1 装置构成

图C.1隔热温差装置示意图

C.2.3多通道测温仪

C.2.3.1由至少8个测温探头构成。 C.2.3.2测温探头精度不低于0.1℃，能与试板和参比黑板背面紧密贴合。 C.2.3.3温度记录仪具备数据自动记录和导出功能。

料（如木材、泡沫塑料等）制成，尺寸为（80～100

C.3参比黑板及试板制备

面喷涂满足BB/T0047的黑色自喷漆的铝合金

表C.1参比板技术要求

取样标准按6.4.3的规定进行。

按6.4.3的规定进行。

C.4.1将测温探头用导热胶或导热胶带紧密粘贴在参比黑板和试板的背面。以参比黑板和试板的中心 点为圆心的半径为50mm圆周上各均匀布置4个测温点。 C.4.2将参比黑板和试验试板平铺并列放置于氙灯老化机腔体内，两块板相邻边间距10mm～15mm， 试板底部用2块绝热垫块作为支撑。 C.4.3开启氙灯老化试验机，设定辐照度在340nm波段为0.51W/m，试验舱体内空气控制温度为（38 土3）℃，湿度为（55土5)RH%，黑板温度计（50±2）℃或者黑标温度计（55±2)℃。 C.4.4当达到设定的辐照度和温湿度后开始计时，自动测温装置同时记录参比黑板和试板背部的温度； 数据记录间隔不大于60S。 C.4.50.5h后停止数据记录和导出。选取温度达到平衡开始到试验结束的所有4个测温点的数据，计 算其平均值，参比黑板记为To，试板记为Ts，可选取20min至30min之间的所有4个测温点的数据进 行计算。

IIC/T10402020

按公式（C.1)计算与参比黑板的的隔热温差△T

△T一一与参比黑板的隔热温差，单位为摄氏度（℃） Ts一一试板背面平均温度，单位为摄氏度（℃） To一一参比黑板背面平均温度，单位为摄氏度（℃） 取两块试板测试结果的算术平均值作为最后的结果市政工程标准规范范本，精确至0.1℃。同时报告试板干膜厚度