GB／T 12085.5-2010  光学和光学仪器 环境试验方法 第5部分：低温、低气压综合试验

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会

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玩具标准光学和光学仪器环境试验方法 第5部分：低温、低气压综合试验

光学和光学仪器环境试验方法

弯5部分：低温、低气压综合试验

本部分规定了低温与低气压综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于在高山地区或飞机仪表盘上或导弹上使用的光学仪器、装有光学零部件的仪器和光 学零部件。 本试验目的是研究试样的光学、热学、化学和电学等特性受到低温与低气压影响的变化程度，包括 测定水的冷凝和冻结对仪器或零部件的附加影响

3.1试验箱（室）必须是空气流通的低气压或是高空模拟试验箱（室），它可以是低温、低气压的综合试 验箱（室），也可将低气压箱放在低温室中。试验箱（室）的大小及试样安放的位置，应能保证所有试样都 处于均匀的环境条件下。 3.2在试验箱（室）内，试样需先达到规定的试验温度，然后再把箱内压力降到有关标准的规定值。 3.3按条件试验方法51（见4.2)进行试验时，在升压期间，可用高纯氮气或对试样辐射加热方法，避免 试样上产生结霜和凝露。 3.4试验箱（室）内的温度和气压的变化应缓慢进行，以免引起试样的损坏。 3.5试样的各个部分都达到试验箱（室）的温度士3℃之内和气压达到规定值时暴露周期开始。散热 试样应冷却到试验温度，在温度稳定的试验箱（室)中试样的温度变化在1h内不大于士1℃时，开始降 低气压。在降压过程中，允许试样自身发热，直到试验压力达到规定值时作为暴露时间开始。暴露结束 后压力和温度的升高同时开始，箱（室）内空气和试样的温度都应测量。温度传感器在试样上的位置应 在有关标准中规定，用来测量箱（室）内空气温度的温度传感器的位置应在试验报告中说明。 3.6按条件试验方法50进行试验后，试样在压力升高过程中产生结霜和凝露的方法应在相关标准中 规定，可在下述方法中选用： a）在低气压条件下凝露的形成 在温度为一20℃～一10℃范围内和气压为40kPa以上的低气压范围内，在加热过程中将水蒸气

在温度为一20℃～一10℃范围内和气压为40kPa以上的低气压范围内，在加热过程中将水蒸气 注人试验箱（室）内。 b）在标准环境压力条件下凝露的形成 在加热期间，试验室内的压力调到标准的环境压力，而温度仍保持在一20℃～一10℃之间，由于 低温使水分凝结在试样上

石油标准4.1条件试验方法50：包括霜和露的低温、低气压综合试验 条件试验方法50包括霜和露的低温、低气压综合试验的严酷等级按表1。 4.2条件试验方法51：不包括霜和露的低温、低气压综合试验 条件试验方法51不包括霜和露的低温、低气压的综合试验的严酷等级按表1中01、02、03、04、06、

条件试验方法51不包括霜和露的低温、低气压的综合试验的严酷等级按表1中01、02、03 07的规定。

条件试验方法50的试验程序参见附录A

a）环境试验标记； b) 试样数量； c）条件试验方法50结霜的起始时间和产生方法； ) 温度传感器在试样上的位置； e） 预处理； f) 初始检测的内容和范围； g） 工作状态2工作周期的确定； h) 工作状态2中间检测的内容和范围； D 恢复； ) 最后检测的内容和范围； 评价判据； 12 试验报告的内容和范围

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附录A （资料性附录） 条件试验方法50试验程序示例

形位公差标准A.2条件试验50示例

A.2.8应注意除散热元件外，试样上需保持湿润，以免在中间检测中发生于。