JB／T 11279-2012  无损检测仪器 线阵列涡流探头

通常采用矩阵排列式设计，常规设计样式如图

a)差分式线圈结构之

建筑管理b)差分式线圈结构之二

图1线圈阵列排列示意图

5.2.2探头结构型式

JB/T112792012

深头结构型式主要有三种：平面式、曲面式和柔性结构。 平面式与曲面式结构如图2所示。

图2探头结构型式示意图

专用试块。探头垂直于裂缝沿看裂缝的中垂线移 动扫查，并保证每个阵元的扫查方向与裂缝垂直

5.2.6.1一般要求

在进行耐温试验时，高、低温箱内的温度应保持恒定均匀，温差不超过士3℃，箱内空间至少 检探头的3倍。为防止湿度的影响，在不影响耐温试验的条件下，必要时，宜采取对高、低温箱 注入干燥空气等措施。

5.2.6.2高温试验

将探头放入高温箱内，试验参数见表1。

高温试验后，使温度降至室温，取出探头并在正常工作条件下放置24h以上，经产品性能 合探头标准的要求。 26.3低温实验

5.2.6.3低温实验

将探头放入低温箱内，试验参数见表2。

低温试验后，使温度升至室温，取出探头并在正常工作条件下放置24h以上，经产品性能检查应 符合探头标准的要求（低温试验后，若探头有凝水现象，应适当延长预热时问或采用风扇通风等其他方 法迅速去潮后，再进行性能检查）。

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探头耐湿性能的检测方法应符合JB/T9329—1999中4.3的规定。

云输性能的试验项目和方法应符合JB/T93291999中第4章的规定

6.1.1探头应按出厂检验项目检验合格，签发产品合格证后方可出厂。 6.1.2出厂检验项目见表3。

2.1有下列情况之一者，应对探买进行型式检验： 一新产品或老产品转厂生产的型式鉴定； 一正式生产后，如结构、材料、工艺有较大的改变，可能影响产品性能时； 正式生产时，每年进行一次检验； 产品长期停产后，恢复生产时； 一出厂检验结果与上次型式检验结果有较大差异时。 .2型式检验项目见表3

表3出厂检验及型式检验项目

7标识、包装、运输和购存

7标识、包装、运输和购存

每台探头应在机壳上明显位置固定标牌，其内容包括下列各项： a）规格、型号： b）主要技术参数； c）制造日期或编号； d）制造者名称或标志； e）执行标准编号。

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7.2.3包装箱内应附有下列文件：

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附录A （规范性附录） 分辨率专用试块

A.1.1材料牌号：2系铝合金（淬火+固熔时效） A.1.2规格如图A.1所示。

.1材料牌号：2系铝合金（淬火+固熔时效）。 1.2规格如图A.1所示。

A.2.1人工缺陷为线切割刻槽

缺陷的尺寸（长、宽、深）位置如图A.1所示。

A.2.2人工缺陷的尺寸（长、宽、深）位置如

附录A （规范性附录） 分辨率专用试块

注：六个槽深度相等，均为0.5mm

图A.1分辨力检测专用试块

暖通空调设计、计算附录B （规范性附录） 灵敏度检测专用试块

B.1.1专用试块材料：2系铝合金（淬火十固熔时效） B.1.2规格如图B.1所示。

B.2.1人工缺陷为线切割刻槽。 B.2.2人工缺陷的尺寸（长、宽、深）位置如图B.1所示。

B.2.1人工缺陷为线切割刻槽。

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附录B （规范性附录） 灵敏度检测专用试块

石化标准图B.1灵敏度检测专用试块

打印日期：2013年3月1日F007

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