表示必检项目，“"表示根据需要可选择检验的项目，“一”表

项或一项以上不合格，则型式 验不合格。

7.3.1检验项目分组

出厂检验分A组和B组两组铁路图纸，详见表1

出厂检验分A组和B组两组，详见表1

A组检验项目一律全检，符合5.1的要求，不合格

7.3.3.1抽检要求

3组检验是在A组检验的基础上实施抽检或者根据客户的要求进

在外观质量检验合格的晶体中，同一时段，采用同一原料来源、同一生产线、相同工艺连续生产的晶

7.3.3.4合格判定

检测样品的性能指标应符合表1的规定，若有一项指标不合格，则应进行加倍抽样；若仍有一项或 项以上指标未符合规定要求，则判定该批产品不合格

3标识、包装、运输和储存

在产品上应该有明确标识，合格的产品应有铭牌

包装应采用不损伤产品的包装方式，表面应无破损，包装结构率固无变形；并有防震、防碎、防潮措 施。发货运输时，应有外包装箱。 有特殊包装要求的，应按使用方和供应方之间的协议规定

包装应采用不损伤产品的包装方式，表面应无破损，包装结构率固无变形；并有防震、防碎、防潮措 施。发货运输时，应有外包装箱。 有特殊包装要求的应按使用方和供应方之间的协议规定

产品在运输过程中应小心轻放，禁止挤压和碰撞。

产品应储存在避光、常温、干燥的房间内

光学透过率、光学透过率不均匀性的检测方法

在相同测量条件下的同次测量中，同一晶体上所有取样位置处的光学透过率最大值； Tmin 在相同测量条件下的同次测量中，同一晶体上所有取样位置处的光学透过率最小值； Ta 在相同测量条件下的同次测量中，同一晶体上所有取样位置处的光学透过率算术平均值

紫外分光光度计（200nm~1000nm）

测试室应具有适当的避光条件，室内温度为25℃士

按照B.1参比样品的相同规格加工检测样品

按照B.1参比样品的相同规格加工检测样品

A.4.2光学透过率不均匀性

检测样品准备主要步骤如下： a）在外观质量检验合格的产品上，晶体的两端和中间截取大于40mm×40mmX30mm的晶 块，依次编号（例如：S，S2，Ss...S,），样品数量不少于3只； b）按B.1中参比样品的要求加工成检测样品，待测。

主要步骤如下： a）接通电源，打开仪器开关，预热10min；

主要步骤如下： a）接通电源，打开仪器开关，预热10min

b）将测量模式设为测定光学透过率，且根据需要设定波长测量范围； 调整光路以确保光全部进入积分球内； d）自动调零后，在设定的波长范围内进行扫描： e）用分析纯乙醇和无纺布将加工好的样品表面擦拭干净： f）打开样品室，放人待测样品，以其40mm×40mm面垂直对准光路，关闭样品室后开始测量 g）读取测得的样品的光学透过率T； 更换下一个样品，重复A.5f)、g)中的方法，检测并记录所有样品480nm处的光学透过率T 记为T；

b）将测量模式设为测定光学透过率，且根据需要设定波长测量范围； 调整光路以确保光全部进入积分球内； ）自动调零后，在设定的波长范围内进行扫描； e）用分析纯乙醇和无纺布将加工好的样品表面擦拭干净： f）打开样品室，放人待测样品，以其40mm×40mm面垂直对准光路，关闭样品室后开始测量； g）读取测得的样品的光学透过率T； 1 更换下一个样品，重复A.5f)、g)中的方法，检测并记录所有样品480nm处的光学透过率T 记为T：

计算过程如下： a）从T,,T2,T3...T,中找到最大值Tmx; b）从T,,T2,T...T,中找到最小值Tmin c） 按照式（A.2)计算T，的算术平均值Tave； d 将最大值Tmax、最小值Tma和算术平均值Taw带入到式（A.1)中，计算其光学透过率不均匀 性TNU

式中： T：—第i个检测样品在480nm处的光学透过率； 一检测样品的数量

式中： T：——第i个检测样品在480nm处的光学透过率 检测样品的数量

从批量锗酸铋闪烁晶体中，挑选出外观质量合格的晶体，并按以下步骤制作加工参比样品： a 在外观质量检验合格的产品上截取大于40mmX40mmX30mm的晶块； b） 将晶块置于烘箱中退火（2h从室温升至200℃士5℃，保温4h后自然降至室温）； C 取出后，将每只晶块的两个40mmX40mm的面抛光，其余面磨砂，抛光面的粗糙度Ra≤ 0.05μm，加工成40mm×40mm×30mm的样品，尺寸公差为±0.04mm； d 退火后的样品应避光加工和存放，避免紫外光和其他高能粒子的照射

参比样品应满足表B.1中的性能指标。

表B.1锗酸铋闪烁晶体参比样品的性能指标

（规范性附录） 辐照损伤的检测方法

晶体在长期接受大剂量射线（X或射线等)辐射后会产生辐照损伤，导致晶体的透过率和光输出 降低。本标准中，辐照损伤RD采用辐照前后光输出的下降程度来表征，表达式如式(C.1)所示：

辐照前，检测样品的脉冲幅度，单位为道（channel)； 辐照后，在相同的测量条件下，检测样品的脉冲幅度，单位道（channel)

见GB/T13182—2007中6.1中的规定。

室内温度为19℃±1℃，其他参照GB/T13181—2002中的4.1的要

主要步骤如下： a）辐照前，按照GB/T13181一2002中第5章的规定检测样品的脉冲幅度P； b）将检测样品经500radCo射线源的剂量照射，辐照后避光保存12h以上； C）在相同的检测条件下.以相同的方法检测辐照后样品的脉冲幅度卫。

光输出不均匀性是沿晶体的某个方向，不同位置处光输出的差异，用LNU来表示，表达式如式（D.1） 所示：

Pmax 在相同测量条件下的同次测量中，同一晶体上所有取样位置处的脉冲幅度最大值，单位为 道(channel); Pmin 在相同测量条件下的同次测量中，同一晶体上所有取样位置处的脉冲幅度最小值，单位为 道(channel); 在相同测量条件下的同次测量中，同一晶体上所有取样位置处的脉冲幅度算术平均值，单 位为道(channel)。

纸箱标准见GB/T13182—2007中6.1中的规定。

度为19℃土1℃，其他参照GB/T13181一2002中白

主要步骤如下： a）按照B.1中的规定加工检测样品； b）按照GB/T13182一2007中6.4.1中的规定进行检测； c）记录检测样品的脉冲幅度P； d）更换下一个样品.重复h)c)中的方法，检测并记录所有样品的脉冲幅度P.记为P

主要步骤如下： a）按照B.1中的规定加工检测样品； b）按照GB/T13182—2007中6.4.1中的规定进行检测； 记录检测样品的脉冲幅度P； d）更换下一个样品，重复b、c)中的方法，检测并记录所有样品的脉冲幅度P.记为P，

参数计算过程如下： a）从P,P2,P...P,中找到最大值Pmax; b）从P,,P2,Ps....P,中找到最小值Pmin; c）按照式(D.2)计算P，的算术平均值Pae; d）将最大值Pmax、最小值Pmin和算术平均值Pae带人到式（D.1)中，计算其光学输出不均匀

参数计算过程如下： b）从P，,P.,P3..P,中找到最小值Pmin; c）按照式(D.2)计算P，的算术平均值Pawe; d）将最大值Pmax、最小值Pmin和算术平均值Pae带人到式（D.1)中，计算其光学输出不均

式中： P；—第i个检测样品脉冲幅度航天标准，单位为道(channel)； 检测样品的数量

17GB/T12564—2008光电倍增管总规范