5.2.1被暴露材料的表面温度主要依赖于辐射吸收量、样品的辐射率、样品内部的导热量以及样品与 空气或样品与样品架之间的热传导。因为监测单个样品表面温度不切实际，所以使用特定的黑板传感 器来测量和控制暴露箱内温度。黑色表面温度传感器的黑板应安装在试样暴露区域内，以使其在相同 的平面和方向接受的辐照及冷却条件与试验平板表面相同。对于三维试样，黑板应安装在最能代表试 样核心表面的大部分的平面和方向内或在试样核心原表面的平面内。 5.2.2可以使用的两类黑色表面温度传感器：黑标温度计（BST）和黑板温度计（BPT）。 5.2.2.1黑标温度计由一块厚度为0.5mm～1.2mm的不锈钢平板组成。典型的长度和宽度约为 70mmX40mm。平板对着辐射源的一面应涂覆有良好耐老化黑色涂层。对于不大于2500nm的波 长，涂覆后的黑板应反射不超过总入射光通量的10%。热敏元件例如铂电阻传感器应连接在平板背对 着辐射源一面的中心位置，同时热敏元件与平板之间应保持良好的热传导。钢板的金属面应安装在 块5mm厚的未填充聚偏氟乙烯（PVDF）底座上，底座上应加工成有足以容纳铂电阻传感器的空间 传感器与PVDF板凹槽间的距离约为1mm。PVDF板的长度和宽度应足够大以确保涂黑金属板与底 座支架间不存在金属之间的热传导。绝缘黑板的金属支架与金属板的边缘至少相距4mm。只要暴露 设备达到设定的稳定温度和辐照度时，所选用的另一结构的温度计指示的温度为上述指定结构温度计 所示温度土1.0℃以内，不同结构的黑标温度计也可使用。其他结构黑标温度计达到稳定状态所需的 时间与指定黑标温度计达到稳定状态所需时间的差异应在土10%以内。

应反射不超过总人射光通量的10%。热敏元件应紧固在暴露表面中心位置。它可以是一个涂黑杆状 双金属盘式传感器、电阻传感器、电热调节器或热电偶。金属板背面应露置在空气中。 注1：当对流冷却同时从两边起作用时，安装的空间位置会影响黑板温度计的稳定性。 注2：黑板温度计有时被称为非隔热黑板温度计。 5.2.2.3除非另有规定，温度应采用上述两种温度计测量。如果用其他方法测量黑板或白板温度，黑板 或白板的确切结构应包括在测试报告中。 5.2.3黑板或黑标温度计的指示温度依赖于实验室光源产生的辐照度和暴露箱内的温度及空气流动 速度。黑板温度通常与背面没有隔热的金属板黑色涂层的温度相当。黑标温度通常与导热性差的黑色 样品暴露表面温度相当。在典型暴露试验条件下，黑标温度计的指示温度将比黑板温度计的指示温度 高3℃～12℃。黑板温度与黑标温度之间的实际差异应针对每种暴露条件来确定。因为黑标温度计 有隔热设计，所以对温度变化的响应时间略慢于黑板温度计。 5.2.4在辐射量较少时，黑板或黑标温度计的指示温度与样品真实温度的差别可能较小。当使用红外 线发射量很少的辐射源进行试验时，两种温度计的指示温度或深浅色样品间的温度差别将会很小。 5.2.5为评估被暴露样品表面温度范围，更好地控制暴露箱内的辐照度或试验条件，除使用黑板或黑 标温度计外，推荐使用白板或白标温度计。白板或白标温度计的制备应与相应的黑板或黑标温度计相 同，不同之处是使用白色耐老化涂层。百色涂层对450nm～800nm波的反射率应至少为60%，对 800nm~1500nm波的反射率应至少为30%， 5.2.6暴露设备制造商应确保其设计的暴露设备满足本部分的要求，黑色或白色温度传感器在其工作 位置运行时，对温度的控制需满足表1的要求。这些要求适用于稳定状态。

表1黑色或白色温度传感器在其工作位置运行时的温度设定值要求

.7暴露设备制造商应确保其设计的暴露设备满足本部分的要求，黑色或白色温度传感器在其允 露区域内任何位置运行时地下室标准规范范本，对温度的控制需满足表2的要求。这些要求适用于稳定状态。 表2黑色或白色温度传感器在其允许暴露区域内任何位置运行时的温度设定值要求

表2黑色或白色温度传感器在其允许暴露区域内任何位置运行时的温度设定值要求

表2黑色或白色温度传感器在其允许暴露区域内任何位置运行时的温度设定值要求

注：对于某些材料，在允许温度范围内运作的设备间可能产生降解速率的差异。在暴露过程中试样的周期性位置 变换或重复样品的任意放置可减少暴露区域内的温度差异造成的变化。 5.2.8试验报告中应写明所使用的是黑标温度计还是黑板温度计，是白标温度计还是白板温度计。 注：不同的温度可能由单一类型的黑标温度计或黑板温度计显示，这取决于不同制造商提供的设备的具体设计。 5.2.9如果测量暴露箱内的空气温度，温度传感元件应屏蔽辐射源和水喷雾。在这个位置测试的箱体 空气温度可能与暴露试样表面附近的箱体空气温度不同。控制箱体空气温度设备的制造商应确保它们 的设备在设置点温度不大于70℃时，平衡状态下测量箱体内的空气温度变化在土3℃以内，设置点温 度大于70℃时，温度变化在士4℃以内。 5.2.10用于测量暴露箱内空气温度的温度传感器，需依照传感器制造商的操作说明至少每年进行 次校准。

.3.1样品被暴露面上湿气的存在，尤其是长湿周期和干湿周期间的循环变化，可能对实验室加速暴 露试验产生严重影响。根据本标准安装的用来模仿湿气影响的任何设备应有以下一种或多种向样品提 共湿气的方法： a）使箱内空气润湿； b）形成凝露； c) 喷淋水； d）浸润。

1样品被暴露面上湿气的存在，无其是长湿周期和十湿周期间的循环变化，可能对实验室加速 式验产生严重影响。根据本标准安装的用来模仿湿气影响的任何设备应有以下一种或多种向样品 显气的方法： 伟箱出宏气润湿

离子、阴离子和有机物，尤其是硅，则被暴露样品将产生在户外暴露时所不出现的污点。除非另有说明， 否则样品的喷淋用水中最大固含量为1ug/g，最大硅含量为0.2ug/g。蒸馏或去离子与反渗透的结合 使用是获得理想纯度水的有效方法。如果样品喷淋用水的固含量大于1ug/g，则应记录其固含量及硅 含量。除非循环水的纯度能够达到以上纯度要求，否则不推荐对样品喷淋用水进行循环使用。 5.3.2.2与氙弧灯和碳弧灯仪器相比，荧光紫外灯仪器喷淋用水的纯度没那么苛刻。因此，试验板应采 用溶解性固含量在2.0ug/g以内，悬浮硅含量小于0.5ug/g的已纯化喷淋用水进行喷淋。

污染，应使用有氯化作用的溶液如次氯酸钠对整个样品喷淋水系统进行冲洗，并在重新暴露前用清水进 行彻底清洗。 5.3.4尽管喷淋用水的电导率并不总与硅含量相关，但推荐对其进行连续监测，并且无论何时只要电 导率超过5uS/cm，就应停止暴露。 5.3.5样品喷淋设备的所有部件应由不锈钢或对水不造成污染的其他材料制成，因为有些材料能够吸 收紫外线或在试样上形成与实际不符的沉淀物。 5.3.6如需湿度控制，测湿传感器应安装在空气流动且避免直接的辐照和水喷淋的位置。在控制湿度 时，测定的相对湿度应维持在设定湿度的士10%以内。 如需湿度控制，湿度传感器应依照暴露设备制造商的使用说明至少每年进行一次校准 5.3.7以任何方法提供暴露试样周期性润湿功能的设备，均应有办法预设润湿和非润湿时间

5.4暴露设备的其他要求

装置。 5.4.1.2制造商应确保其暴露设备能控制不同暴露条件下各周期的时间。每个暴露周期长度应控制在 所采用的最短暴露时间的土10%以内。最好使用精确度和重复性尽可能高的计时器。也可以提供记录 每个测试周期长度的方法

a) 电源电压； b) 灯功率； c) 灯电流；

6.1.5当在暴露试验中进行试样比较时，应使用尺寸及暴露面积相似的试验样品。 6.1.6标签测试和对照样品使用的标记在暴露试验中不会变得模糊且不会影响所需性能的测试。 注：关于这部分的指导见参考文献[11] 不要将裸露的皮肤与试样的暴露面或设备的光学部件接触，因为这有可能将油脂转移到它们上面 而这些油脂可能起到紫外线吸！ 影响降解的污染物

6.2.1每一组试验条件或每一个暴露周期的试样数量应在暴露后性能测试方法中规定。 就力学性能的测试而言，推荐暴露试样的数量为相关国家标准要求的2倍（这是因为在测试气候老 化后材料的力学性能时会产生较大的标准偏差）。 6.2.2如果性能测试方法没有规定暴露试样的数量，推荐每种材料每个暴露阶段所需的重复样品最少 为3个。 6.2.3当通过破坏性试验进行试样性能测试时，所需试样总数应由暴露阶段数以及非暴露存放样品是 否与暴露试样同时试验来确定。 6.2.4每个暴露试验最好包括已知耐久性的对照物材料。推荐同时使用耐久性较差和较好的对照物 材料。在进行实验室间比对前，所有相关方需就所用对照物材料进行协商，对照物材料样品数最好与所 用试验材料样品数相同

6.3.1除非合同或相关材料标准另有说明，否则从大样材上裁取或切割的试验样品应按照ISO291进 行状态调节。在某些情况下，为方便试样制备，可能需在裁取或切割前对片材进行预处理。 6.3.2当利用试验来表征被暴露材料力学性能时，应在所有的性能测试前对样品进行适当的状态调 节。所用条件见ISO291。一些塑料的性能对水分含量非常敏感，并且状态调节的持续时间可能要比 ISO291规定的时间长，尤其是暴露在恶劣气候条件下的样品。 6.3.3存放样品应避光保存在标准实验室环境中，最好是ISO291规定的某一标准大气环境中。 6.3.4某些材料，尤其是老化后的材料，在避光保存时会发生变色，因此其暴露表面一旦变干就必须尽 快进行颜色测定或目测对比。 注：在某些情况下，在进行如24h的状态调节后的颜色变化的附加评估，对判定样品从暴露箱中取出后的颜色是否 稳定非常有用

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表3与暴露条件设定值的最大充许偏差

点测试并不意味着整个暴露箱内的条件是相同的。也并不意味着在两个相似暴露设备中进行的两个试验会 生同样的结果。只通过黑标温度计或黑板温度计进行温度控制的暴露设备与同时或以其中一种方法控制空 温度的暴露设备不会产生相同的结果

7.2试验样品的性能测试

7.2.1根据ISO4582描述的步骤测试暴露前后试样的性能并表示暴露后性能的变化。测量试样性能 的具体步骤需参照相关国家标准。 7.2.2如果采用非破坏性试验测试材料性能，则应在开始暴露前进行。在每个暴露周期结束后测试同 一性能。应注意每个暴露周期后在试样的相同位置测试同一性能。 注：在每次使用测试仪器时能对参照或校准样品进行测试以监测所需性能测试仪器的灵敏度， 7.2.3如果采用破坏性试验测试材料的性能，则每个暴露周期均需独立的一组试验样品。对每组被暴 露样品进行性能测试。建议将暴露后的样品和由相同材料制成的一组存放样品同时进行测试并比较两 者的性能值。或者.将被暴露样品在暴露前后的性能值进行比较

8暴露周期和试验结果评估

根据本标准进行的暴露结果的重复性和再现性会随被测材料、被测性能、特定的试验条件和所用周 期的不同而不同。 注：在ASTM委员会G3.03进行的比对试验研究[12]中，将相同的PVC样条在不同的实验室中进行暴露试验，采用 相同试验设备和暴露周期，其60°光泽度呈现出显著差异。这种在比对试验研究中表现出的变化限制了“绝对 规范”的应用，例如要求在一个特定暴露周期后有特定的性能水平。

3.2.1在大多数情况下，试验样品和对照样 有必要对性能变化方向与暴露间的关系进 行评估。可对材料性能造成明确变化的时间或辐照量可用于对材料的耐久性进行评估或评级。该方法 比评估任意时间或辐照量暴露后的材料更具优越性。

的。当选择使用单一时间或辐照量时，两个标准是至关重要的， a）当使用最低可接受性能的对照材料时，暴露后结果的统计学分析应能说明试验材料优于或相 当于对照材料。 b）相关性能的大幅度变化应产生于最不稳定的被评估材料中。 注：在一种材料中引起显著变化的暴露时间不能被认为适用于其他材料。 8.2.3在对比试验材料和对照材料的暴露结果时可采用适当的统计学分析。当统计分析结果至少达 到90%的置信水平时，试验材料和对照材料可被认为是不同的。

8.3规范中结果的使用

8.3.1如果一般使用的国际标准或规范要求在根据本标准的任何部分进行特定时间或辐照量的暴露 后达到一个确定的性能水平，那么这个特定的性能水平应基于在循环式研究中得出的结论，这个循环研 究需考虑暴露和相关性能测试方法引起的变化。循环研究应按照相关的循环暴露国际标准进行，并且 应包括一个能够进行常规的暴露或性能测试的所有实验室或组织的统计代表样本， 8.3.2如果在双方或三方之间使用的国际标准或规范要求在根据本标准的任何部分进行特定时间和 辐照量的暴露后有一个确定的性能水平，那么这个特定的性能水平应基于对每个实验室中至少两个独 立的暴露试验结论的统计分析。用于确定规范的试验设计应考虑因暴露和相关性能测试方法而引起的 变化。 8.3.3在8.1中所述的相同的循环式研究说明实验室间一系列材料光泽度的重复性很高。如果根据本 标准的任何部分进行暴露试验的结果的重复性并非通过循环式试验确定，材料的性能要求应根据与对 照材料的比较（如等级）而规定。所用的对照材料的样品应和试样同时暴露于同一设备中。所用的特定 对照材料应经相关方协商

试验报告应包括以下内容：

a）样品及其来源的完整描述； b） 复合环境细节、处理的时间和温度（适当情况下）； c） 试样制备方法的完整描述。 注：如果暴露试验通过分包进行，则通常将样品编号。在这种情况下，委托方实验室有责任在试验报告中对样品进 行完整描述

3）对于包含水喷淋周期的试验，应记录水喷淋的持续时间及水是被喷在样品的暴露面、背光 面还是两面均喷淋（如果喷淋用水的总固含量超过1ug/g，应记录总固含量及硅含量）； 4） 对于样品上的凝露试验，应报告冷凝周期的设置长度； 5）光照及暗周期的时间。 暴露架上样品安放方法的描述，包括对用作试样衬垫的任何材料的描述。 f) 如果进行了样品位置的变换，应写明变换方法。 g) 如果使用辐照仪测试辐照量，则应包括对辐照仪的描述。 9.3试验结果。 a) 所有性能测试方法的完整描述。 根据ISO4582所提出的，结论应包括： 1） 试验样品的性能测试结果； 2） 对照样品的性能测试结果； 3）如果测定了未被暴露的存放样品，则应包括其性能测试结果； 4）暴露周期（按小时计的时间或辐照能J/m以及测试所用带通）。 9.4暴露试验日期。

面还是两面均喷淋（如果喷淋用水的总固含量超过1ug/g，应记录总固含量及硅含量）； 4） 对于样品上的凝露试验，应报告冷凝周期的设置长度； 5）光照及暗周期的时间。 暴露架上样品安放方法的描述，包括对用作试样衬垫的任何材料的描述。 f) 如果进行了样品位置的变换，应写明变换方法 g) 如果使用辐照仪测试辐照量，则应包括对辐照仪的描述

a）所有性能测试方法的完整描述。 b）根据ISO4582所提出的，结论应包括： 1）试验样品的性能测试结果； 2）对照样品的性能测试结果； 3）如果测定了未被暴露的存放样品，则应包括其性能测试结果； 4）暴露周期（按小时计的时间或辐照能J/m以及测试所用带通） 9.4暴露试验日期

附录A （资料性附录

减少人工加速气候老化或人工加速辐射暴露与实际使用暴露之间相关性的因素

A.1实验室光源与太阳辐射光谱分布的差异

在人工加速气候老化或人工加速辐射暴露试验中，有时采用比正常波长短的波长以获得较快的破 损率。就室外暴露而言，通常认为短波紫外线的界限约为300nm。材料暴露在波长小于300nm的紫 外线下可能会发生其在户外使用时所不会发生的降解反应。如果人工加速气候老化或人工加速辐射暴 露试验所用的实验室光源产生的紫外线波长比实际使用条件下的波长短，那么加速试验中试验材料的 降解机理和稳定等级将会明显不同。 如果已知使被测材料产生相应降解的特定光线波段，则可能不需要模拟整个太阳辐射光谱。但是， 在紫外或可见光谱区以外的狭窄波段内，实验室光源产生非常强烈的辐射，这可能产生一个较其他反应 更为重要的特殊反应。此类光源也可能不产生在太阳辐射下暴露引起的变化。在仅产生紫外线的光源 下暴露时可能不会出现太阳辐射下发生的褪色现象，但可能发生较太阳辐射下暴露更为显著的聚合物 黄变现象

A.2高于实际使用条件的辐照度水平

实验室光源暴露试验一般采用高于平均实际使用条件的辐照度水平来加速降解。相对于实际使用 环境条件，采用异常高的辐照度会改变材料的降解机理有两个主要原因（聚合物对辐照度响应的范围厂 泛[14，且在对人工加速暴露和使用条件暴露下的结果进行比较时，这些差异能够改变材料的稳定等 级）。 a 在室外暴露中，因吸收了高能量光子而处于激发态的聚合物一般会在吸收另一个高能量光子 前衰变为基态。然而，在实验室光源暴露中能产生异常高的光通量，光子吸收速率非常高，只 要聚合物处于激发态就会经常吸收高能量光子。15] b）在紫外辐射下暴露的材料往往产生自由基。当自由基与材料相互作用时发生降解反应。在非 降解反应中，自由基也能够与其他自由基相互结合。在高辐照度条件下产生的高浓度自由基 由于相互距离很近其再结合率较高。在这种情况下，降解不是辐照度的线性函数。15 此外，在异常高的辐照度（或异常高的样品温度）下进行加速试验时，氧气的扩散有时可能限制聚合 物氧化的速度。17这能够使降解反应机理产生不同，也可能导致表面向内部氧化率的异常，结果可能造 成异常变色或物理性能的改变，

A.3没有暗周期的光源持续暴露

际应用时的加速降解，然而，持续暴露可能会消除者 界暗反应

A.4异常高于实际使用条件的样品温度

在人工加速气候老化或人工加速辐射暴露试验中常采用高于实际使用条件的温度来获得较快的

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对于具有相同光降解速率和类型的材料来 说，暴露在异常高温条件下时，温度敏感性高的材料比温度敏感性低的材料的耐久性差。此外，与暴露 在低于玻璃化转变温度时相比，在高于玻璃化转变温度条件下暴露将显著地改变聚合物的降解机理及 意定等级。人工加速气候老化或人工加速辐射暴露试验中所用的黑板温度应维持在一个适当范围，通 常不高于实际使用条件下的黑色样品表面温度的最大值

1.5使深浅色样品间产生与实际不符的温度差异

有些实验室光源产生大量红外线。为防止样品过热，经常通过使用红外吸收或反射滤光器来减少 红外线，或向试验箱通大量空气使试样降温。如果所用的方法不足以控制到达被暴露样品的红外线 量，那么相同材料的深浅色样品间的温度差异将比自然暴露时更大。 有些实验室光源产生的红外线和可见光辐射很少。当使用这些光源时，深浅色试样间温度差异可 能比室外暴露时小。

A.6与实际使用条件不同的温度循环条件

通常高频率温度循环能够产生应力引发的裂纹或其他在使用条件下暴露时所着不到的降解类型。 暴露设备对辐照中的样品进行水喷淋时，样品能够产生异常快速的温度变化从而也可能产生在实际使 用环境中不产生的裂纹

1.7加速试验中与实际使用条件不符的湿气水平

湿气对很多聚合物降解的产生非常重要。如果湿气量或样品在受湿气影响的人工加速气候老化 工加速辐射暴露试验中的暴露方式与实际使用条件下不同，那么降解机理和速率可能会有很大差 对材料耐候等级的影响非常大

A.8生物因素及污染物的缺乏

暴露在湿、热场所下的塑料经常会受到生物因素如真菌、细菌和藻类的迅速生长的作用。在某些户 外环境中存在的污染物和酸性降雨会对某些塑料的降解机理和速率产生严重影响。如果在人工加速气 候老化或人工加速辐射暴露试验中不包括这些影响，那么材料的机理和稳定等级可能明显不同于户外 暴露时

B.1CIE85：1989表4L18定义的太阳光谱常作为基准用于比较太阳辐射和产生于人工加速气候老化 或人工加速辐射暴露试验中的辐射，也被认为是ISO4892标准的基准。在CIE85：1989表4中，对于1 个相对大气质量，1.42cm可沉降水及0.34cm臭氧（1大气压，0℃下测试）在300nm～2450nm波段 地面阳光辐照度为1090W/m。表B.1列出了在这些大气条件下在紫外光、可见光和红外光谱区地面 阳光辐射的宽波段聚光光谱辐照度。它代表了被暴露材料在春分或秋分的一个晴天近午时的赤道水平 面上所经受的最大地面阳光辐照度

面光谱辐照度（摘自CIE出版物No.85.1989表4

B.2用于人工加速气候老化或人工加速辐射暴露的直接来自氙灯、开放式碳弧灯、某些荧光灯和其他 诸如汞灯或金属卤化物灯的辐射中含有大量太阳辐射中所不存在的短波紫外线。用滤光器对这些辐射 源进行适当过滤能够去除大部分的短波辐射。但是，有些滤光器允许少量但重要的短波（小于300nm） 射线通过。荧光灯因具有与太阳辐射的某一特定紫外区域相对应的光谱输出而被选用。氙弧被适当过 滤后产生的辐照光谱能量分布能够很好地模拟通常太阳辐射的整个紫外及可见光区域， B.3CIE85：1989提供了典型气候条件下的太阳辐射光谱数据，可以作为比较实验室光源与日光的根 据。用于滤波后的氙弧辐照数据见CIE85：1989表4。但是，1989年出版的CIE85有几个不足之处： 地面太阳光谱能量分布从305nm开始计算、波长增量相当粗略且计算标准不再有效。因此，已进行了 儿年的努力以修订CIE85。CIE85：1989表4中定义的参照光谱也能采用SMARTS2模型重新计 算。19]修订的基础是更新的测量和改进的计算模型（SMARTS2模型[20]）。 最近，一个基于2000m高度处大气条件的替代标准太阳光谱已经开发。该太阳光谱的定义见参 考文献[21]。参考文献[21]中定义的太阳光谱是采用SMARTS2太阳辐射模型[22][23][24]计算而得。 参考文献L25」提供了计算太阳光谱辐照度的方法和文件资料。 SMARTS光谱模型可以用来可靠的复制CIE85中的数据表并与其保持一致。表B.2对ASTM G177和CIE85.1989的表4中定义的标准太阳光谱的大气条件因素进行了比较

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表B.2用于ASTMG177和CIE85.1989的表4中定义的太阳光谱的基本大气条件对比

B.4表B.3比较了ASTMG177和CIE85：1989中表4定义的太阳光谱的辐照度（采用矩形积分计 算）。 注：ASTMG177列出了波长至400nm的太阳辐射。但是用于形成ASTMG177紫外光谱的大气、位置地理纬度 和其他条件被输人SMARTS2太阳辐射模型以生成全太阳光谱。生成的全谱数据用于比较ASTMG177和 CIE85：1989表4中的400nm以上波长的太阳光谱辐照度

附录C （规范性附录） 试样暴露区域内辐照度均匀性的测试规程

试样暴露区域内辐照度均匀性的测试规程 C.1本附录是为实验室光源暴露材料的设备制造商提供的规范性附录。 C.2将试样放在暴露设备内的排列架上，并使其围绕辐射源旋转[如图C.1中的a)和b)的中心所示」， 测试试样排列架上离辐射源最近的一个位置（图C.1中位置A）及离辐射源最远的两个位置（图C.1中 位置B)处的辐照度。用放置于围绕辐射源旋转的排列架上的辐照仪测试的测量结果会给出最真实的 辐照度均匀性指示。B位置与A位置辐照度之间的关系如下： E≥0.7EA （.1

施工安全资料C.1使用旋转样品架的设备中辐照度均性的

C.3将试样放置在暴露设备辐射源前的平板上，测试试样平面内离辐射源最近处（见图C.2中位置X) 及两个对角点（见图C.2中位置Y)处的辐照度。位置Y与X处的辐照度关系如下： E≥0.7E （C.2

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.2使用试样平板的设备中辐照度均匀性的测定

C.4如果设备设计的最大辐照度不在暴露区域中心处，或最小辐照度不在离中心最远位置处，那么 式（C.1)及式（C.2)中的E^或Ex应为实际最大辐照度，而EB或E为最小辐照度。暴露区域其他位 置辐照度的补充测试也需进行。然而，无论在任何情况下，这些位置所测得的辐照度应至少为最大辐照 度的70%。除非另有规定，否则应在暴露区域的外围（例如以荧光灯或线性光源为辐射源的试样平板 的附近角落）至少进行四次测试。为更准确地定义Ex≥E或EB≥E的允许暴露区域，有必要进行 远多于四次的测试。 C.5作为辐照度测试的一个选择方案，如果热或水汽的影响与参照材料的老化无关或已知晓，可以通 过选用参照材料来测试辐照度均匀性。参照材料的特性变化应是一个有关辐照量的已知函数（最好为 线性），并且作为一个辐照量函数最好不应在性能变化很小时显示诱导期。图C.3是参照材料特征性能 关于辐照量或辐照时间函数的典型曲线。首选在整个暴露周期内显示完全线性响应的参照材料。那些 显示诱导期而随后显示一段时间快速变化的材料不推荐用作参照材料。开始为线性响应而随后显示为 非线性响应的材料应仅用于其呈现线性响应的暴露时间段。参照材料样品应暴露在暴露区域中心处以 及离中心最远处。所有样品应同时暴露。参照样品应暴露至监测特性发生可测量变化时为止。离暴露 中心最远处参照材料的被测性能变化应至少为中心位置处的70%。 注：辐照度的实际测试优于使用参照材料，因为参照材料暴露在暴露区域边缘及中心处的性能变化的不同可能会 受到不同温度和（或）湿气条件的严重影响，因而所测得的辐照度一样受到影响

说明： X 辐照量或辐照时间（任意单位）； 特征性能（任意单位）

矿产标准图C.3特征性能关于暴露条件函数的典型行为曲线：显示线性变化（方形符号）的参照材料 在性能开始变化前显示有诱导期（三角符号）的参照材料、开始显示为线性变化 （空心圆圈）而随后出现非线性变化区域（黑色填充圆圈）的参照材料

图C.3特征性能关于暴露条件函数的典型行为曲线：显示线性变化（方形符号）的参照材料 在性能开始变化前显示有诱导期（三角符号）的参照材料、开始显示为线性变化 （空心圆圈）而随后出现非线性变化区域（黑色填充圆圈）的参照材料

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