CJT243-2016 建设事业集成电路(IC)卡产品检测
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在一40℃~50℃相对湿度为5%~95%的条件下卡片尺寸和翘曲应能满足ISO/1EC7810:2003 中第5章和8.11的规定
5.2.5剥离强度检测
5.2.5.1检测方法与步骤
剥离强度检测方法与步骤如下: a) 先将样卡表面切成4条10mm宽的切块; b) 再从卡基上切出一条约10mm宽的涂覆层; c) 将粘结带加在涂覆层背面,按照试验设备的操作规定,将样卡正确装人试验设备,试验设备无 误后启动设备; d) 试验结束后,对剥离强度测试值进行记录,并与标准值相比较。同样方法施工安全资料,对样卡的其余3条 涂覆层进行检验。
5.2.5.2检测要求与结果
求与结果应符合ISO/IEC7810.2003中8.8的规
5.2.6.1检测方法与步骤
触点的表面轮廓检测方法与步骤如下: 检查试验设备状态并确认状态设置正确; b) 将样卡放在刚性平台上,无误后启动设备进行测量; c)对测量结果进行判断、记录
5.2.6.2检测要求与结果
要求与结果应符合GB/T16649.1一2006中4.2
5.2.7机械强度检测
5.2.7.1检测方法与步骤
机械强度检测方法与步骤如下: a)确认样卡功能正常:
在试验设备上设置试验周期50次,并确认状态设置正确; 按照试验设备的操作规定,将样卡正面朝上装人试验设备,无误后启动设备; 试验结束后对样卡进行功能测试,对测试结果进行判断、记录。同样方法,再对样卡的背面进 行试验,
5.2.7.2检测要求与结果
5.2.8触点电阻检测
5.2.8.1检测方法与步骤
触点电阻检测方法与步骤如下: a)检查试验设备状态并确认状态设置正确; b)将样卡放在一个平整的硬表面上,将测试探针压在样卡的第一个触点上,无误后启动设备; c)对测试结果进行判断、记录; d)再移动测试探针,依次对样卡的各个触点进行测试
5.2.8.2检测要求与结果
检测要求与结果应符合GB/T16649.1一2006中4.2.5的规定。
2.9电磁于扰检测(适用于带磁条的接触式IC
5.2.9.1检测方法与步骤
电磁干扰检测方法与步骤如下: a)确认样卡功能正常; b)检查试验设备状态并确认状态设置正确; c)按照试验设备的操作规定,将样品正确装入试验设备,无误后启动设备进行测试 d)试验结束对样品进行功能测试,对测试结果进行判断、记录,
5.2.9.2检测要求与结果
5.2.10电磁场检测
5.2.10.1检测方法与步骤
电磁场检测方法与步骤如下: a)确认样卡功能正常; b) 检查试验设备状态并确认状态设置正确; C) 将样卡放人静磁场中; d)试验结束对样卡进行功能测试,对测试结果进行判断、记录
5.2.10.2检测要求
苗结果应符合GB/T16649.1一2006中4.2.6的规
5.2.11抗静电检测
5.2.11.1检测方法与步骤
抗静电检测方法与步骤如下: a)确认样卡功能正常; b) 设置试验电压2000V,并确认状态设置正确; C 按照试验设备的操作规定,将样卡正确装人试验设备,将试验设备的接地插针与样卡的接地触 点连接,无误后启动设备,对样卡的各触点进行正极性放电; d) 试验结束后,对样卡进行功能测试,对测试结果进行判断、记录。同样方法,对样卡的各触点进 行负极性放电。
5.2.11.2检测要求与结果
检测要求与结果应符合GB/T16649.1—2006中4.2.8和GB/T17554.3—2006中5.2的规定。
5.2.12抗化学性检测
5.2.12.1检测方法与步骤
抗化学性检测方法与步骤如下: a) 确认样卡功能正常; b) 将样卡分别浸人标准规定的各种溶液中1min(短期污染)或24h(长期污染); c) 从溶液中取出,立即在蒸馏水中清洗,擦干后,对样品进行功能测试、外观检验,对测试结果进 行判断、记录,
5.2.12.2检测要求与结果
检测要求与结果应符合GB/T 2006中8.4的规定
求与结果应符合GB/T17554.1—2006中5.4和GB/T14916—2006中8.4的规定。
5.2.13尺寸、触点位置和编号检测
5.2.13.1检测方法与步骤
尺寸、触点位置和编号检测方法与步骤如下: a)检查测量设备状态并确认状态设置正确; b)将样卡放在水平刚性平台上,压上2.2N士0.2N的负荷,无误后启动设备进行测量; c)对测量结果进行判断、记录。
5.2.13.2检测要求与结果
5.2.14触点的尺寸检测
5.2.14.1检测方法与步骤
触点检测方法与步骤如下: a)检查测量设备状态并确认状态设置正确; b)将样卡放在水平刚性平台上,启动设备进行测量; c)对测量结果进行判断、记录。
触点检测方法与步骤如下: a)检查测量设备状态并确认状态设置正确; 6 将样卡放在水平刚性平台上,启动设备进行测量; c)对测量结果进行判断、记录。
5.2.14.2检测要求与结果
求与结果应符合GB/T16649.2—2006中第3章自
5.2.15电气特性检测
5.2.15.1检测方法与步骤
电气特性检测方法与步骤如下: a) 检查试验设备状态并确认状态设置正确; b 按照试验设备的操作规定,将样品正确装人试验设备,无误后启动设备进行测试; c)测试结束对测试结果进行判断、记录,
5.2.15.2检测要求与结果
电气特性检测应符合GB/T16649.3一2006中第4章的规定。
电气特性检测应符合GB/T16649.3一2006中第4章的规定。
5.2.16复位应答检测
5.2.16.1检测方法与步骤
检测方法与步骤如下: a)确认所分配的样品工作正常; b)检查试验设备状态并确认状态设置正确; C 按照试验设备的操作规定,将样品正确装人试验设备,无误后启动设备进行测试; d)对测试结果进行判断、记录
5.2.16.2检测要求与结果
5.2.17操作过程检测
5.2.17.1检测方法与步骤
检测方法与步骤应符合5.2.16.1的要求。
检测方法与步骤应符合5.2.16.1的要求。
5.2.17.2检测要求与结果
5.2.18T=0异步半双工字符传输协议检测
5.2.18.1检测方法与步骤
5.2.18.2检测要求与结果
检测要求与结果应符合GB/T16649.3—2006中第8章的规定
5.2.19行业间命令检测
5.2.19行业间命令检测
5.2.19.1 检测方法与步骤
检测方法与步骤应符合5.2.16.1的要求。
5.2.19.2检测要求与结果
检测要求与结果应符合CI/T166的规定。
5.2.20.1检测方法与步骤
5.2.20.2检测要求与结果
检测要求与结果应符合CJ/T166的规定
5.2.21安全性能检测
5.2.21.1检测方法与步骤
检测方法与步骤应符合5.2.16.1的要求。
5.2.21.2检测要求与结果
要求与结果应能保障CJ/T166规定的应用安全
5.2.22命令参数检测
5.2.22.1 检测方法与步骤
检测方法与步骤应符合5.2.16.1的要求
5.2.22.2检测要求与结果
检测要求与结果应支持CI/T166规定的命令参数。
检测要求与结果应支持CI/T166规定的命令参数。
5.2.23.1检测方法与步骤
检测方法与步骤应符合5.2.16.1的要求
5.2.23.2检测要求与结果
在任何情况下应能保证非易失性存储器中数据的完整准确。
5.3非接触式IC卡检测
5.3.1弯曲应力检测
检测方法与步骤应符合5.2.1.1的要求,
.3.1.2检测要求与结果
5.3.2扭曲应力检测
5.3.2.1检测方法与步骤
检测方法与步骤应符合5.2.1.1的要求。
5.3.2.2检测要求与结果
5.3.3.1检测方法与步骤
检测方法与步骤应符合5.2.3.1的要求。
5.3.3.2检测要求与结果
紫外线检测应符合GB/T17554.1一2006中5.12
5.3.4特定温湿度下的卡片稳定性检测
5.3.4.1检测方法与步骤
检测方法与步骤应符合5.2.4.1的要求。
5.3.4.2检测要求与结果
在温度一40℃~50℃相对湿度为5%~95%的条件下,卡片尺寸和翘曲应能满足ISO/IEC 2003中第5章和8.11的规定。
5.3.5剥离强度检测
5.3.5.1检测方法与步验
检测方法与步骤应符合5.2.5.1的要求
5.3.5.2检测要求与结果
则要求与结果应符合ISO/IEC7810:2003中8.8自
5.3.6.1检测方法与步骤
检测方法与步骤应符合5.2.9.1的要求。
5.3.6.2检测要求与结果
5.3.7.1检测方法与步恶
抗静电检测方法与步骤如下:
a)确认样卡功能正常; b) 设置试验电压6000V,并确认状态设置正确; C) 按照试验设备的操作规定,将样卡正确装入试验设备,无误后启动设备,对样卡进行正极性 放电; d 试验结束后,对样卡进行功能测试,对测试结果进行判断、记录。同样方法,对样卡进行负极性 放电。
5.3.7.2检测要求与结果
5.3.8抗化学性检测
5.3.8.1检测方法与步骤
检测方法与步骤应符合5.2.12.1的要求
5.3.8.2检测要求与结果
检测要求与结果应符合GB/T17554.1一2006中5.4的规定
5.3.9卡片黏性检测
5.3.9.1检测方法与步骤
卡片黏性检测方法与步骤如下: a)确认样卡符合标准要求; b 设置试验箱的温度40℃、相对湿度40%~60%,并确认状态设置正确; c 将样卡5张一组堆积,均按同一个方向,卡的背面朝下,在最上层卡的表面,压上一个2.5kPa 的压块,放人试验设备,无误后启动设备; d)存放48h后取出,对样卡进行外观检验,对检验结果进行判断、记录
5.3.9.2检测要求与结果
则要求与结果应符合ISO/IEC7810:2003中8.9自
5.3.10射频功率和信号接口检测
5.3.10.1检测方法与步骤
检测方法与步骤应符合5.2.16.1的要求。
.3.10.2检测要求与结果
5.3.11读写距离检测
5,3.11.1检测方法与步驱
读写距离检测方法与步骤如下: a)检查试验设备状态并确认状态设置正确; b)按照试验设备的操作规定,将样卡放在正对天线的位置,无误后启动设备,移动卡或天线进
测量; c)对测量结果进行判断、记录。
5.3.11.2检测要求与结果
检测要求与结果应符合非接触卡应用的实际要求
检测要求与结果应符合非接触卡应用的实际要求
5.3.12初始化和防冲突检测
5.3.12.1检测方法与步骤
减3.12.2检测要求与结
5.3.13非正常中断的恢复机制检测
5.3.13.1检测方法与步
5.3.13.2检测要求与结果
5.3.14传输协议检测
5.3.14.1检测方法与步骤
5.314.2检测要求与结果
检测要求与结果应符合CJ/T166的规定。
5.3.15半双工块传输协议检测
5.3.15.1检测方法与步骤
5.3.15.2检测要求与结果
检测要求与结果应符合CJ/T166的规定
5.3.16.1检测方法与步骤
检测方法与步骤应符合5.2.16.1的要求。
5.3.16.2检测要求与结
检测要求与结果应符合CJ/T166的规定。
CI/T 2432016
CI/T 2432016
3.17.1检测方法与步骤
检测方法与步骤应符合5.2.16.1的要求。
5.3.17.2检测要求与结果
检测要求与结果应符合CI/T166的规定。
5.3.18.1检测方法与步骤
5.4双界面IC卡检测
5.4.1物理特性检测
5.4.1.1检测方法与步骤
检测方法与步骤应符合5.2.16.1的要求。
5.4.1.2检测要求与结果
5.4.2电气特性检测
5.4.2.1检测方法与步骤
检测方法与步骤应符合5.2.16.1的要求。
5.4.2.2检测要求与结果
5.4.3传输协议检测
5.4.3.1检测方法与步骤
检测方法与步骤应符合5.2.16.1的要求。
5.4.3.2检测要求与结果
检测要求与结果应参照接触式IC卡检测和非接触式IC卡检测的相关要求。
5.5.1物理特性检测
物理特性检测应符合5.3.1~5.3.9的要求
物理特性检测应符合5.3.1~5.3.9的要求。
物理特性检测应符合5.3.1~5.3.9的要求。
5.5.2射频功率和信号接口检测
射频功率和信号接口检测应符合5.3.10的要求。
5.5.3传输协议检测
传输协议检测应符合5.3.12、5.3.14和5.3.15的要求
5.5.4其他项目检测
其他项目检测应符合5.3.11、5.3.13、5
检测要求包括以下内容: 样品表面不应有明显的凹痕、划伤、裂缝、变形和污染等,表面镀层应均匀、不应起泡、龟裂、脱 落和磨损,金属零部件不应有锈蚀及其他机械损伤; 样品的零部件应紧固无松动,安装可替换部件的接插件应能可靠连接,键盘、开关按钮和其他 控制部件的控制应灵活可靠,布局应方便使用; 对于便携式产品而言,除特殊按键外,各按键应平整一致,其压力离散性不应大于0.3N,每个 按键在规定的负荷条件下,通断寿命应大于10°次
工程计价标准规范范本6.2.1工作温度检测
6.2.1.1检测方法与步验
则方法与步骤应符合5.2.16.1的要求。
6.2.1.2检测要求与结果
检测要求与结果应包括以下内容: a)工作温度下限应按照GB/T2423.1一2008中的“试验Ad”或“试验Ab”进行。消费设备应符 合GB/T18239一2000规定,车载设备(城市公共汽车、电车收费设备及安装在车体上的读卡 设备)应符合CJ/T3087一1999的规定。试验时间2h应工作正常: b)工作温度上限应按照GB/T2423.2一2008中的“试验Bd”或“试验Bb”进行。消费设备应符合 GB/T18239一2000规定,车载设备(城市公共汽车、电车收费设备及安装在车体上的读卡设 备)应符合CJ/T3087一1999的规定。试验时间2h应工作正常。
6.2.2购存温度检测
6.2.2.1检测方法与步垩
文化标准检测方法与步骤应符合5.2.16.1的要求。
6.2.2.2检测要求与结果
....- 检测标准
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