本试验条件用于施加弯曲应力来测定引线、密封和引线涂层的牢固性。本试验是为了检查器件的 引线、引线镀涂、引线焊接和密封承受施加于引线和密封上的弯曲应力的能力。这些应力在器件的实际 使用和组装过程中，是完全可能出现的

每条受试引线应受到规定的足以使 量的引线或全部引线可以同时 弯曲。排列成行的引线可一次弯曲一行。每条引线应按下述循环进行弯曲：即在一个方向上弯曲成规 定的弧形，再恢复到原来位置。全部弧形应在同一个平面上而又不会限制引线的活动，

5.3. 1 弯曲方向

试验引线应在最易弯曲的方向上弯曲。 弯曲的方向重庆标准规范范本，可在任何方向弯曲。引线弯曲时 不应接触其他引线。如这种接触是不可避免的，试验引线就应朝与规定角度相反的方向弯曲，再恢复到

当通常的直引线（包括双 涂覆后成型的，并且 至少能使引线像规定的弯曲那 为可接收的预处理。

5.3.3.1易弯曲引线

如果引线的截面模量在最易弯曲的方向上小于或等于截面为0.15mm×0.5mm的矩形引线的截 面模量，这样的引线应视为易弯曲的。直径小于或等于0.5mm的圆引线也应视作易弯曲的。除另有 规定外，易弯曲的引线应弯成弧形，在引线离封接部位3mm士0.5mm处的弯曲角度至少应为45°（见 图1）

5.3.3.2半易弯曲引线

如果引线的截面模量在最易弯曲的方向上大于截面为0.15mm×0.5mm的矩形引线的截面模量， 这样的引线应视为半易弯曲引线。半易弯曲引线在插装或其他应用时，可能要被弯曲。直径大于 0.5mm的圆引线，也应视为半易弯曲引线。除另有规定外，半易弯曲引线应弯曲成弧形，在引线末端的 弯曲角度至少为30（见图2）。

5.3.4双列直插封装引线的试验程序

图2半易弯曲引线弯曲

双列直插封装引线具有一个以上的截面模量，插装时其引线通常并行排列而与封装底部成90°角。 双列直插封装引线应向内弯曲成一个角度，这个角度应足以使引线保持至少15°的永久弯曲（即去掉应 力后）。应从引线末端到第一弯曲处来测量弯曲角度。对于肩部受限的封装[见图3a)外形1、图3b） 外形2和图3c)外形3]，应从安装平面到引线末端测量弯曲角度。在初始弯曲结束后，应使引线恢复 到接近原来的位置。

5.3.5翼型引线小外形封装（SOP）和方形扁平封装（QFP）的试验程序

小外形封装，如图3d)外形4所示，引线应先向外弯曲15°，再向内弯曲30°，然后恢复到原 （见图4）

5.3.6“J”型引线的SOP封装及“J”型引线的片式载体封装（LCC)的试验程序

5.3.6.1引线选取

图4SOP和QFP引线弯曲

受试引线应从试验样品上随机选取，如图3e)外形5所示。受试引线应从两相邻侧边引线中 取。一次只能准备和测试一排引线

5.3.6.2引线拉直

引线拉直操作如下： a）使用与图6等效的固定装置安装器件； b）使用合适的镊子拉直肩部下方和过渡区域的引线（见图5）； c）拉直SOP和LCC封装引线的"J”型弯曲部位，使其与引线最宽方向近似垂直； d）操作中，应避免给引线引入损伤，如裂口、扭曲或深的划痕。

5.3.6.3引线检查

图6J型引线外形拉直和弯曲引线固定夹具

引线拉直前后，应放大10倍～20倍观察每一个引线。拉直过程中受损的任何引线都不进行试

5.3.6.4器件的安装

使用必要的装置，将器件安装在引线弯曲试验固定装置中，受试引线指向正下方，即与封装底部 成90°

5.3.6.5试验步骤1

除了弯曲方向从封装向外之外，试验程序与5.3.4一致（见图6）

5.3.6.6试验步骤2

选取未经试验的引线，在拉直的引线支架（颈状）部位施加4.5N士0.2N（450g士20g）的力。操作 中，应避免扭伤或弯曲受试引线或邻近引线。将封装体旋转30°，然后恢复到原来的位置。这一循环应 在2 s~5s内完成。对封装体旋转是为了避免施加应力的摇摆和扭转运动。

应按规定进行密封试验（气密封装器件）、外观检查和电性能测试。

去掉应力后，放大10倍～20倍观察样品。在引出端与样品本体之间的断裂、松动或相对移动都应 视作失效。如有规定，在试验后的测试失效也应视作失效。

LCC和SOP封装的引线弯曲，对5.3.6.5规定的试验，失效判据适用于整个引线；而对5.3.6.6规 定的试验，只限于最宽肩部区适用

相关文件应规定以下内容： a）弯曲弧度，如与规定不同时； b）失效判据，如与规定不同时

相关文件应规定以下内容： a）弯曲弧度，如与规定不同时； b）失效判据,如与规定不同时。

6试验条件C—引线疲劳

本试验条件用于多次施加弯曲应力，主要用来测定引线在多次弯曲时的抗金属疲劳能力。本试验 是为了检查引线抗金属疲劳的能力而设计的。如无明确要求，本试验不适用于表面安装器件（SMD） 本试验仅适用于需要引线成型的封装。

为了按规定的角度重复施加弯曲应力，应配有适当的固定装置、夹钳、支架或其他适当的器具

对试验样品应采用适当的程序。除另有规定外，应进行3个循环的弯曲试验，

试验引线应向最易弯曲方向弯曲。如果没有最易弯曲方向，可以向任意方向弯曲。引线弯曲时不 应接触到其他引线。如这种接触是不可避免的，试验引线就应朝与规定角度相反的方向弯曲，再恢复到 其原来的位置。

6.3.2易弯曲和半易弯曲引线的试验程序（例如：扁平外壳和轴向引线金属圆形外壳）

除另有规定外，应把2.2N士0.1N(220g士10g）的力施加到受试的每条引线上，使封装体作三次 90°士5°的弧形弯曲。对于截面模量小于或等于截面积为0.15mm×0.5mm的矩形引线或直径小于0. 5mm的圆引线的截面模量的引线，所加的重量应是0.85N士0.1N(85g士10g）。弧形定义为，在无扭 矩的情况下，外壳相对于垂直于拉力轴的位置运动且恢复到正常位置的过程中形成的曲线。对一根引 线的各次弯曲应在同一个方向、同一个平面上，而又不妨碍引线的弯曲。一个弯曲过程应在2s～5s内 完成。对矩形或带状引线的器件而言，弧形平面应垂直于引线所在的平面。本试验不适用于试验时在 引线密封处主要产生扭转力的外壳边上的引线。

3.3双列直插封装试验

直插封装应依据5.3.4进行三个循环试验。

6.3.4小外形封装(SOP)试验程序

外形封装（SOP）应依据5.3.5进行三个循环试验

6.3.5有引线片式载体（LCC)封装

依据5.3.6.1～5.3.6.4进行引线处理。除了循环次数为三次以外，应依据5.3.6.5和5.3.6.6进

[6.3.7 失效判据

去掉应力后，放大10倍～20倍观察样品。在引出端与样品本体之间的断裂、松动或相对移动都 失效。仅对LCC封装弯曲来说，对5.3.6.5规定的试验，失效判据适用于整个引线，而对5.3.6.6 试验，只限于引线最宽部位适用。

相关文件应规定以下内容： a）施加于引线的力，如与6.3.2的规定不同时； b) 循环次数，如与6.3的规定不同时； c）弯曲角度，如与6.3.2的规定不同时； d）失效判据，如与6.3.7的规定不同时。

相关文件应规定以下内容： a）施加于引线的力，如与6.3.2的规定不同时； b） 循环次数，如与6.3的规定不同时； c）弯曲角度，如与6.3.2的规定不同时； d）失效判据，如与6.3.7的规定不同时

相关文件应规定以下内容： a）施加于引线的力，如与6.3.2的规定不同时； b）循环次数，如与6.3的规定不同时； c）弯曲角度，如与6.3.2的规定不同时； d）失效判据，如与6.3.7的规定不同时

本试验条件用于对引线施加应力，来测定密封和引线抗扭能力。本试验用于检查器件引线和密封 抗扭能力。

扭矩试验需要适当的夹钳、夹具和扭矩扳手或其他能施加力而又不妨碍引线活动

7.3.1具有圆形截面引出端或引线的器件的证

使用合适的夹具对器件本体 线末端无冲击地施加规 施加到引线或引出端与外壳之间

7.3.1.1超高频（UHF）和微波二极管

持至少15s。施加扭矩应沿着容易造成引出端松动的方向。器件在夹具上的固定方法应遵照 方的建议。

7.3.2具有矩形截面引线的器件试验程序

对器件本体作刚性固定，除另有规定外，在离器件本体3mm士0.5mm处，或在引线末端处（当引 线长不到3mm时），对引线施加0.02N·m士0.002N·m的扭矩。以引线的轴线为轴，顺时针方向和 逆时针方向各施加一次扭矩。如引线在靠近器件本体处作了成型处理，则在离成型部位3mm士 0.5mm处施加扭矩。对于施加的扭矩小于规定值就明显扭转的器件引线，应继续扭转，直至扭转角达 到30°士10°或达到了规定扭矩，取两者中首先出现的条件。然后应使引线恢复到原来的位置。

应按规定进行密封试验（气密封装器件）、外观检查和电性能测试

相关文件应规定以下内容： a）施加到圆形截面引线的扭矩（见7.3.1）； b）对圆形截面引线施加扭矩的持续时间，如不是15s（见7.3.1)； c）施加到矩形截面引线的扭矩，如不是0.02N·m士0.002N·m（见7.3.2）； d）电性能测试； e）失效判据。

地铁标准规范范本8试验条件E—螺栓扭矩

本试验条件适用于带有 挤压器件产生的应力。本试验是为了检查 纹的螺栓型器件对在 抵抗能力

利用器件本体或凸缘处夹好器件，再把一个厚度等于试验螺栓的六个螺距的平型钢垫圈和另 母，按顺序装在螺栓上，所有部分都要清洗和干燥。然后无冲击地在规定的时间把规定扭矩施加 上。而后将螺母和垫圈从器件上拆下，检查器件是否符合要求。

相关规定进行密封试验（气密封装器件）、外观检

按照相关文件的规定，如果 情况铁路工程施工组织设计，判定器件失效。如果出现非安装或， 减损伤，判为器件失效

相关文件应规定以下内容： 施加的扭矩大小（见8.3）； b）施加扭矩的时间（见8.3）； c）试验后应进行的测量，如与8.3.1的规定不同时； d）失效判据，如与8.3.2的规定不同时。