当使用Ir192或Se75进行射线照相检测时，如合同各方认可如下规定，则所得像质值可低于表

表12规定。 双壁双影透照方法（表5表8），透照厚度（w），像质等级包括A级和B级： 使用Ir192.10mm

防雷标准规范范本8单壁透照技术（源侧A级像质）

像质计置于源侧.应达到的A级像质值见表1表2。

表2阶梯引型像质计像质

9单壁透照技术（源侧B级像质）

计置于源侧.应达到的B级像质值见表3～表4

表4阶梯孔型像质计像质

10双壁双影透照技术（源侧A级像质

O双壁双影透照技术（源侧A级像质）

质计置于源侧，应达到的A级像质值见表5～表6

表6阶梯孔型像质计像质

11双壁双影透照技术（源侧B级像质）

11双壁双影透照技术（源侧B级像质）

像质计置于源侧，应达到的B级像质值见表7～表8。

表8阶梯孔型像质计像质

像质计置于探测器侧.应达到的A级像质值见表9～表10

像质计置于探测器侧变电站标准规范范本，应达到的A级像质值见表9～表10

表10阶梯孔型像质计像质

13双壁双影或双壁单影透照技术（探测器侧B级像质）

像质计置于探测器侧.应达到的B级像质值见表11~表12。

表11丝型像质计像质

楼梯标准规范范本表12阶梯孔型像质计像质