GB／T 41655-2022  无损检测 超声检测 焊接、轧制和爆炸复合覆层检测技术

一检测对象表面曲率半径，单位为毫米（mm）； 一平底探头在曲率方向接触表面的尺寸，单位为毫米（mm）。柱状零件轴向检测时，A,.表未 探头宽度方向接触面尺寸；周向检测时，A，表示探头长度方向接触面尺寸。

应配置可调节时基线的设备（“缩放模式”）

入深度范围适宜性评价，

为实现不连续的准确定位，使用双晶探头在参考试块上调节超声检测仪范围设置，见图1或图

数据标准GB/T 416552022

试块材质与检测对象材质的声学性能相近，也可直接在检测对象上设置。 双晶直探头置于阶梯试块的各阶梯面。通过调节零点位移和扫描（速度），使相关回波波前设置在 屏幕合适标记位置处。当双晶斜探头在图2所示的参考试块时，投影距离（探头前沿与反射点在检测面 上的投影之间的距离）应与屏幕合适标记位置处相对应。按此方式，在屏幕上直接读出反射点的位 置，即投影距离以及深度位置。 注1：根据不连续深度位置（通常与覆层厚度一致）在屏幕上标记所有可被检测到的不连续范围。 当使用直探头时，超声检测仪范围可使用已知厚度和声速的平行平面钢板的多次反射回波进行设 置（例如，GB/T19799.1规定的1号试块或其等效的试块）。 注2：当使用纵波双晶斜探头时，横波声速低于纵波声速，因此同步激发横波。检测时，确保设置范围内没有横波干 扰引起的错误显示。

标引序号说明： —探头； 2 焦区长度； 3 焦距； X—反射体深度； Y—回波高度。

（晶斜探头焦区长度测定

对于灵敏度设置，宜根据预期检出的不连续类型选择参考反射体（形状和尺寸）。 应选用与检测对象具有相同或相近复合工艺的参考试块调节灵敏度。参考试块覆层厚度、表面状 态和形状应与受检件相同（见第5章）。若探头与检测对象检测面进行曲面匹配，参考试块应有与探头 相匹配的曲面状态，见4.2.5。 对于检测体积型不连续，反射体为横孔，例如可使用位于母材靠近界面位置，规格为3mm× 30mm的横孔（见图3）。 对于熔化焊连接的覆层，一个横孔应垂直于焊缝方向，另一个横孔应平行于焊缝方向。对于两层或

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多层熔化焊连接的覆层，应在每个覆层上加工相应的横孔。 对于检测平行于检测面的不连续，当使用（单晶或双晶）直探头时，宜使用平底孔设置灵敏度。 对于垂直于检测面的平面型不连续，宜使用斜探头在反射体槽上设置灵敏度。 图3所示的位置1、位置2和位置3，表示使用超声检测仪设置检测灵敏度时参考反射体回波的产 生方式。回波幅度宜调节到满屏的80%。 当使用直探头时，应使用厚度不小于检测对象的参考试块。如果参考试块与检测对象厚度不同，则 可进行相应的灵敏度补偿。 记录位置1（双晶直探头）、位置2（双晶斜探头）以及位置3（直探头）处回波幅度达到满屏高度80% 时的增益。 所有探头测定噪声幅度时，应在检测对象表面有代表性的区域移动。在探头连续移动过程中，应调 节检测设备增益，使该区域的最高噪声幅度达到满屏的80%（噪声来源于材料组织结构、接触面的粗糙 度和不平度的差异）。 回波高度与噪声回波高度增益差值应至少为6dB。如有必要，宜对检测表面进行机械加工或更换 其他满足此条件的探头。

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图3带覆层参考试块灵敏度设置

若规定应检出制造过程中某个特殊阶段产生的不连续，则应在该阶段完成后再进行检测

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检测前应确定检测区域的大小。 在检测区域内宜做好检测表面的检测准备，以便探头和工件耦合良好。表面状况应满足4.4.2规 定的信噪比要求。

选择检测技术（探头、耦合区域和探头扫查方法）时，应根据覆层类型，考虑可能存在的典型不连续 类型和方向。

公园标准规范范本6.2探头扫查及移动方式

多动双晶具探实日 当探头进行平行扫查移动时， 3所示的参考反射体的一6dB声束宽 度，对于直探头，扫查宽度为探头半径 担查宽度为10mm或焦区宽度的较小值。

6.3超声检测仪设置的核查

超声检测仪的设置在检测时应定期核查，每工作4h至少核查一次。 如果核查时发现偏差，应按表1进行修正，

表1灵敏度和范围核查

除非交付或验收条件对记录等级有明确 录等级。 垂直于表面方向不连续的记录

3）检测仪器； 4）探头； 5） 仪器增益； 参考试块； 7） 检测对象（复合类型、母材和覆层材料）； 8 检测类型（检测部位）； 检测表面状态； 10） 检测范围； 11） 基准灵敏度（参考反射体/dB值），检测中使用参考反射体回波高度为80%屏高时的灵 敏度；用来产生参考反射回波的屏幕高度的80%和检测中使用的记录灵敏度的显示； 12）信噪比（回波高度与应记录的噪声水平之间的差异，以dB为单位）。 被检测的不连续的信息： 1）检测对象的不连续位置，用坐标（纵/横）记录； 2）不连续的深度和回波高度（基准灵敏度士dB）； 3）一6dB法测量的不连续长度和宽度； 4）在检测过程中不可避免的典型显示。（例如由表面状况或检测对象工艺结构或尺寸引起）

路基标准规范范本GB/T 41655—2022

若探头制造商未给出探头最佳检测灵敏度的深度范围（即焦区），则可通过含有平底孔的参考试块 确定双晶直探头的焦区，具体可按4.4.1规定的不连续定位方法确定。 探头和推荐的平面参考试块见图1。绘制不同深度平底孔的回波幅度，可确定焦距和焦区。在深 度方向上平底孔最高回波幅度下降6dB的两点之间的距离，即为焦区。若制造商未给出双晶斜探头的 焦区，则可使用图2规定的参考试块。试块横孔平行于探测面且垂直探头声束轴线，不同深度的横孔回 波可用于确定焦距和焦区。 若已知焦区的探头曲率与检测对象表面曲率相匹配，则图1和图2的参考试块表面也应与探头曲 率匹配。