GB/T 34370.7-2020 游乐设施无损检测 第7部分:涡流检测.pdf

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  • .3.3.1涡流检测过程中应根据检测对象和检测要求,选择大小、形状和频率合适的涡流探头。 .3.3.2涡流检测可以采用屏蔽或非屏蔽的差动或绝对式涡流探头。 3.3.3 涡流探头不应对施加的压力变化产生干扰信号。 .3.3.4探头标识应至少包括规格、型号、频率和编号等信息 .3.3.5为了防止探头的磨损,检测时可在探头顶部贴上耐磨的保护层。 .3.3.6检测过程中应随时检查探头的磨损情况,一且发现磨损影响检测时,应停止使用,

    10.3.3.1涡流检测过程中应根据检测对象和检测要求,选择大小、形状和频率合适的涡流探头 10.3.3.2涡流检测可以采用屏蔽或非屏蔽的差动或绝对式涡流探头。 10.3.3.3 涡流探头不应对施加的压力变化产生十扰信号。 10.3.3.4 探头标识应至少包括规格、型号、频率和编号等信息 10.3.3.5为了防止探头的磨损,检测时可在探头顶部贴上耐磨的保护层。 10.3.3.6检测过程中应随时检查探头的磨损情况,一且发现磨损影响检测时,应停止使用

    10.3.4.1标准试件

    其外形尺寸、人工伤深度应符合图2要求。 10.3.4.1.2人工刻槽可采用线切割加工制作水利技术论文,宽度为0.05mm,A、B、C三条刻槽深度分别为0.2mm、 .5mm和1.0mm,深度尺寸公差为±0.05mm 10.3.4.1.3标准试件应采用T3状态的2024铝合金材料或导电性能相近的铝合金材料加工制作

    10.3.4.2对比试件

    10.3.4.2.1对比试件用于建立检测灵敏度、核验仪器工作状态和评定缺陷,其电导率、热处理状态、表 面状态及结构和人工缺陷的位置应与被检构件相同或相近,对比试件可由实际构件整体或部分制成,也 可按表1选用相应的材料。 10.3.4.2.2对比试件人工缺陷的数量和深度可依据检测验收要求确定,也可参照图2制作。 0.3.4.2.3对比试件的表面粗糙度应满足对比试件上的人工缺陷信号与噪声信号比不小于5:1。 10.3.4.2.4对比试件首次使用前,人工缺陷的宽度和深度尺寸应经过检测,符合制作要求才能投入 使用。

    GB/T34370.72020

    10.6.1对检测中发现的不能排除由相关干扰因素引起的信号,如提离、边缘、台阶等干扰信号,应将响 应信号视为由缺陷引起,并依据10.5.2评定缺陷的方向、长度或面积及类型。 10.6.2对于表面缺陷,可根据响应信号幅值与对比试块上相关深度人工缺陷响应信号幅值的比较,评 定引起该响应信号的缺陷的深度。缺陷响应信号的相位可作为表面缺陷深度评定的参考信息 10.6.3应根据相关产品的技术条件或与委托方商定的验收准则,对被检构件给出合格与否的结论。 10.6.4当产品技术条件和相关技术协议未给出验收准则时,可以仅对所发现缺陷给出定量的评定,而 不给出合格与否的结论

    11构件焊缝放置式线圈的涡流检测

    1检测对象为金属材料制成的规则或不规则构件焊缝,包括:厚度3mm及以上板材、直 mmX壁厚3mm及以上管材焊缝和热影响区 2放置式线圈适用于焊缝和热影响区表面开口和近表面平面型缺陷的检测。 .3检测对象可为带涂层自然成形的各种形式的焊缝表面,但非常粗糙的表面会影响检测效果,

    11.2.1被检测区域应无润滑脂、油、锈或其他妨碍检测的物质。 11.2.2检测前,应了解填充金属的种类、待检测焊缝的位置和范围、焊缝表面几何形状、表面状态、涂 层类型和厚度。 11.2.3涡流检测与探头和被测表面的接近程度有关,被检焊缝表面几何形状及表面状态应能保证探 头与检测面的良好接触。对焊缝进行涡流检测时,应考虑焊缝表面的不规则形状、焊接飞溅、焊瘤、腐蚀 物和涂漆的剥落等都会使探头与被检测表面的距离发生变化并引起噪声,从而影响检测的灵敏度。 11.2.4对于表面有镀锌和热喷涂铝等某些种类的导电性材料涂层构件,用涡流方法进行检测时,由于 这些导电金属材料可能沉积在表面开口的裂纹内,从而影响检测效果,导致不能有效检测出可能存在的 裂纹缺陷

    [11.3.1检测仪器

    检测仪器应具有信号相位和幅度显示与分析的功能,且至少满足以下要求: 涡流仪器应能在从1kHz~1MHz的范围内的某个选定的频率点上工作, D 在平衡和提离效应补偿后,(带涂层厚度试片)校准试块上1mm深人工缺陷的信号幅度应达 到全屏,0.5mm深人工缺陷的信号幅度至少为1mm人工缺陷的50%。 C 应能够显示缺陷信号的阻抗平面图,并具有信号示踪冻结功能,信号示踪在检测场地日光、灯 光照明或无照明条件下应清晰可见, d) 相位控制应能使信号以不大于10°的步距进行全角(360°)旋转。 e 能对信号阻抗平面图上的任一矢量进行相位和幅度分析,并可将当前信号与先前存储的参考 信号进行对比分析。 f) 在保证整个系统功能、灵敏度和分辨率的情况下,可用延长电缆连接探头和仪器。 g) 使用较长的延长电缆操作时,仪器应具有使操作者进行远程信号显示的装置。

    检测仪器应具有信号相位和幅度显示与分析的功能,且至少满足以下要求: 涡流仪器应能在从1kHz~1MHz的范围内的某个选定的频率点上工作, D 在平衡和提离效应补偿后,(带涂层厚度试片)校准试块上1mm深人工缺陷的信号幅度应达 到全屏,0.5mm深人工缺陷的信号幅度至少为1mm人工缺陷的50%。 C) 应能够显示缺陷信号的阻抗平面图,并具有信号示踪冻结功能,信号示踪在检测场地日光、灯 光照明或无照明条件下应清晰可见, d 相位控制应能使信号以不大于10°的步距进行全角(360°)旋转。 e 能对信号阻抗平面图上的任一矢量进行相位和幅度分析,并可将当前信号与先前存储的参考 信号进行对比分析。 f) 在保证整个系统功能、灵敏度和分辨率的情况下,可用延长电缆连接探头和仪器。 g) 使用较长的延长电缆操作时,仪器应具有使操作者进行远程信号显示的装置。

    材料重新加工制作校准试块。

    重新加工制作校准试块。

    11.5.3铁磁性材料焊缝的检测

    [11.5.3.1频率选择

    应根据提离和其他不希望出现的信号将频率调到最佳灵敏度。通常情况下,推荐采用约100 频率。

    [11.5.3.,2校准

    校准流程按照下列步骤进行: a) 将探头在校准试块上扫查通过人工刻槽来进行校准。校准时刻槽表面应覆盖上一层非导体弹 性垫片,其厚度等于或大于被测工件的涂层厚度。 b 将1mm深刻槽的信号幅度调到满屏高度的约80%。然后调节灵敏度的水平来补偿工件几 可形状带来的影响。 C 校准检查应周期性地进行,且至少在检测开始和结束及工况每次改变时进行。每次校准均应记录。 d)当校准完成后,将平衡点调至显示屏中央

    11.5.3.3 扫查

    1.5.3.3.1检测可分两部分进行:热影响区(见图6~图8)和焊缝表面(见图9和图10)。 1.5.3.3.2只要被检工件几何形状允许,扫查时应注意检测方向与预计缺陷的走向垂直,同时应控制 深头角度,并尽量与被检表面垂直。如果其走向未知或估计缺陷有不同的走向,则至少应在相互垂直的 两个方向分别进行扫查 1.5.3.3.3应注意检测的可靠性高度依赖于线圈与被测表面之间的方向。应注意确保探头在热影响 区以最佳的角度扫查通过各种状况的表面。 1.5.3.3.4整个检测过程中,尽可能地使探头移动速度恒定平稳。最大扫查速度视所用仪器和选择的 参数而定,一般不超过50mm/s。 11.5.3.3.5差动式探头灵敏度受缺陷与线圈中心线夹角的影响。因此在检测过程中应注意控制角度

    11.5.4其他材料焊缝的检测程序

    11.5.3的规定相同,但频率、探头、校准试块和扫查模式等的选择应该与实际材料的性能相适应,这些选 释可能会与所推荐的铁磁性材料相去甚远。因此,检测工艺规程应根据基于适当仪器、探头和校准试块 上的实际经验来制定,并应详细制定特殊的工艺规程。在各种情况下的限制因素都应详细说明。

    11.6检测结果评定与处理

    [11.6.1异常信号的确定

    一且发现被检工件正常信号显示区域之外出现明显的信号显示,则判定为异常信号显示 10)。

    11.6.2对异常信号的复检

    一且发现异常信号,应对该区域进行其他无损检测的方法复检,按GB/T34370.3对铁磁性材米 表面磁粉检测或按GB/T34370.4构件表面进行渗透检测验证,按GB/T34370.5规定的有关方法 超声检测来确定缺陷的深度和方向

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    检测对象为铁磁性基体表面非磁性覆盖层,包括:非导电的非磁性覆盖层(如漆层、塘瓷层等)和导 电的非磁性覆盖层(如镀锌、镀铬层等),不适用于带有磁性的覆盖层(如镀镍层和掺有铁粉的表面功能 涂层等)厚度测量。 磁性法测厚仪的覆盖层测量厚度一般在2000um以下

    磁性法测厚是测量永磁体和基体金属之间的磁引力或穿过覆盖层与基体金属的磁通路磁阻,磁引 力或磁阻受覆盖层厚度的影响而变化,通过这种变化获得覆盖层的厚度。

    采用磁性法检测时应考虑以下因素: a) 覆盖层厚度: b) 基体金属的磁性; c) 基体金属的厚度; d) 边缘效应; e) 工件曲率; f) 表面粗糙度; g) 基体金属机械加工方向; h) 剩磁; i) 环境磁场; j) 外来附着尘埃; k) 覆盖层的导电性; 1) 测试压力

    采用磁性法检测时应考虑以下因素: a) 覆盖层厚度: b) 基体金属的磁性; c) 基体金属的厚度; d) 边缘效应; e) 工件曲率; f) 表面粗糙度; g) 基体金属机械加工方向; h) 剩磁; i) 环境磁场; 外来附着尘埃; 覆盖层的导电性; 1) 测试压

    3.1.4.1仪器校准可以采用厚度均匀的非导电的膜片作为校准标准试片,也可以采用基体金属以及与 基体金属牢固结合的厚度已知且均匀的覆盖层构成的试件作为校准标准试件。 13.1.4.2校准标准试件的基体金属应具有与被测构件基体金属相似的表面粗糙度与磁性能。推荐在 被检构件上不带有覆盖层的位置校准仪器零点读数和覆盖标准厚度膜片来校准仪器相应的读数。 13.1.4.3对于基体金属磁性存在明显方向性的被检构件,应将探头再旋转90°来核对仪器的校准。 13.1.4.4被测构件和校准试件二者的基体金属厚度应相同。也可以用足够厚的相同金属分别与校准 示准片或被测构件的基体金属叠加,使测量读数不受基体金属厚度的影响。 13.1.4.5如果被测构件的弯曲形貌使得无法实施平面方式校准时,则标准试件的曲率应与被测构件的 曲率相同

    13.1.5.1在每次仪器使用前、测量结束后,以及在使用中每隔一定时间(每小时至少一次),均应在测量 16

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    现场对仪器的工作状态进行核查,以保证仪器的性能正常。 3.1.5.2应采用13.1.4.4所叙述的叠加方法,或者采用具有与被测构件相同厚度和磁性能的校准标准 式件进行仪器校准。 13.1.5.3应避开不连续的部位进行测量,如靠近边缘、台阶、孔洞和转角等,否则应对测量有效性加以 确认。 3.1.5.4 应避免在被测构件的弯曲表面上进行测量,或对其测量有效性加以确认。 3.1.5.5应根据被检构件的大小、覆盖层厚度的均匀性及检测要求确定测量点数,至少应在被检测区 或的边角和中间位置选择5点进行测量。对于厚度不均匀覆盖层的测量,应增大测量点的密度。 13.1.5.6如果被测构件的加工方向明显影响测量读数,应使测量探头在构件上进行测量时的方向与在 校准时所取的方向一致。如果不能做到一致,则在同一测量面内将探头每旋转90°增加一次测量,共做 次。 13.1.5.7使用固定磁场的双极式仪器测量时,如果基体金属存在剩磁,则必须在互为180°的两个方向 上进行测量。为了获得可靠结果,条件允许时应消除被测构件的剩磁。 3.1.5.8测量前应去除被测构件表面上的任何外来物质,如灰尘、油脂和腐蚀产物等;测量时应避开存 在难于除去的明显缺陷,如焊瘤或钎焊焊剂、酸蚀斑、浮渣或氧化生锈部位。 3.1.5.9测量过程中应保持一致的测量探头压力和放置速度,并在测量探头轴线平行于被测点所在平 面或曲面的法线情况下读取数据

    13.1.6检测结果评定

    对于覆盖层厚度的测量不确定度为覆盖层真实厚度的10%或1.5μm以内,二者取其中较大的 5湿法汁

    涡流测厚方法是基于涡流测量线圈接收到在导体中感应产生涡流的再生电磁场的大小随探头 体表面之间距离变化而改变,即提离效应

    涡流法检测影响因素如下: a)覆盖层厚度; 基体金属的电性能; 基体金属的厚度; d)边缘效应; e)曲率; f) 表面粗糙度; g)外来附着尘埃; h)测头压力; i) 测头的放置; j) 试件覆盖层的变形。

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    3.2.4.1校准标准试件可采用塑料膜片或基体上带有非导电覆盖层的试件。标准试片有利于在弯曲 表面上的校准,并且比带有覆盖层的校准标准试件更容易获得,但校准时应保证标准试片与基体紧密 接触。 13.2.4.2 校准标准试件的基体金属应具有与被检构件基体金属相同或相似的电学性能。测量前应将 从无覆盖层的基体金属试件上得到的读数与从被测构件基体金属上得到的覆盖层厚度测量读数进行比 ,以确认校准标准试件的适用性, 13.2.4.3测量和校准的基体金属厚度应尽可能相同。可以采用一片足够厚的、电学性能相同或相近的 金属片将校准标试件和被测构件分别垫厚,使读数不受基体金属厚度变化的影响;如果被测构件的基体 金属两面都有覆盖层,则不能用此方法。 13.2.4.4如果待测构件的弯曲形貌使之不能以平面方式校准时,则带有覆盖层的标准试件的曲率或放 置校准试片的基体试件的曲率应与待测构件的曲率相同

    13.2.5.1在每次仪器使用前、测量结束后,以及在使用中每隔一定时间(每小时至少一次),均应在测量 现场对仪器的工作状态进行核查,以保证仪器的性能正常。 13.2.5.2采用13.2.4.2所描述的标准试件进行仪器校准。 13.2.5.3应在离开构件的边缘、孔洞、内转角等处进行测量,否则应为测量所作校准的有效性加以 确认。 13.2.5.4 应选择平面区域进行测量;如果只能在构件的弯曲表面上进行测量,应为测量所作校准的有 效性加以确认。 13.2.5.5应根据被检试件的大小、覆盖层厚度的均匀性及检测要求确定测量点数,在被检测区域的边 角和中间位置选择至少5点进行测量。对于厚度不均匀覆盖层的测量,应增大测量取点的密度, 13.2.5.6测量前应除去试件表面上的任何外来物质,如灰尘、油脂和腐蚀产物等,清洁准备工作不应损 伤覆盖层。

    13.2.6检测结果评定

    封头标准变的测量不确定度应达到覆盖层厚度的10%或3

    对检测中出现的异常信号,除能证明是由 件结构或其他原因引起的非相关信号外,其余异常信号 均应进行分析。信号分析可基于幅值、相位或两者的综合进行

    14.2检测结果评定与处理

    14.2.1管材产品质量验收等级的规定应按供需双方合同,或按有关产品标准要求。

    双方合,或按有天产品标准要求 14.2.2在用设备的结果评定应按照有关技术规范和标准要求与相关方确定。 14.2.3被检构件的检测结果评定 本部分各章要求

    广场标准规范范本[15. 1 检测记录

    应按检测工艺规程的要求记录检测数据和有关信息,除此之外,还应至少包括检测报告中的内容; 所有记录的保存应符合有关法规、标准和(或) )合同的要求

    检测报告的内容应当根据检测要求制定,应至少包括以下内容: a)委托单位、检测单位; b)被检设备名称及编号,被检构件名称、型号和编号; c)检测执行标准; d)被检构件材质、厚度、热处理状态及表面状态; 涂层种类和厚度(必要时); f)检测部位和比例; g)检测种类:涡流探伤、涡流测厚; h)检测仪器型号、编号,探头型号,试块型号; 检测部位; 检测条件(如频率、灵敏度和相位等); k)检测结果; 缺陷位置简图,缺陷位置、尺寸、波幅等; m)检测日期; n)检测人员和审核人员签字、日期及其资格

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