GB／T39867-2021 正电子发射断层扫描仪用锗酸铋闪烁晶体

项或一项以上不合格，则型式 验不合格。

7.3.1检验项目分组

出厂检验分A组和B组两组，详见表1

出厂检验分A组和B组两组，详见表1

A组检验项目一律全检LYT标准规范范本，符合5.1的要求，不合格

7.3.3.1抽检要求

3组检验是在A组检验的基础上实施抽检或者根据客户的要求进

在外观质量检验合格的晶体中，同一时段，采用同一原料来源、同一生产线、相同工艺连续生产的晶

7.3.3.4合格判定

检测样品的性能指标应符合表1的规定，若有一项指标不合格，则应进行加倍抽样；若仍有一项或 项以上指标未符合规定要求，则判定该批产品不合格

3标识、包装、运输和储存

在产品上应该有明确标识，合格的产品应有铭牌

包装应采用不损伤产品的包装方式，表面应无破损，包装结构率固无变形；并有防震、防碎、防潮措 施。发货运输时，应有外包装箱。 有特殊包装要求的，应按使用方和供应方之间的协议规定

包装应采用不损伤产品的包装方式，表面应无破损，包装结构率固无变形；并有防震、防碎、防潮措 施。发货运输时，应有外包装箱。 有特殊包装要求的应按使用方和供应方之间的协议规定

产品在运输过程中应小心轻放，禁止挤压和碰撞。

产品应储存在避光、常温、干燥的房间内

光学透过率、光学透过率不均匀性的检测方法

在相同测量条件下的同次测量中，同一晶体上所有取样位置处的光学透过率最大值； Tmin 在相同测量条件下的同次测量中，同一晶体上所有取样位置处的光学透过率最小值； Ta 在相同测量条件下的同次测量中，同一晶体上所有取样位置处的光学透过率算术平均值

紫外分光光度计（200nm~1000nm）

测试室应具有适当的避光条件，室内温度为25℃士

按照B.1参比样品的相同规格加工检测样品

按照B.1参比样品的相同规格加工检测样品

A.4.2光学透过率不均匀性

检测样品准备主要步骤如下： a）在外观质量检验合格的产品上，晶体的两端和中间截取大于40mm×40mmX30mm的晶 块，依次编号（例如：S，S2，Ss...S,），样品数量不少于3只； b）按B.1中参比样品的要求加工成检测样品，待测。

主要步骤如下： a）接通电源，打开仪器开关，预热10min；

主要步骤如下： a）接通电源，打开仪器开关，预热10min

b）将测量模式设为测定光学透过率，且根据需要设定波长测量范围； 调整光路以确保光全部进入积分球内； d）自动调零后，在设定的波长范围内进行扫描： e）用分析纯乙醇和无纺布将加工好的样品表面擦拭干净： f）打开样品室，放人待测样品，以其40mm×40mm面垂直对准光路，关闭样品室后开始测量 g）读取测得的样品的光学透过率T； 更换下一个样品，重复A.5f)、g)中的方法，检测并记录所有样品480nm处的光学透过率T 记为T；

b）将测量模式设为测定光学透过率，且根据需要设定波长测量范围； 调整光路以确保光全部进入积分球内； ）自动调零后，在设定的波长范围内进行扫描； e）用分析纯乙醇和无纺布将加工好的样品表面擦拭干净： f）打开样品室，放人待测样品，以其40mm×40mm面垂直对准光路，关闭样品室后开始测量； g）读取测得的样品的光学透过率T； 1 更换下一个样品，重复A.5f)、g)中的方法，检测并记录所有样品480nm处的光学透过率T 记为T：

计算过程如下： a）从T,,T2,T3...T,中找到最大值Tmx; b）从T,,T2,T...T,中找到最小值Tmin c） 按照式（A.2)计算T，的算术平均值Tave； d 将最大值Tmax、最小值Tma和算术平均值Taw带入到式（A.1)中，计算其光学透过率不均匀 性TNU

式中： T：—第i个检测样品在480nm处的光学透过率； 一检测样品的数量

式中： T：——第i个检测样品在480nm处的光学透过率 检测样品的数量

从批量锗酸铋闪烁晶体中，挑选出外观质量合格的晶体，并按以下步骤制作加工参比样品： a 在外观质量检验合格的产品上截取大于40mmX40mmX30mm的晶块； b） 将晶块置于烘箱中退火（2h从室温升至200℃士5℃，保温4h后自然降至室温）； C 取出后，将每只晶块的两个40mmX40mm的面抛光，其余面磨砂，抛光面的粗糙度Ra≤ 0.05μm，加工成40mm×40mm×30mm的样品，尺寸公差为±0.04mm； d 退火后的样品应避光加工和存放，避免紫外光和其他高能粒子的照射

参比样品应满足表B.1中的性能指标。

表B.1锗酸铋闪烁晶体参比样品的性能指标

（规范性附录） 辐照损伤的检测方法

晶体在长期接受大剂量射线（X或射线等)辐射后会产生辐照损伤，导致晶体的透过率和光输出 降低。本标准中，辐照损伤RD采用辐照前后光输出的下降程度来表征，表达式如式(C.1)所示：

辐照前，检测样品的脉冲幅度，单位为道（channel)； 辐照后，在相同的测量条件下，检测样品的脉冲幅度，单位道（channel)

见GB/T13182—2007中6.1中的规定。

室内温度为19℃±1℃，其他参照GB/T13181—2002中的4.1的要

主要步骤如下： a）辐照前，按照GB/T13181一2002中第5章的规定检测样品的脉冲幅度P； b）将检测样品经500radCo射线源的剂量照射，辐照后避光保存12h以上； C）在相同的检测条件下.以相同的方法检测辐照后样品的脉冲幅度卫。

光输出不均匀性是沿晶体的某个方向，不同位置处光输出的差异照明设计标准，用LNU来表示，表达式如式（D.1） 所示：

Pmax 在相同测量条件下的同次测量中，同一晶体上所有取样位置处的脉冲幅度最大值，单位为 道(channel); Pmin 在相同测量条件下的同次测量中，同一晶体上所有取样位置处的脉冲幅度最小值，单位为 道(channel); 在相同测量条件下的同次测量中，同一晶体上所有取样位置处的脉冲幅度算术平均值，单 位为道(channel)。

见GB/T13182—2007中6.1中的规定。

度为19℃土1℃，其他参照GB/T13181一2002中白

主要步骤如下： a）按照B.1中的规定加工检测样品； b）按照GB/T13182一2007中6.4.1中的规定进行检测； c）记录检测样品的脉冲幅度P； d）更换下一个样品.重复h)c)中的方法，检测并记录所有样品的脉冲幅度P.记为P

主要步骤如下： a）按照B.1中的规定加工检测样品； b）按照GB/T13182—2007中6.4.1中的规定进行检测； 记录检测样品的脉冲幅度P； d）更换下一个样品，重复b、c)中的方法，检测并记录所有样品的脉冲幅度P.记为P，

参数计算过程如下： a）从P,P2,P...P,中找到最大值Pmax; b）从P,,P2,Ps....P,中找到最小值Pmin; c）按照式(D.2)计算P建筑工程标准规范范本，的算术平均值Pae; d）将最大值Pmax、最小值Pmin和算术平均值Pae带人到式（D.1)中，计算其光学输出不均匀

参数计算过程如下： b）从P，,P.,P3..P,中找到最小值Pmin; c）按照式(D.2)计算P，的算术平均值Pawe; d）将最大值Pmax、最小值Pmin和算术平均值Pae带人到式（D.1)中，计算其光学输出不均

式中： P；—第i个检测样品脉冲幅度，单位为道(channel)； 检测样品的数量