5.3.1测微螺杆和螺母之间在全量程范围内应充分啮合，配合良好，不得出现卡滞和明显窜动。 5.3.2D型、E型电子数显内径千分尺的量爪与槽或孔之间的配合应良好，且移动自如，不得出现卡滞， 沿测量面轴线方向不得有明显摆动。

紧装置应能有效地锁紧测微螺杆。锁紧前、后，两 删量面间的距离变化不应大于2m

B型、C型、D型、E型电子数显内径千分尺应具有测力装置，通过测力装置作用到测量面自 应一致。 B型、C型和测量范围/≤12mm的D型：测量力宜为4N~10N，测量力变化不应大于2 测量范围12mm有色金属标准，测量力变化不应大 测量范围/>100mm的D型和E型：测量力宜为15N~40N，测量力变化不应大于30%

B型、C型、D型、E型电子数显内径千分尺应具有测力装置，通过测力装置作用到测量面的测量力 应一致。 B型、C型和测量范围/≤12mm的D型：测量力宜为4N~10N，测量力变化不应大于2N。 测量范围12mm100mm的D型和E型：测量力宜为15N~40N，测量力变化不应大于30%

5.6.1电子数显内径干分尺测量面宜为球形或圆柱形表面，其半径应小手测量范围下限的1/2。 5.6.2测量面也可以是其他形状，以适合特殊测量任务的要求。 5.6.3合金工具钢测量面的硬度不应小于740HV（或61.8HRC)：不锈钢测量面的硬度不应小于 552HV（或52.5HRC)

C型、D型、E型电子数显内径千分尺可以配备数个测头或量不，通过更换测头或量不扩大测量 范围。

5.8.1A型电子数显内径千分尺可配备数个长度接杆以扩大测量范围。 5.8.2长度接杆的基准面应一端为平面另一端为球面。 5.8.3长度接杆基准面的硬度不应小于740HV（或61.8HRC)。 5.8.4长度接杆基准尺寸的偏差不应大于GB/T1800.2 2009中规定的is2

5.8.1A型电子数显内径千分尺可配备数个长度接杆以扩大测量范围 5.8.2长度接杆的基准面应一端为平面另一端为球面。 5.8.3长度接杆基准面的硬度不应小于740HV（或61.8HRC)。 5.8.4长度接杆基准尺寸的偏差不应大于GB/T1800.2一2009中规定的is2

5.8.1A型电子数显内径千分尺可配备数个长度接杆以扩大测量范围，

D型、E型电子数显内径千分尺宜配备深度接杆以扩大测量深度。接上深度接杆后 10校对装置

10.1电子数显内径千分尺宜提供校对零位的环

5.10.2校对环规或校对卡规 5.10.3校对环规或校对卡规 或平行度不应大手表1规定

表1标注尺寸的偏差和测量面的圆柱度或平行

电子数显内径于分尺上的标尺标记按GB/T1216一2018中5.9的规定

5.13示值最大允许误差

5.13.1量程小于或等于25mm电子数显内径千分尺的示值最天充许误差不应天于表2的规定。量程 大于25mm、小于或等于50mm的电子数显内径千分尺，示值最大允许误差不应大于表2的规定值加 1μm。量程大于50mm、小于或等于100mm的电子数显内径千分尺，示值最大允许误差不应大于表2 的规定值加2m。 5.13.2A型电子数显内径千分尺组装任意一个长度接杆后的示值最大允许误差均不应大于表2的 规定。

GB/T220932018

表2示值最大允许误差和重复性

、D型、E型电子数显内径千分尺的重复性不应大

E型电子数显内径千分尺的重复性不应大于表2

6.1A型电子数显内径于分尺的锁紧变化

在检验示值误差的同时检验锁紧变化。锁紧测微螺杆前、后，测长机显示值的变化，即为两测量面 间的距离变化量

对于未镶硬质合金或其他耐磨材料的测量面，可在该测量面上或距测量面1mm的处检验。 对于镶了硬质合金或其他耐磨材料的测量面，其硬度可不做检验

GB/T220932018

分度读 差。对于没有微分筒的电子数显内径千分尺，可以将分度误差不大于20的鼓轮固定在角度传感器的 传动轴上，检验方法与前述带微分筒的检验方法相同。 注1：如果把电子数显内径千分尺的示值误差的检验点投影到角度传感器的同一等分上时有不少于四个独立点，此 时示值误差的检验结果已包含了角度传感器的分度误差，允许不检验分度误差。 注2：当电子数显装置的角度传感器为五等分或十等分，螺距是0.5mm、1mm或2mm，用表3中的B组量块尺寸 检验示值误差，允许不检验分度误差。 当电子数显装置的角度传感器为二等分或四等分，或者螺距是 0.508mm或0.635mm，用表3中的A组或B组量块尺寸检验示值误差，均允许不检验分度误差。 观察电子数显装置显示数值的变化

6.4.1A型电子数显内径千分尺的示值误差：A型电子数显内径千分尺用测长机检验，支撑位置参见 附录B。推荐检验点为表3中数值加电子数显内径千分尺测量范围的下限。示值误差的判定采用浮动 零点原则，即将各检验点的千分尺显示值与测长机显示值的差值绘制成误差曲线，曲线上最高点与最低 点在纵坐标上的差值，即为其示值误差

表3受检点的尺寸系列

6.4.2B型电子数显内径千分尺的示值误差：B型电子数显内径千分尺用准确度为2级的量块与量块 附件组成的内尺寸或准确度为3级的校准环规检验。推荐检验点为表3中数值加电子数显内径干分尺 测量范围的下限。检查时，在每个检验点连续测量3次（别除粗大误差），取其算术平均值作为测量结 果，计算与标准器尺寸的差值，示值误差的判定采用浮动零点原则，即将各检验点的检定结果绘制成误 差曲线，曲线上最高点与最低点在纵坐标上的差值，即为其示值误差。 6.4.3C型、D型、E型电子数显内径千分尺的示值误差：C型、D型、E型电子数显内径千分尺用准确 度为3级的校准环规检验。检验环规的尺寸应包括测量范围的上、下限，并尽量在测量范围内和360上 均匀分布。检验环规的数量不得少于表4的要求。 检验时，在每个检验点连续测量3次（别除粗大误差），取其算术平均值作为测量结果，计算与标准 器尺寸的差值，示值误差的判定采用浮动零点原则，即将各检验点的检定结果绘制成误差曲线，曲线上 最高点与最低点在纵坐标上的差值，即为其示值误差，

用环规检验C型、D型、上型电子 在完全相同的测量条件下，重复 次（别除粗大误差），其5次显示值间的最大差异，即为电子数显内径千分尺的重复性

GB/T220932018

电子数显内径千分尺的防水、防尘试验应符合GB/T4208一2017的规定。 7.2温度变化试验 电子数显内径千分尺的温度变化试验应符合GB/T2423.22一2012的规定。 7.3湿热试验 电子数显内径千分尺的湿热试验应符合GB/T2423.3一2016的规定。 7.4抗静电干扰试验 电子数显内径千分尺的抗静电干扰试验应符合GB/T17626.2一2006的规定。 7.5抗电磁干扰试验 电子数显内径千分尺的抗电磁干扰试验应符合GB/T17626.3—2016的规定。

8.1电子数显内径于分尺上应标志有

1电子数显内径千分尺上应标志有：

a) 制造厂厂名或商标； b) 测量范围； c) 分辨力； d) 产品序号； 防护等级高于IP40时电力弱电图纸、图集，应标有防护等级标志。 8.2校对装置上应标志其长度标称尺寸。 电子数显千分尺包装盒上应标志有： a）制造厂厂名或商标； b）产品名称； c）测量范围。 8.4电子数显千分尺在包装前应经过防锈处理并妥善包装，不得因包装不善而在运输过程中损坏 产品。 8.5电子数显千分尺经检验符合本标准要求的应附有产品合格证及使用说明书，产品合格证上应标 有本标准的标准号、产品序号和出厂日期。

1测量范围1000mm~6000mm的A型电子数显内径千分尺的示值最大允许误差应符合表 规定。 2距两端0.22L处支撑与距两端200mm处支撑的长度变化应符合表A.1的规定

表A.1示值最大充许误差和长度变化充许值

建筑节能GB/T220932018

附录B （资料性附录） A型电子数显内径千分尺的支撑

图B.1A型电子数显内径于分尺的支撑