JC／T 1040-2020  建筑外表面用热反射隔热涂料

式中： c1一一污染后太阳光反射比保持率，%； po一一初始太阳光反射比： P1一一污染后太阳光反射比。 结果取所有试板的算术平均值，精确至1%

4.8与参比黑板的隔热温差

按照附录C的规定进行

土地标准c = ×100% Po

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出厂检验项目为5.1所列相应标准规定的出厂检验项目

7.1. 2 型式检验

型式检验项目包括第5章规定的全部项目。有下列情况之一时，应进行型式检验： i）在正常生产情况下，一年一次； j）新产品或者产品转厂生产的试制定型鉴定时； k）产品主要原材料及用量或生产工艺有重大变更，可能影响产品质量时； 1）产品停产半年后，恢复生产时。

7.3检验结果的判定规则

结果的判定应按GB/T8170一2008规定的修约值

检验结果全部符合第5章的要求时，判该批产品合格。 若有两项或两项以上指标不符合标准要求，判该批产品为不合格。 若仅有一项不符合标准要求时，允许从该批产品中抽取双倍样品对不合格项进行复验。若复验结果 符合标准要求时判定该批产品合格，否则判定该批产品为不合格。

8标志、包装、运输和贮存

应符合GB/T9750的规定。在包装标志或说明书上注明产品类型。如需稀释的产品，应明确稀释剂 和稀释比例。

按GB/T13491的规定进行

产品贮存在通风、干燥处，防止日晒雨淋。水性产品冬季贮存时应采取适当的防冻措施。 品应远离热源和火源。应规定并明示贮存期。

.1方法1：相对光谱法

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附录A (规范性附录） 太阳光反射比和近红外反射比的测定

采用带积分球的紫外、可见光、近红外分光光度计或光谱仪精确测量材料不同波长的反射比。 阳光在热射线波长范围内的相对能量分布，通过加权平均的方法计算材料在一定波长范围内的 反射比和近红外反射比。

A. 1. 2 试验装置

波长最小范围为300nm～2500nm，最小波长间隔不应高于5nm，波长精度不应低于1.6nm，光度 测量准确度应为土1%。

A. 1. 2. 2 积分球

内径不应小于60mm，内壁应为高反射材料。

A. 1.2. 3标准白板

A.1.3测试试板制备

按6.4.3的规定进行。

按6.4.3的规定进行

A.1.4.1开机预热至稳定，设置仪器参数。 A.1.4.2使用标准白板进行校准。 A.1.4.3按仪器使用说明测量试板。平涂型样品每块试板检测1个点，质感型样品每块试板至少检测 6个点，每个检测点间距应不小于70mm。检测点中心距试板边缘至少20mm

A.1.4.1开机预热至稳定，设置仪器参数。

A.1.5.1太阳光反射比应按公式(A.1)计算：

式中： 一试板的太阳光反射比：

Epo(2)p(2)S;M Es,M

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Po(2)一一标准白板的光谱反射比； p(a)一一试板的光谱反射比； S;一一太阳辐射相对光谱分布，见表A.1； △2一一波长间隔，单位为纳米（nm）。 A.1.5.2近红外反射比应按公式(A.2)计算：

po(a)——标准白板的光谱反射比； p(a)一一试板的光谱反射比； S;一一太阳辐射相对光谱分布，见表A.1； △2一一波长间隔，单位为纳米（nm）。 A.1.5.2近红外反射比应按公式(A.2)计算：

PNIR一一试板的近红外反射比 Po(2)一一标准白板的光谱反射比： p(2)一一试板的光谱反射比： S;一一太阳辐射相对光谱分布，见表A.2； N——波长间隔，单位为纳米(nm)。

Zpo(a)p(2)s;M PNIR = Zs,M 780

表A.1太阳辐射的标准相对光谱分布

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表A.2近红外太阳辐射的标准相对光谱分布

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A.2方法2：辐射积分法

采用多个不同波段的探测器测量与法线夹角为20°的辐射反射。通过探测器配备的滤光装置， 太阳光光谱特定波段一致的电子感应，经读数模块处理后得出太阳光反射比和近红外反射比。

A. 2. 2 试验装置

A.2.2.1反射比测定仪

A. 2. 2. 1.1测量头

由钨卤素灯、带过滤器的多个不同波段探测器和内壁为漫反射白涂层的腔体组成，钨卤素灯作为辐 射源用于照射，过滤器用于调整辐射反射使之与特定波段相适应，探测器用于感应不同波段的辐射反射。 则量精度0.002。测量头内光路如图A.1所示，

图A.1测量头内光路示意图

A.2.2.1.2读数模块

A. 2. 2. 2 校准装置

黑腔体和标准板，黑腔体用于仪器调零，标准板

按6.4.3的规定进行。

A. 2. 4 试验过程

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A.2.4.1开机预热至稳定。 A.2.4.2用黑腔体调零，用标准板校准。 A.2.4.3按仪器使用说明测试试板。平涂型样品每块试板检测1个点；质感型样品每块试板至少检测 6个点，每个检测点间距应不小于70mm。检测点中心距试板边缘至少20mm。

A.2.4.1开机预热至稳定。

2.4.1开机预热至稳定

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附录B (规范性附录） 半球发射率的测定—辐射计法

加热探测器内的热电堆， 度稳态下通过比较高、低发射率 的大小， 得出试板的发射率。

B.2. 1. 1差热电堆式辐射能探测器

器值度高J 试板温度或标准板温度。发射率探头元件应能产生与温差成比例关系的输出电压。探测器重复性应为 ±0.01。

B.2.1.2 读数模块

读数模块与差热电堆式辐射能探测器相连，用于处理热电堆输出信号。读数模块数显分辨率应为 0.01。

B. 2. 2 标准板

由低发射率标准板和高发射率标准板组成

按6.4.3的规定进行

B.4.1.1在标准试验室环境中调节状态使高低发射率板、热沉和试板温度一致。 B.4.1.2开启试验装置电源，仪器预热至稳定。 B.4.1.3将高、低发射率标准板置于热沉上，探测器分别放在高、低发射率标准板上90S，通过微调 使读数与标准板的标示值一致，再重复一遍此步骤。 B.4.1.4将试板置于热沉上90s，然后将探测器放在试板上直至读数稳定，即为测量结果

JC/T 1040=2020

B.4.2.1将高、低发射率标准板置于热沉上，将试板放置在热沉边，在标准试验室环境中调节状态使 高低发射率板、热沉和试板温度一致。 B.4.2.2开启试验装置电源，仪器预热至稳定。 B.4.2.3将探测器分别放在高、低发射率标准板上90s，通过微调使读数与标准板的标示值一致，再 重复一遍此步骤。 B.4.2.4将探测器放到试板被检测表面上位置1大约20s，然后将探测器贴着被测表面滑动至位置2 停留大约15s，再滑动至位置3停留大约15s，最后滑动至位置4停留约20s，记录位置4的读数，每 个位置点间距约为100mm，如图B.1所示，

图B.1检测过程示意图

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规定的同一测试工况下，测定试板与参比黑 隔热能力。

C. 2. 1 装置构成

图C.1隔热温差装置示意图

C.2.3多通道测温仪

C.2.3.1由至少8个测温探头构成。 C.2.3.2测温探头精度不低于0.1℃，能与试板和参比黑板背面紧密贴合。 C.2.3.3温度记录仪具备数据自动记录和导出功能。

料（如木材、泡沫塑料等）制成公园标准规范范本，尺寸为（80～100

C.3参比黑板及试板制备

面喷涂满足BB/T0047的黑色自喷漆的铝合金

表C.1参比板技术要求

按6.4.3的规定进行。

按6.4.3的规定进行。

C.4.1将测温探头用导热胶或导热胶带紧密粘贴在参比黑板和试板的背面。以参比黑板和试板的中心 点为圆心的半径为50mm圆周上各均匀布置4个测温点。 C.4.2将参比黑板和试验试板平铺并列放置于氙灯老化机腔体内，两块板相邻边间距10mm～15mm， 试板底部用2块绝热垫块作为支撑。 C.4.3开启氙灯老化试验机，设定辐照度在340nm波段为0.51W/m天然气标准规范范本，试验舱体内空气控制温度为（38 土3）℃，湿度为（55土5)RH%，黑板温度计（50±2）℃或者黑标温度计（55±2)℃。 C.4.4当达到设定的辐照度和温湿度后开始计时，自动测温装置同时记录参比黑板和试板背部的温度； 数据记录间隔不大于60S。 C.4.50.5h后停止数据记录和导出。选取温度达到平衡开始到试验结束的所有4个测温点的数据，计 算其平均值，参比黑板记为To，试板记为Ts，可选取20min至30min之间的所有4个测温点的数据进 行计算。

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△T一一与参比黑板的隔热温差，单位为摄氏度（℃） Ts一一试板背面平均温度，单位为摄氏度（℃) To一一参比黑板背面平均温度，单位为摄氏度（℃) 取两块试板测试结果的算术平均值作为最后的结果，精确至0.1℃。同时报告试板干膜厚度