GB／T 12085.22-2022  光学和光子学 环境试验方法 第22部分：低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验

若进行温度变化测试，则所需要的暴露时间从温度变化开始时启动。试样和试验箱（室）温度应 相同。 光学和光子学仪器试验应采用半正弦脉冲。试样应沿每个轴向每一方向经受1000次冲击，或确 定具体的冲击次数。 随机振动用数字控制的方式进行。加速度功率谱密度应采用按GB/T2423.56的振动控制系统进 行控制。 其他参数如低温或高温、温度变化，随机振动类型、温度暴露时间、振动暴露时间、冲击次数、冲击重 复频率、冲击或振动轴、运行状态等，应在相关规范中规定。

5.2条件试验方法22：低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动

22:低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动的产

试验应按相关规范的要求进行。

5.2低温和高温试验顺序

6.3温度变化试验顺序

首次温度周期从环境大气温度开始。一个循环的持续时间7h～8h，其取决于所需的严酷等级，与 循环过程的温差无关。试验箱（室）的平均致热或致冷速率应注意试样温度的连续变化（见图1）或应在 相应的规范中规定。 注：GB/T12085.2条件试验方法规定了试验箱（室）温度变化率在0.2K/min～2K/min的范围。然而，较高的温 度变化率是否合适，需要根据具体情况而定。实践表明1K/min～10K/min的温度变化率是合适的。 试验中，试样可在试验箱（室)内重新安置，以便试样能在大气环境温度和试验箱（室）温度之间的任 何温度下，沿另一轴进行冲击或振动，但不应出现凝露、霜或冰。

对子电控操 他功能如冷却、加热和 设备控

GB/T12085.222022

相关规范应包含以下内容： a) 环境试验标记； b) 温度暴露时间； c) 试验箱（室)温度变化率； d) 温度停留时间； e) 温差； f) 温度周期数； g) 振动暴露时间； h) 冲击次数； i) 冲击重复频率； j) 冲击轴及方向； k) 工作状态； 1) 试样数；

m）与综合试验相关的湿度； n）预处理； 初始试验的类型和范围； p）工作状态2：工作周期； ）*工作状态2:中间试验的类型和范围； r）恢复； s）最终试验的类型和范围； t）：评价标准； u）试验报告的类型和范围

电力弱电图纸、图集GB/T12085.222022

A.1此类试验结果多年的统计数据表明，该类试验为评估仪器损坏概率提供了一个相对经济的方法。 A.2仪器研发阶段，有助于从仪器可靠性及维护方面优化材料、元件及组件选择，早期发现长期使用后 可能存在的隐患。在该阶段，适合于对材料、元件及组件进行试验，而不是试验整台仪器。由于大量的 试验，尤其在生产初期（小批试产）阶段，有助于发现部件缺陷并消除部件缺陷。减少长期使用后预期的 故障概率，提高仪器的质量和可靠性。 A.3本文件也可用于生产的监控检测。同样，对于部件及整机装配，可及早发现与生产相关的缺陷或 力学、电学及光学特性的误差，从而提高生产质量。 A.4从A.2和A.3的试验结果，可推断出仪器的特定耐久性条件，以消除早期故障及老化。

A4.2仪器研发阶段，有助于从仪器可靠性及维护方面优化材料、元件及组件选择，早期发现长期使用后 可能存在的隐患。在该阶段，适合于对材料、元件及组件进行试验，而不是试验整台仪器。由于大量的 试验，尤其在生产初期（小批试产）阶段，有助于发现部件缺陷并消除部件缺陷。减少长期使用后预期的 故障概率，提高仪器的质量和可靠性。 A.3本文件也可用于生产的监控检测。同样，对于部件及整机装配，可及早发现与生产相关的缺陷或 力学、电学及光学特性的误差，从而提高生产质量。 A.4从A.2和A:3的试验结果，可推断出仪器的特定耐久性条件，以消除早期故障及老化，

GB/T12085.22—2022