GBT 40324-2021 无损检测 大直径圆棒聚焦超声检测方法.pdf
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制作对比试块的材料应与被检圆棒声学性能相同或相似。可通过比较试块和多个被检圆棒的第
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个底面反射回波,确认声衰减差异。在同一圆棒的三个位置(避免圆棒端部)选择轴向长度25mm、周 向360°的区域,记录并计算区域内底面回波幅度平均值。试块和被检圆棒之间的底面回波幅度差值不 应超过土6dB,否则应使用与被检圆棒声学性能更为接近的材料制作试块。试块材料中不应存在影响 试块使用的缺陷。
5.2.10.2对比试块规格
对于直径在356mm及以下的被检圆棒,对比试块直径与被检圆棒标称直径的差值应在土13n 内;对于直径在356mm以上的被检圆棒工程计价标准规范范本,对比试块直径与被检圆棒标称直径的差值应在土25n
5.2.10.3人工反射体
对比试块中的人工反射体应为平底孔。试块应至少包含每个检测区域中起始深度和结束深度孔。 整个对比试块应包含至少4个深度位置的孔,其中最浅的孔埋深根据验收标准确定,最深的孔埋深应比 圆棒的半径至少大10mm。平底孔的直径应根据验收要求确定,公差为士0.02mm,孔深不小于 5mm
5.2.10.4衰减测量区域
对比试块应包含一段轴向长度不小于75mm的完整实心圆形区域,用于测量衰减补偿。该区域应 与对比试块其他部位具有相同的材料和衰减特性,且应为对比试块的一部分或永久附加于对比试块上。
5.2.10.5对比试块结构
对比试块设计时应尽量避免端角、台阶等结构的反射信号影响平底孔的识别。图3所示为不同形 式的圆棒对比试块示意图。推荐的单晶片聚焦探头检测对比试块参见附录D,超声相控阵检测对比试 块参见附录E
5.2.10.6对比试块检验
对比试块投人使用前,应按照图纸检验并符合要求。试块应妥善存放,每年应检查试块外观有无影 响使用的表面损伤
便试块结构完整使于动态测试,阶梯式试块在完成平底孔的加工后,宜采用焊接、螺栓紧固等方式将余料与 块主体拼接成圆棒后使用
图3不同形式的圆棒对比试块示意图
5.3.1进行超声检测前,应目视检查圆棒表面。圆棒表面应经过机加工,粗糙度Ra值不应大于 3.2um,推荐采用圆头刀具车削。 5.3.2具有表面缺陷的区域,视为超声不可检区域。此类区域应在检测报告中注明。任何所需的打磨 处理均应在超声检测之后进行
超声检测应有详细的检测规程,规程应至少包含以下内容: a)检测单位的名称; b) 被检圆棒的直径、材料牌号和热处理状态; c) 检测设备型号; d) 检测探头和分区检测方案; e) 采用的检测技术; f) 规程编号、编制和修改日期、编制规程依据的文件; g) 耦合剂名称; h) 灵敏度调整; i) 扫查方式、圆棒转速及扫查间距; j) 脉冲重复频率; k) 对比试块; 1) TCG设置; m)传输修正(必要时); n) 验收标准;评定阈值,以及拒收的极限; 0) 每个区域的闸门高度、起始和结束位置; p) 超声相控阵聚焦法则(必要时)。
6.1.1检测前应使用合适的对比试块进行灵敏度调整,使每个区域的平底孔回波幅度等于或超过满刻 度的80%,并绘制TCG曲线。 6.1.2在灵敏度调整和检测之前,等待足够时间使耦合剂、对比试块和圆棒的温度达到稳定。 6.1.3为确保检测结果的有效性,在每一个检测班次或每个批次的开始或结束应进行灵敏度复验。若 议器调整或插接件有任何变动,需重新调整灵敏度;若发现调整不正确或设备有问题,或灵敏度降低超 过2dB,则在前一次灵敏度调整之后的所有圆棒应重新检测。如发现灵敏度提高,应对有疑问的显示 信号重新评定
使用最深分区所用探头测量衰减补偿。通过比较对比试块底面回波和被检圆棒上两端和中部的 区域(周向360°、轴向长度25mm)的底面回波平均值确定衰减补偿。若被检圆棒衰减小于对比试 两者相差不大于4dB,检测时可不进行补偿。若被检圆棒衰减比对比试块大4dB以上,检测时应
个分区应根据分区的最大深度按比例计算补偿值
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评定阅值的设定应确保扫查时超标的指示信号幅度超过评定阅值。超过评定阅值的信号应重新定 位并进一步评定。评定阈值通常设置在验收水平以下6dB,在得到客户同意时也可随扫查间距的不同 设置为其他值
在不引起幻象波的前提下,应尽 脉冲重复频率。脉冲重复频率、扫查间距和扫查速度的组 合应保证C扫描图像显示中无影响缺陷识别的数据丢失
扫查间距分为轴向间距和 脉冲重复频率和转速的设置,确保无论超标 决陷与采样点的相对位置如何,其信号幅度均会超过评定國值。若评定阈值为一6dB,则扫查间距设置 为不大于一6dB声束宽度的70%可 检测区域的完全覆盖,如图4。实际检测时,为了缺陷的可靠
图4扫查间距和声束覆盖
6.3.1除端头盲区外,圆棒整个长度内100%圆周面均应进行扫查, 6.3.2圆棒检测时应采用与灵敏度调整时相同的仪器控制设置和检测参数(闸门宽度除外)。 6.3.3检测时应保证声波垂直于圆棒圆周表面人射。超声相控阵检测时,可利用声束扫描功能实现声 波垂直人射。 6.3.4圆棒检测与灵敏度调整时所用水距相差应在土2.5mm以内
.1除端头盲区外,圆棒整个长度内100%圆周面均应进行扫查 .2圆棒检测时应采用与灵敏度调整时相同的仪器控制设置和检测参数(闸门宽度除外)。 .3检测时应保证声波垂直于圆棒圆周表面入射。超声相控阵检测时,可利用声束扫描功能实现 垂直人射。 .4圆棒检测与录敏度调整时所用水距相差应在±2.5mm以内
GB/T403242021 6.3.5圆棒检测深度范围至少应包括近表面盲区至圆棒中心轴线以下10mm范围。近表面 户验收要求确定。
6.3.5圆棒检测深度范围至少应包括近表面盲区至圆棒中心轴线以下10mm范围。近表面盲区由客 户验收要求确定。
7.1根据圆棒的验收要求进行检测结果的判定。 7.2钛合金圆棒验收等级参见表C.1。也可根据客户要求,采用其他验收要求。 7.3其他金属圆棒的验收要求由合同各方商定。
照相关质量控制程序和客户要求,对检测参数和检测数据进行记录和保存,以备查验。
检测报告应至少包括以下信息: a)本文件编号和验收要求; 对被检圆棒的描述,包括合金、炉次号、被检件标识以及尺寸; 所有超过验收要求的信号指示; d) 所有超过评定阈值的信号指示: e) 标识异常显示信号的位置以及由于异常显示信号和表面缺陷而切除的材料; f) 任何未检测的区域位置; g) 每个被检圆棒的噪声水平(如需)
表A.1推荐的单晶片分区聚焦检测探头参数(续)
B.1直径为100mm的圆棒分区检测方案
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推荐的不同规格圆棒分区检测方案
表B.1直径100mm圆棒的检测区域
B.2直径为127mm的圆棒分区检测方案
B.2直径为127mm的圆棒分区检测方案
表B.2直径127mm圆棒的检测区域
B.3直径为152mm的圆棒分区检测方案
用表A.1中A组探头,水程为76mm。检测区域
表B.3直径152mm圆棒的检测区域
B.4直径为178mm的圆棒分区检测方案
采用表A.1中B组探头,水程为89mm。检测区域划分见表B.4。
表B.4直径178mm圆棒的检测区域
表B.5直径203mm圆棒的检测区域
B.6直径为229mm的圆棒分区检测方案
采用表A.1中C组探头,水程为89mm。检测区域划分见表B.6。
采用表A.1中C组探头,水程为89mm。检测区域划分见表B.6。
表B.6直径229mm圆棒的检测区域
B.7直径为254mm的圆棒分区检测方案
用表A.1中C组探头,水程为76mm。检测区域
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表B.7直径254mm圆棒的检测区域
B.8直径为305mm的圆棒分区检测方案
A.1中D组探头,水程为102mm。检测区域划
直径305mm圆棒的检
表B.9直径330mm圆棒的检测区域
B.10直径为356mm的圆棒分区检测方案
E组探头,水程为102mm。检测区域划分见表
表B.10直径356mm圆棒的检测区域
B.11直径为400mm的圆棒分区检测方案
用表A.1中E组探头,水程为102mm。检测区域
表B.11直径400mm圆棒的检测区域
B.12直径为450mm的圆棒分区检测方案
A.1中E组探头,水程为102mm。检测区域划
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表B12直径450mm圆棒的检测区域
B.13直径为500mm的圆棒分区检测方
3.13直径为500mm的圆棒分区检测方案
E组探头,水程为102mm。检测区域划分见表
表B.13直径500mm圆棒的检测区域
特种钛合金圆棒(100mm~±356mm)的验收
1.1验收等级如表C.1所示。根据客户产品使用要求,必要时可采用其他验收条件。验收条件包 表面平底孔的埋深、孔径、平底孔幅度、最大允许信号幅度、最大允许信号的信噪比。
居信噪比确定信号验收水平的目的,对信噪比定义
式中: SNR 信噪比; Aigmal 从可疑指示中获得的最大振幅; Ameam 环绕或者邻近指示区域噪声的平均值; Apeak 环绕或邻近区域噪声的最大幅值,不包括电子噪声信号。 C.1.3A级验收等级包含对缺陷信号幅度和缺陷信号信噪比的验收要求。B级和C级验收等级只包 含对缺陷信号幅度的验收要求
2.1圆棒中包含的超声显示信号未超过表C.1规定的验收要求,可直接验收, 2.2所有超过表C.1验收要求的信号部位宜切除并进行金相分析。同一炉次的其他圆棒的处理 据合同进行
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附录D (资料性) 推荐的超声分区聚焦检测用圆棒对比试块 推荐的不同规格圆棒试块的平底孔埋深见表D.1,试块的设计图见图D.1~图D.13。
不同验收级别,d,取表C.1中相对应的近表面平底孔埋
图D.1直径100mm圆棒试块
图D.2直径127mm圆棒试块
项目管理和论文图D.3直径152mm圆棒试块
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图D.4直径178mm圆棒试块
外墙外保温标准规范范本图D.5直径203mm圆棒试块
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图D.6直径229mm圆棒试块
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