GB/T 6609.30-2022 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第30部分:微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法.pdf

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  • GB/T 6609.30-2022  氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第30部分:微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法

    5.4.2.3浇铸:将埚内熔融试料(见5.4.2.2)倾人已加热至800℃以上的铸模(5.3.2)中。试料在埚 中熔融后直接成型的应在冷却前摇动埚,赶出气泡。将铸模移离炉膛,冷却后将玻璃片与铸模剥离。 5.4.2.4样片的保存:熔融好的样片应不结晶、无裂纹、没有气泡。取出样片,在非测量面贴上标签,直 接测定或放于干燥器内保存,防止吸潮和污染。测量时,只能接触样片的边缘,以避免X射线测量面的 沾污

    5.4.3校准曲线绘制及漂移校准设置

    .4.3.1校准曲线绘制:选择不少于5个的校准试样(5.2.3),按5.4.2步骤制备标准试样片。在仪器最 佳测量条件下,测量标准试样片中待测元素的X射线荧光强度,以标准试样片中待测元素含量为横坐 标,X射线荧光强度为纵坐标,绘制校准曲线。 5.4.3.2漂移校准设置:在绘制校准曲线同时,设置监控样品名,测量监控样品(5.2.4)中分析元素的X 射线荧光强度,为后续仪器漂移校准提供初始测量强度。为保证漂移校准的有效性,监控样品的初次测 量和标准试样片测量应在同一时间段内完成。可采用单点校准或两点校准,时间间隔根据仪器的稳定 性确定。

    电力标准规范范本5.4.4校准曲线校正

    根据仪器情优选择合适的 重叠干扰的元素,应进行谱线重叠干扰校准。氧化 铝基体中需要测定的元素含量较低

    启动定量分析程序,利用已绘制校准曲线,测量与待测试样片同批制备的标准试样片,如果分析结 果满足表2规定的重复性要求,输入未知样品名,测量待测试样片,读取测定结果。如果标准试样片对 照结果未能满足表2规定,应测量监控样品,进行仪器漂移校准,如果校准后仍不满足要求,应进行问题 查找,重新校准曲线或重新制作工作曲线,直至标准试样片对照结果满足表2要求,方可测定待测试 样片。

    试样中各待测元素含量以质量分数(w)计,结果保留两位有效数字。数值修约按照GB/T8170的 规定执行。

    在重复性条件下获得的两个独立测试结果的测定值,在以下给出的平均值范围内,这两个测试结果 的绝对差值不超过表2给定的重复性限(r),超过重复性限(r)的情况不超过5%。重复性限(r)按表2 数据采用线性内差法或外延法求得

    GB/T6609.302022

    “C是样品的氧化钠的平均含量(质量分数)。

    将试样和分散剂按一定比例混合、研磨,将研磨后粉体加压制成样片,测量样片中待测元素的X射 线荧光强度,根据校准曲线或方程计算出相应的微量元素含量

    5.2.2镶边垫衬材料:硼酸、铝环、聚乙烯环等,工业纯及以上。 6.2.3校准试样:和被测试样相似的氧化铝列标准样品或有证标准样品,标准样品的每个元素均应有 足够的含量范围又有一定梯度,如上述标准样品不能满足时,使用标准溶液(6.2.6)或高纯试剂(6.2.7) 进行人工配制补充。 5.2.4监控样品:均匀稳定的样片,含有所有校准元素,其浓度应使其计数率的统计误差小于或等于校 隹元素的计数率统计误差。 5.2.5乙醇,分析纯。 5.2.6标准溶液:标准溶液包含所测元素,推荐使用市售有证系列标准溶液。 .2.7高纯试剂:氧化铝、碳酸钠、二氧化硅、三氧化二铁、二氧化钛、碳酸钙、碳酸钾、磷酸钙、氧化锌 三氧化二镓等,纯度达到优级纯或光谱纯

    6.2.5 乙醇,分析纯

    6.3.1烘箱:能控制温度在300℃土5℃。 6.3.2震动研磨机及碳化钨研钵。 6.3.3压片机:压片机最大压力在25t以上。 5.3.4 模具:模具的内径在35mm以上为宜。 6.3.5波长色散X射线荧光光谱仪,端窗靶X射线管。 6.3.6干燥器:采用活性氧化铝(活性氧化铝在使用前应在300℃土5℃加热活化)或五氧化二磷为干 燥剂。 6.3.7称量瓶:含盖,直径50mm~70mm

    平行做两次试验,取其平均值

    6.4.2试样片的制备

    6.4.3校准曲线绘制及漂移校准设置

    0.4.3.1校准曲线绘制:选择不少于5个的校准试样(6.2.3),按6.4.2步骤制备标准试样片。在仪器最 佳测量条件下,测量标准试料片中待测元素的X射线荧光强度,以标准试样片中待测元素含量为横坐 标,X射线荧光强度为纵坐标,绘制校准曲线。 6.4.3.2漂移校准设置:在绘制校准曲线同时,设置监控样品名,测量监控样品(6.2.4)中分析元素的X 射线荧光强度,为后续仪器漂移校准提供初始测量强度。为保证漂移校准的有效性,监控样品的初次测 量和标准试样片测量应在同一时间段内完成。可采用单点校准或两点校准,时间间隔根据仪器的稳定 性确定

    6.4.4校准曲线校正

    可根据仪器情况选择合适的校准方程,对有谱线重叠干扰的元素,应进行谱线重叠干扰校准。氧化 铝基体中需要测定的元素含量较低,可不考虑基体效应的影响

    启动定量分析程序,利用已绘制校准曲线,测量与待测试样片同批制备的标准试样片,如果分析结 果满足表4规定的重复性要求,输人未知样品名,测量待测试样片,读取测定结果。如果标准试样片对 照结果未能满足表4规定,应测量监控样品 安全生产标准,进行仪器漂移校准,如果校准后仍不满足要求,应进行问题 查找,重新校准曲线或重新制作工作曲线,直至标准试样片对照结果满足表4要求,方可测定待测试 样片。

    试样中各待测元素含量以质量分数()计,结果保留小数点后两位有效数字。数值修约按 T8170的规定执行

    的绝对差值不超过表4给定的重复性限(r),超过重复性限(r)的情况不超过5%。重复性限(r)按表4 数据采用线性内差法或外延法求得

    实验室间分析结果的差值不大于表5所列允许

    GB/T6609.302022

    每周或每两周应使用校准试样对本方法的有效性进行校核,即校准试样的测定值与标准值(或标示 直)的绝对差值应满足表2或表4要求。如果不能满足校核要求应找出原因,纠正错误后工程规范,重新进行校 核,必要时重新制作工作曲线

    试验报告至少应给出以下几个方面的内容: a)试样; b)本文件编号; c)所使用的方法(熔融制样法或研磨压片法); d)分析结果及其表示; e)与基本分析步骤的差异; f)试验过程中观察到的异常现象; g)试验日期

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